【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体涉及一种基于j750ex-hd的spartan-6系列fpga的测试装置。
技术介绍
1、现场可编程门阵列(field programmable gate array,fpga)由于其体积小,能耗低,性能高和可反复编程等优点成为电子系统设计的主流芯片。随着芯片复杂度和集成度越来越高,对电子元器件的可靠性试验和筛选的要求也越来越高,fpga的测试需求变得尤为迫切。提供一套完善的可自动配置的fpga测试方法和测试流程具有重要的应用价值。
2、针对目前伴随fpga产品应用范围逐步扩大，如何提高fpga使用环节的可靠性成为当前亟待解决的问题，基于ate系统设计，对fpga进行自动配置与检测的技术方案。能够降低测试环境的开发时间和成本，满足测试需求的同时提高fpga软件自动化测试的速度和精度。
技术实现思路
1、本技术提供一种基于j750ex-hd的spartan-6系列fpga的测试装置，通过改进的测试基板简化了fpga的测试过程，从而降低了测试环境的开发时间和成本，满足测试需求的同时提高fpga软件自动化测试的速度和精度。
2、为了达到上述目的，本技术提供如下技术方案：一种基于j750ex-hd的spartan-6系列fpga的测试装置，其包括：测试基板，所述测试基板为适配于j750ex-hd内部的板卡；芯片连接座，所述芯片连接座设置在所述测试基板中央，所述芯片连接座适配spartan-6系列fpga芯片，并且所述芯片连接座设有与fpga芯
3、优选的，所述芯片连接座包括324个引脚，并呈18*18的矩阵状排列，其中包括横向的1至18的18列，以及纵向的a至v的18排；所述连接器j1、所述连接器j2、所述连接器j3及所述连接器j4分别设有448个引脚，并呈8*56的矩阵状排列，其中包括1至56的56列，以及a至h的8排；所述连接器j1与所述芯片连接座1至9列的a至j排的第二象限区域电性连接；所述连接器j2与所述芯片连接座1至9列的k至v排的第三象限区域电性连接；所述连接器j3与所述芯片连接座10至18列的a至j排的第一象限区域电性连接；所述连接器j4与所述芯片连接座10至18列的k至v排的第四象限区域电性连接。
4、优选的，所述xcf04-01插座及所述xcf04-02插座分别设有1至20针脚，所述xcf04-01插座的1至10针脚与所述芯片连接座的第一象限区域、第三象限区域及第四象限区域电性连接；所述xcf04-01插座的11至20针脚与所述连接器j2电性连接；所述xcf04-02插座的1至10针脚与所述芯片连接座的第一象限区域、第三象限区域及第四象限区域电性连接；所述xcf04-02插座的11至20针脚与所述连接器j2电性连接。
5、优选的，所述xilinx插座设有1至6针脚，其中1脚与连接器j2的h55针脚电性连接，3脚与所述xcf04-02插座的6脚电性连接，4脚与所述芯片连接座的第一象限区域电性连接，5脚与所述xcf04-02插座的4脚电性连接，6脚与所述xcf04-02插座的5脚电性连接。
6、本技术有益效果在于：通过该设计，实现了spartan-6系列fpga系列芯片的自动测试工作，简化了fpga的测试过程，从而降低了测试环境的开发时间和成本，满足测试需求的同时提高fpga软件自动化测试的速度和精度。
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1.一种基于J750EX-HD的Spartan-6系列FPGA的测试装置，其特征在于,包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于J750EX-HD的Spartan-6系列FPGA的测试装置，其特征在于：所述芯片连接座包括324个引脚，并呈18*18的矩阵状排列，其中包括横向的1至18的18列，以及纵向的A至V的18排；所述连接器J1、所述连接器J2、所述连接器J3及所述连接器J4分别设有448个引脚，并呈8*56的矩阵状排列，其中包括1至56的56列，以及A至H的8排；
3.根据权利要求2所述的一种基于J750EX-HD的Spartan-6系列FPGA的测试装置，其特征在于：所述XCF04-01插座及所述XCF04-02插座分别设有1至20针脚，所述XCF04-01插座的1至10针脚与所述芯片连接座的第一象限区域、第三象限区域及第四象限区域电性连接；所述XCF04-01插座的11至20针脚与所述连接器J2电性连接；所述XCF04-02插座的1至10针脚与所述芯片连接座的第一象限区域、第三象限区域及第四象限区域电性连接；所述XCF04-02插座的11至20针脚
4.根据权利要求3所述的一种基于J750EX-HD的Spartan-6系列FPGA的测试装置，其特征在于：所述XiLinx插座设有1至6针脚，其中1脚与连接器J2的H55针脚电性连接，3脚与所述XCF04-02插座的6脚电性连接，4脚与所述芯片连接座的第一象限区域电性连接，5脚与所述XCF04-02插座的4脚电性连接，6脚与所述XCF04-02插座的5脚电性连接。
...【技术特征摘要】
1.一种基于j750ex-hd的spartan-6系列fpga的测试装置，其特征在于,包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于j750ex-hd的spartan-6系列fpga的测试装置，其特征在于：所述芯片连接座包括324个引脚，并呈18*18的矩阵状排列，其中包括横向的1至18的18列，以及纵向的a至v的18排；所述连接器j1、所述连接器j2、所述连接器j3及所述连接器j4分别设有448个引脚，并呈8*56的矩阵状排列，其中包括1至56的56列，以及a至h的8排；
3.根据权利要求2所述的一种基于j750ex-hd的spartan-6系列fpga的测试装置，其特征在于：所述xcf04-01插座及所述xcf04-02插座分别设有1至20针脚，所述xcf04-01插座...
【专利技术属性】
技术研发人员：闫欣，白珂琦，黄菊莲，雷森，罗清扬，张欢，
申请(专利权)人：西安西谷微电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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