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PIR触发时间测试设备和PIR触发时间测试系统技术方案

技术编号:40420662 阅读:6 留言:0更新日期:2024-02-20 22:39
本发明专利技术公开一种PIR触发时间测试设备和PIR触发时间测试系统,涉及PIR测试技术领域。其中,PIR触发时间测试装置包括壳体、热源装置和时间显示装置。壳体的内部设有容置腔,壳体的第一表面上开设有用于连通容置腔和外部空间的窗口。热源装置安装在容置腔的内部,热源装置包括热源组件和升降机构,热源组件和升降机构连接,升降机构和壳体进行连接;其中,升降机构用于调节热源组件的高度,热源组件用于通过所述窗口向外部空间辐射预设波长的红外线;安装在第一表面上的时间显示装置用于显示时间并供外部相机拍摄到。该PIR触发时间测试设备能让测试员更加快速地测试安装在不同高度相机内的PIR的触发时间,减小测量误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及pir测试,特别涉及一种pir触发时间测试设备和pir触发时间测试系统。


技术介绍

1、热释电红外传感器又称被动红外传感器(passive infra-red sensor,pirsensor),通过利用热释电效应来检测人或某些动物发射的红外线并转换成电信号输出。热释电效应是指极化强度随温度改变而表现出的电荷释放现象,宏观上是温度的改变使在材料的两端出现电压或产生电流。当一些晶体受热时,在晶体两端将会产生数量相等而符号相反的电荷。这种由于热变化而产生的电极化现象称为热释电效应。

2、安装有pir传感器的相机大部分时间处于休眠状态,当有人或动物经过时,相机中的pir传感器感应到温差变化后唤醒相机工作。pir触发相机拍照的时间是影响相机拍摄性能的关键因素之一,常利用相机的拍摄功能来检测pir的触发时间。pir触发时间越短,相机捕捉拍摄到经过相机的人或动物的速度越快;因此需要对pir传感器的触发时间进行检测,以便以此为参考进一步提高相机的拍摄性能。现有的对pir传感器进行触发时间测试的设备发热源体积小、发热窗区域小,而且通常固定在一个位置上;对于各种不同的外观和高度的装有pir传感器的相机来说,相机内的pir传感器容易对不准发热源小窗口,导致测试员测试不便捷,测试误差较大。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的是提出一种pir触发时间测试设备和pir触发时间测试系统,旨在解决测试员使用现有的测试装置测试pir触发时间时测试不便捷、测试误差较大的问题。

<p>2、为实现上述目的,本专利技术提出的pir触发时间测试设备包括壳体,所述壳体内部设有容置腔,所述壳体的第一表面上开设有窗口;所述窗口用于连通所述容置腔和外部空间;

3、热源装置,所述热源装置安装在所述容置腔内部,所述热源装置包括热源组件和升降机构,所述热源组件和所述升降机构连接,所述升降机构和所述壳体连接,所述升降机构用于调节所述热源组件的高度,所述热源组件用于通过所述窗口向外部空间辐射预设波长的红外线;以及

4、时间显示装置,所述时间显示装置安装在所述第一表面上,所述时间显示装置用于显示时间并供外部相机拍摄到。

5、可选地,所述时间显示装置与所述升降机构电性连接;在所述升降机构将所述热源组件调节至所需高度时,所述时间显示装置开始计时。

6、可选地,所述pir触发时间测试设备还包括隔热装置,所述隔热装置可相对所述窗口移动,以覆盖所述窗口的部分面积或所述窗口的全部面积,所述隔热装置用于减少所述热源组件辐射的红外线散发到壳体外部。

7、可选地,所述隔热装置包括隔热板和高度调节组件,所述隔热板和所述高度调节组件连接;所述高度调节组件用于调节所述隔热板的高度,以控制所述隔热板下端面的高度高于外部相机的高度。

8、可选地,所述隔热装置包括滑块,所述隔热板的侧表面和所述滑块连接,所述窗口的侧壁开设有导槽,所述导槽沿竖直方向延伸,所述滑块与所述导槽滑动连接;

9、所述高度调节组件包括齿轮和驱动机构,所述齿轮安装在所述壳体上,所述隔热板靠近所述热源装置的外表面上设有齿带,所述齿带沿竖直方向延伸,所述齿轮和所述齿带啮合;所述驱动机构用于驱使所述齿轮转动。

10、可选地,所述隔热板的高度大于等于所述窗口的高度,所述窗口的高度大于等于所述热源装置的高度;

11、所述隔热板的宽度大于等于所述窗口的宽度,所述窗口的宽度大于等于所述热源装置的宽度。

12、可选地,所述第一表面上设有刻度线,所述刻度线沿竖直方向分布,所述刻度线分别用于测量所述隔热装置的下端面的高度和外部相机上端面的高度。

13、可选地,所述热源组件投影在竖直平面上的面积大于等于外部pir组件投影在竖直平面上的面积。

14、可选地,所述pir触发时间测试设备包括测温模块与温度显示模块,所述测温模块与所述温度显示模块电性连接;所述测温模块用于测量所述热源组件辐射至壳体内部的温度,所述温度显示模块用于将所述测温模块的测量所得到的温度用数值显示出来。

15、本专利技术还提出一种pir触发时间测试系统,包括电源设备上述pir触发时间测试设备,所述电源设备与所述pir触发时间测试设备连接,所述电源设备用于给所述pir触发时间测试设备提供电力。

16、本专利技术的技术方案中,pir触发时间测试设备包括壳体、热源装置和时间显示装置。壳体的内部设有容置腔,壳体的第一表面上开设有用于连通容置腔和外部空间的窗口。热源装置安装在容置腔的内部,热源装置包括热源组件和升降机构,热源组件和升降机构连接,升降机构和壳体进行连接;其中,升降机构用于调节热源组件的高度,热源组件用于通过所述窗口向外部空间辐射预设波长的红外线;安装在第一表面上的时间显示装置用于显示时间并供外部相机拍摄到。该pir触发时间测试设备在使用过程中,先将安装有pir传感器的相机与该装置的高度进行对比,然后根据pir相机的高度通过升降机构将升温到预设波长的红外线的热源组件调整至相应高度,相机中的pir传感器感应到温差变化后唤醒相机进行抓拍;同时,时间显示装置开始计时,相机所拍下的图片上的时间显示装置上显示的时间即为pir的触发时间。该pir触发时间测试设备能让测试员更加快速地测试安装在不同高度相机内的pir的触发时间,减小测量误差。

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【技术保护点】

1.一种PIR触发时间测试设备,其特征在于,包括

2.如权利要求1所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述时间显示装置与所述升降机构电性连接;在所述升降机构将所述热源组件调节至所需高度时,所述时间显示装置开始计时。

3.如权利要求1所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述PIR触发时间测试设备还包括隔热装置,所述隔热装置可相对所述窗口移动,以覆盖所述窗口的部分面积或所述窗口的全部面积,所述隔热装置用于减少所述热源组件辐射的红外线散发到壳体外部。

4.如权利要求3所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述隔热装置包括隔热板和高度调节组件,所述隔热板和所述高度调节组件连接;所述高度调节组件用于调节所述隔热板的高度,以控制所述隔热板下端面的高度高于外部相机的高度。

5.如权利要求4所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述隔热装置包括滑块,所述隔热板的侧表面和所述滑块连接,所述窗口的侧壁开设有导槽,所述导槽沿竖直方向延伸,所述滑块与所述导槽滑动连接;

6.如权利要求5所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述隔热板的高度大于等于所述窗口的高度,所述窗口的高度大于等于所述热源装置的高度;

7.如权利要求3所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述第一表面上设有刻度线,所述刻度线沿竖直方向分布,所述刻度线分别用于测量所述隔热装置的下端面的高度和外部相机上端面的高度。

8.如权利要求1所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述热源组件投影在竖直平面上的面积大于等于外部PIR组件投影在竖直平面上的面积。

9.如权利要求1所述的PIR触发时间测试设备,其特征在于,所述PIR触发时间测试设备包括测温模块与温度显示模块,所述测温模块与所述温度显示模块电性连接;所述测温模块用于测量所述热源组件辐射至壳体内部的温度,所述温度显示模块用于将所述测温模块的测量所得到的温度用数值显示出来。

10.一种PIR触发时间测试系统,其特征在于,包括电源设备和如权利要求1至9任意一项所述的PIR触发时间测试设备,所述电源设备与所述PIR触发时间测试设备连接,所述电源设备用于给所述PIR触发时间测试设备提供电力。

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【技术特征摘要】

1.一种pir触发时间测试设备,其特征在于,包括

2.如权利要求1所述的pir触发时间测试设备,其特征在于,所述时间显示装置与所述升降机构电性连接;在所述升降机构将所述热源组件调节至所需高度时,所述时间显示装置开始计时。

3.如权利要求1所述的pir触发时间测试设备,其特征在于,所述pir触发时间测试设备还包括隔热装置,所述隔热装置可相对所述窗口移动,以覆盖所述窗口的部分面积或所述窗口的全部面积,所述隔热装置用于减少所述热源组件辐射的红外线散发到壳体外部。

4.如权利要求3所述的pir触发时间测试设备,其特征在于,所述隔热装置包括隔热板和高度调节组件,所述隔热板和所述高度调节组件连接;所述高度调节组件用于调节所述隔热板的高度,以控制所述隔热板下端面的高度高于外部相机的高度。

5.如权利要求4所述的pir触发时间测试设备,其特征在于,所述隔热装置包括滑块,所述隔热板的侧表面和所述滑块连接,所述窗口的侧壁开设有导槽,所述导槽沿竖直方向延伸,所述滑块与所述导槽滑动连接;

6.如权利要求5所述的pir触发时...

【专利技术属性】
技术研发人员:阳乐琴禹孟初
申请(专利权)人:深圳市龙之源科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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