【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电路领域，具体涉及一种电源系统及电压校准方法。
技术介绍
1、目前针对eeprom，nor flash等宽压工作的芯片或其他待检测设备，在对其进行设计验证及成品测试时，都需要对其全电压范围进行测试，所以要求芯片测试系统的供电电压全电压范围内可调。但是现有技术中，输入到芯片或其他待检测设备的电压是经过可调电阻(或滑动变阻器)和其他电阻串联，并经过分压后才输入芯片或其他待检测设备，调整电压需要手动调节可调电阻的阻值，电压精度无法精准控制、无法实现测试全自动化、电压范围受到分压电路限制。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中，调整电压需要手动调节可调电阻的阻值，电压精度无法精准控制、无法实现测试全自动化、电压范围收到分压电路限制的缺陷，提供一种电源系统及电压校准方法。
2、本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
3、本专利技术提供一种电源系统，所述电源系统包括电压可调电路，所述电压可调电路包括数模转换模块以及运算放大器；
4、所述数模转换模块的一端与所述运算放大器的同相输入端电连接；
5、所述运算放大器的正电源端与外部电源电连接，所述运算放大器的负电源端接地；
6、所述运算放大器的反相输入端与所述运算放大器的输出端电连接，所述运算放大器的输出端与待测试设备电连接；
7、所述数模转换模块用于将第一测试电压输入至所述运算放大器；
8、所述运算放大器用于将所述
9、可选地，所述电压可调电路还包括第一电阻以及第二电阻；
10、所述第一电阻的一端与所述运算放大器的反相输入端电连接，所述第一电阻的另一端与所述运算放大器的负电源端电连接；
11、所述第二电阻的一端与所述运算放大器的反相输入端电连接，所述第二电阻的另一端与所述运算放大器的输出端电连接；
12、所述第一电阻以及所述第二电阻均用于确定预设放大倍数；
13、所述运算放大器具体用于按照所述预设放大倍数将所述第一测试电压放大为第二测试电压，并输入至所述待测试设备。
14、可选地，所述电源系统还包括控制模块；
15、所述控制模块的输入端与所述待测试设备通信连接，所述控制模块的输出端与所述数模转换模块的另一端通信连接；
16、所述控制模块用于获取所述待测试设备的测试电压范围，并根据所述测试电压范围以及所述预设放大倍数确定所述数模转换模块所输出的第一测试电压的范围；
17、所述运算放大器用于按照所述预设放大倍数将所述第一测试电压放大为符合所述测试电压范围的第二测试电压。
18、可选地，所述电压可调电路还包括第三电阻；
19、所述第三电阻的一端与所述数模转换模块的一端电连接，所述第三电阻的另一端与所述运算放大器的同相输入端电连接；
20、可选地，所述电压可调电路还包括第四电阻；
21、所述第四电阻的一端和所述数模转换模块的一端电连接，所述第四电阻的另一端接地。
22、可选地，所述电压可调电路包括第一电容；
23、所述第一电容的一端与所述运算放大器的正电源端电连接，所述第一电容的另一端接地；
24、所述第一电容用于将外部电源所输出的杂波进行滤波；
25、可选地，所述电压可调电路包括第二电容；
26、所述第二电容的一端与所述运算放大器的输出端电连接，所述第二电容的另一端接地；
27、所述第二电容用于将所述待测试设备所输入的第二测试电压中的杂波进行滤波。
28、可选地，所述电压可调电路包括第三电容；
29、所述第三电容的一端与所述运算放大器的输出端电连接，所述第三电容的另一端接地；
30、所述第三电容用于保持所述第二测试电压稳定。
31、作为本专利技术第二方便，本专利技术提供一种电压校准方法，所述电压校准方法运用于如本专利技术第一方面中的电源系统，所述电压校准方法包括：
32、通过所述数模转换模块获取控制模块的电压输出指令，并根据所述电压输出指令将对应的第一测试电压输入至所述运算放大器，以使所述运算放大器将所述第一测试电压放大为第二测试电压，并输入至所述待测试设备。
33、可选地，当所述电源系统包括控制模块时，所述通过所述数模转换模块获取控制模块的电压输出指令的步骤之前，还包括步骤：
34、通过所述控制模块获取所述待测试设备的测试电压范围，并根据所述测试电压范围确定所述数模转换模块输出的第一测试电压的范围，以使所述第二测试电压满足所述测试电压范围。
35、可选地，当所述电源系统包括控制模块时，所述通过所述数模转换模块获取控制模块的电压输出指令的步骤之前，还包括步骤：
36、所述数模转换模块判断所述控制模块对所述数模转换模块发送的外部指令是否为电压修改类型指令；
37、若为电压修改类型指令，则判断所述外部指令的参数是否符合参数要求；
38、若符合所述参数要求，则所述数模转换模块根据所述外部指令将修改所述第一测试电压的电压值；
39、其中，所述参数要求包括所述外部指令的指令头部是否符合预设字节、所述外部指令的指令长度是否符合预设长度、修改后的所述第一测试电压对应的第二测试电压是否属于所述测试电压范围中的至少一种。
40、可选地，当所述电源系统包括控制模块时，所述根据所述电压输出指令将对应的第一测试电压输入至所述运算放大器的步骤，之后还包括：
41、所述控制模块获取所述数模转换模块一端的第一实际测试电压以及所述待测试设备输入的第二实际测试电压，并根据所述第一实际测试电压以及所述第二实际测试电压确定所述数模转换模块的实际放大倍数；
42、所述控制模块根据所述实际放大倍数、所述第二测试电压与所述第二实际测试电压之差，调整所述第一测试电压，以校准所述第二测试电压。
43、在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本专利技术各较佳实例。
44、本专利技术的积极进步效果在于：通过数模转换装置以及运算放大器，就可以无需手动调节可调电阻的阻值、全自动、低成本、宽电压范围对待检测设备输入对应的电压。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电源系统，其特征在于，所述电源系统包括电压可调电路，所述电压可调电路包括数模转换模块以及运算放大器；
2.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路还包括第一电阻以及第二电阻；
3.如权利要求2所述的电源系统，其特征在于，所述电源系统还包括控制模块；
4.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路还包括第三电阻；
5.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路包括第一电容；
6.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路包括第三电容；
7.一种电压校准方法，其特征在于，所述电压校准方法运用于如权利要求1-6中任一项的电源系统，所述电压校准方法包括：
8.如权利要求7所述的电压校准方法，其特征在于，当所述电源系统包括控制模块时，所述通过所述数模转换模块获取控制模块的电压输出指令的步骤之前，还包括步骤：
9.如权利要求7所述的电压校准方法，其特征在于，当所述电源系统包括控制模块时，所述通过所述数模转换模块获取控制模块的电压输出
10.如权利要求7所述的电压校准方法，其特征在于，当所述电源系统包括控制模块时，所述根据所述电压输出指令将对应的第一测试电压输入至所述运算放大器的步骤，之后还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种电源系统，其特征在于，所述电源系统包括电压可调电路，所述电压可调电路包括数模转换模块以及运算放大器；
2.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路还包括第一电阻以及第二电阻；
3.如权利要求2所述的电源系统，其特征在于，所述电源系统还包括控制模块；
4.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路还包括第三电阻；
5.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路包括第一电容；
6.如权利要求1所述的电源系统，其特征在于，所述电压可调电路包括第三电容；
7.一种电压校准方法，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：焦双南，
申请(专利权)人：上海贝岭股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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