System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种软件开发测试质量度量方法和系统技术方案_技高网

一种软件开发测试质量度量方法和系统技术方案

技术编号:40418160 阅读:6 留言:0更新日期:2024-02-20 22:36
本发明专利技术公开了一种软件开发测试质量度量方法和系统,通过对缺陷数据的分析有效的对开发测试质量进行度量。其技术方案为:步骤1:对缺陷数据进行收集并做初步处理;步骤2:将缺陷、人员、部门以及系统信息在内的数据同步到数据分析平台或分析工具进行汇总;步骤3:对缺陷数据进行清洗整理;步骤4:对缺陷数据进行分析;步骤5:对分析后的数据进行度量数据展示。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及软件开发测试领域,具体涉及一种软件开发测试质量度量方法和系统


技术介绍

1、当前,各大it公司内部为了提高对各研发项目的管理控制以及提高软件质量水平,越来越多的关注系统质量度量。系统质量一般由设计、开发、测试、运维等多方面保证,其中开发测试的质量对系统的质量起到了决定性的作用。高质量的开发可以有效的减少系统的缺陷,高质量的测试可以在系统发布上线前发现更多的缺陷,确保不会带病上线,高质量的开发以及高质量的测试二者缺一不可。

2、一般来说,度量可以针对开发测试人员的工作量进行,比如提交代码量,提交代码频率、发现缺陷数量等等。这种度量较为直观,也较为简单,并不能从这些简单的度量中反应开发测试的质量,因此需要更为体系化、科学化的方法对开发测试质量进行有效的度量。度量不是目的,度量的目的主要是为了反映开发测试质量,帮助管理者把控系统质量,帮助开发测试人员改进工作方式方法,从而进一步提高系统质量。

3、对于开发测试来说,缺陷是连接两者的纽带,缺陷的多少不仅可以反映开发的质量,也可以反映出测试的质量。因此,通过对缺陷数据的分析可以有效的对开发测试质量进行度量。


技术实现思路

1、以下给出一个或多个方面的简要概述以提供对这些方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览,并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或多个方面的一些概念以为稍后给出的更加详细的描述之序。

2、本专利技术的目的在于解决上述问题,提供了一种软件开发测试质量度量方法和系统,通过对缺陷数据的分析有效的对开发测试质量进行度量。

3、本专利技术的技术方案为:本专利技术揭示了一种软件开发测试质量度量方法,方法包括:

4、步骤1:对缺陷数据进行收集并做初步处理;

5、步骤2:将缺陷、人员、部门以及系统信息在内的数据同步到数据分析平台或分析工具进行汇总;

6、步骤3:对缺陷数据进行清洗整理;

7、步骤4:对缺陷数据进行分析;

8、步骤5:对分析后的数据进行度量数据展示。

9、根据本专利技术的软件开发测试质量度量方法的一实施例,步骤1进一步包括:

10、通过对接缺陷管理平台对外接口来采集缺陷数据,并将采集到的缺陷数据存入数据库,其中每次采集缺陷数据时先备份历史数据,再将历史数据全部清除,最后将采集到的缺陷数据全量入库保存。

11、根据本专利技术的软件开发测试质量度量方法的一实施例,步骤2进一步包括:

12、通过数据库管理工具或者插件,读取汇总所需数据,用于后续的数据分析,其中所需的数据包括缺陷数据、人员数据、部门数据、系统信息数据,其中人员数据以及部门数据用于确定缺陷归属人员以及部门,用于针对不同的部门进行数据分析,系统信息数据包括系统级别以及系统部门归属在内的信息,以便对不同级别的系统进行分析。

13、根据本专利技术的软件开发测试质量度量方法的一实施例,步骤3进一步包括:

14、过滤掉被否决缺陷、重复缺陷、无法复现缺陷在内的无效缺陷,并区分出线上缺陷以及开发测试缺陷,其中线上缺陷为系统上线后产生的缺陷,开发测试缺陷为开发测试阶段发现的缺陷。

15、根据本专利技术的软件开发测试质量度量方法的一实施例,步骤4中的分析进一步包括整体缺陷分析、缺陷探测率计算、缺陷关闭率计算,其中:

16、整体缺陷分析包括开发测试、线上缺陷数量走势,不同级别缺陷统计,近两年缺陷数据比对,每月缺陷数据汇总;

17、缺陷探测率p的计算公式为:

18、

19、其中d为开发测试缺陷数量,o为线上缺陷数量;

20、缺陷关闭率r的计算公式为:

21、

22、其中c为已关闭的缺陷,u为未关闭的缺陷。

23、根据本专利技术的软件开发测试质量度量方法的一实施例,步骤5进一步包括:

24、基于经步骤4处理后的数据生成报表,然后通过展板进行图表展示,并且根据不同的需求定制不同的展板,并提供对外展示、查询接口,以对不同的用户分配不同的权限,根据用户的权限展示对应的度量结果。

25、本专利技术还揭示了一种软件开发测试质量度量系统,系统包括:

26、数据收集模块,用于对缺陷数据进行收集并做初步处理;

27、数据汇总模块,用于将缺陷、人员、部门以及系统信息在内的数据同步到数据分析平台或分析工具进行汇总;

28、数据清洗模块,用于对缺陷数据进行清洗整理;

29、数据分析模块,用于对缺陷数据进行分析;

30、数据展示模块,用于对分析后的数据进行度量数据展示。

31、根据本专利技术的软件开发测试质量度量系统的一实施例,数据收集模块进一步配置为:

32、通过对接缺陷管理平台对外接口来采集缺陷数据,并将采集到的缺陷数据存入数据库,其中每次采集缺陷数据时先备份历史数据,再将历史数据全部清除,最后将采集到的缺陷数据全量入库保存。

33、根据本专利技术的软件开发测试质量度量系统的一实施例,数据汇总模块进一步配置为:

34、通过数据库管理工具或者插件,读取汇总所需数据,用于后续的数据分析,其中所需的数据包括缺陷数据、人员数据、部门数据、系统信息数据,其中人员数据以及部门数据用于确定缺陷归属人员以及部门,用于针对不同的部门进行数据分析,系统信息数据包括系统级别以及系统部门归属在内的信息,以便对不同级别的系统进行分析。

35、根据本专利技术的软件开发测试质量度量系统的一实施例,数据清洗模块进一步配置为:

36、过滤掉被否决缺陷、重复缺陷、无法复现缺陷在内的无效缺陷,并区分出线上缺陷以及开发测试缺陷,其中线上缺陷为系统上线后产生的缺陷,开发测试缺陷为开发测试阶段发现的缺陷。

37、根据本专利技术的软件开发测试质量度量系统的一实施例,数据分析模块中的分析进一步包括整体缺陷分析单元、缺陷探测率计算单元、缺陷关闭率计算单元,其中:

38、整体缺陷分析单元配置为进行开发测试、线上缺陷数量走势,不同级别缺陷统计,近两年缺陷数据比对,每月缺陷数据汇总;

39、缺陷探测率计算单元配置为计算缺陷探测率p:

40、

41、其中d为开发测试缺陷数量,o为线上缺陷数量;

42、缺陷关闭率计算单元配置为计算缺陷关闭率r:

43、

44、其中c为已关闭的缺陷,u为未关闭的缺陷。

45、根据本专利技术的软件开发测试质量度量系统的一实施例,数据展示模块进一步配置为:

46、基于经数据分析模块处理后的数据生成报表,然后通过展板进行图表展示,并且根据不同的需求定制不同的展板,并提供对外展示、查询接口,以对不同的用户分配不同的权限,根据用户的权限展示对应的度量结果。

47、本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种软件开发测试质量度量方法,其特征在于,方法包括:

2.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤1进一步包括:

3.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤2进一步包括:

4.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤3进一步包括:

5.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤4中的分析进一步包括整体缺陷分析、缺陷探测率计算、缺陷关闭率计算,其中:

6.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤5进一步包括:

7.一种软件开发测试质量度量系统,其特征在于,系统包括:

8.根据权利要求7所述的软件开发测试质量度量系统,其特征在于,数据收集模块进一步配置为:

9.根据权利要求7所述的软件开发测试质量度量系统,其特征在于,数据汇总模块进一步配置为:

10.根据权利要求7所述的软件开发测试质量度量系统,其特征在于,数据清洗模块进一步配置为:

11.根据权利要求7所述的软件开发测试质量度量系统,其特征在于,数据分析模块中的分析进一步包括整体缺陷分析单元、缺陷探测率计算单元、缺陷关闭率计算单元,其中:

12.根据权利要求7所述的软件开发测试质量度量系统,其特征在于,数据展示模块进一步配置为:

...

【技术特征摘要】

1.一种软件开发测试质量度量方法,其特征在于,方法包括:

2.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤1进一步包括:

3.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤2进一步包括:

4.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤3进一步包括:

5.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤4中的分析进一步包括整体缺陷分析、缺陷探测率计算、缺陷关闭率计算,其中:

6.根据权利要求1所述的软件开发测试质量度量方法,其特征在于,步骤5进一步包括:

7.一种软件开发测试质...

【专利技术属性】
技术研发人员:张成戴鹏谢莉莉史敏
申请(专利权)人:上海金融期货信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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