一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基-超比的电阻测量方法技术

本发明专利技术属于超导线基‑超比测量技术领域技术领域，公开了一种Ta增强型青铜Nb<subgt;3</subgt;Sn超导线基‑超比的电阻测量方法，Ta增强型青铜Nb<subgt;3</subgt;Sn属于内外稳定的新型超导线，内稳定体是Ta,外稳定体是无氧铜，中间的超导区是青铜加Nb。根据并联原理，首先计算出外稳定体无氧铜与超导区加内稳定体Ta的体积比β<subgt;2</subgt;，再计算出内稳定体Ta与超导区的体积比β<subgt;1</subgt;。并结合体积比与样品截面积关系推算出Ta增强型青铜Nb<subgt;3</subgt;Sn超导线材的基‑超比β。大量测试比对实验表明：本发明专利技术的方法与纸张称重法测试比对误差在4％以内，满足使用需求。本发明专利技术的方法与纸张称重法相比，效率提升90％以上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超导线基-超比测量，具体为一种ta增强型青铜nb3sn超导线基-超比的电阻测量方法。

技术介绍

1、ta增强型青铜nb3sn超导线是我国核聚变堆、高能物理等重大科研装置建设所需的超导线材之一。同时在核磁共振(nmr)成像等高端科研装备、产业以及医疗产业的发展有着较好的应用前景。

2、基-超比是ta增强型青铜nb3sn超导线非常重要的一项性能指标，对于超导线临界电流密度计算有着重要意义。现有技术中大部分时候均是采用纸张称重法对基-超比进行测量。然而原始的纸张称重法将样品垂直的镶嵌在树脂中进行抛光，样品抛光依赖于成熟的抛光技术，且一个样品测试从抛光、拍照、复印、剪纸、称重到最后的基-超比计算大约需要2h。因此纸张称重法不但依赖于熟练的样品抛光人员，且测试周期也无法满足生产过程需求，整体的测试周期较长，且效率较低。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种ta增强型青铜nb3sn超导线基-超比的电阻测量方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的，本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于：所述数学模型为：

3.根据权利要求1所述的一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于：所述Ta增强型青铜Nb3Sn超导线样品的外稳定体无氧铜与超导区加内稳定体Ta的体积比计算如下式：

4.根据权利要求1所述的一种Ta增强型青铜Nb3Sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于：所述Ta增强型青铜Nb3Sn超导线样品的内稳定体Ta与超导区的体积比计...

【技术特征摘要】

1.一种ta增强型青铜nb3sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种ta增强型青铜nb3sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于：所述数学模型为：

3.根据权利要求1所述的一种ta增强型青铜nb3sn超导线基-超比的电阻测量方法，其特征在于：所述ta增强型青铜nb3sn超导线样品的外稳定体无氧铜与超导区加内稳定体ta的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭强，王菲菲，王蒙，郭建华，董茂胜，刘彪彪，刘向宏，冯勇，
申请(专利权)人：西安聚能超导线材科技有限公司，
类型：发明
国别省市：