【技术实现步骤摘要】
本专利技术具体涉及内存测试，具体是一种power平台的内存测试方法及装置。
技术介绍
1、内存(memory)是计算机的重要部件之一，也称内存储器和主存储器，它用于暂时存放cpu中的运算数据，与硬盘等外部存储器交换的数据。它是其他部件与cpu进行沟通的桥梁。在power服务器上，cpu和内存通过一个smc互联，cpu和smc之间走的是omi接口进行通信，smc和ddr4内存之间通过ddr的信号进行读写。smc下挂一个eeprom用来进行内存参数的初始化。在开机的过程中，smc通过eeprom提供的参数来进行内存的相关training。如果参数不正确，内存的training就会失败，系统无法开机。
2、由于不同频率、不同品牌的内存需要的参数也不一样，频繁测试不仅会导致哦测试工作量的急剧增加，也会影响内存使用寿命。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于存储一种power平台的内存测试方法及装置，以解决上述
技术介绍
中提出的由于不同频率、不同品牌的内存需要的参数也不一样，频繁测试不仅会导致哦测试工作量的急剧增加，也会影响内存使用寿命的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术存储如下技术方案：
3、一种power平台的内存测试方法及装置，包括以下步骤：
4、s10、组件内存测试装置，所述内存测试装置包括可编程集成电路模块、内存控制器和存储器，将待测试内存连接内存控制器；
5、s20、可编程集成电路模块模拟计算机上电开机流程，当开机流
6、s30、内存控制器记录内存训练参数集中训练成功的内存训练参数；
7、s40、可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试，基于内存测试结果筛选最优的内存测试参数。
8、作为本专利技术进一步的方案：步骤s20中，当开机流程到达内存训练步骤时，内存控制器对存储器预存的内存训练参数集对待测试内存进行内存训练的方法，包括以下步骤：
9、s21、上电开机后，可编程集成电路模块获取当前开机流程，判断当前开机流程是否到达内存训练步骤，判断结果为是时，发出内存训练指令；
10、s22、内存控制器接收内存训练指令，并调用存储器预存的内存训练参数集，所述内存训练参数集包括若干内存训练参数；
11、s23、基于内存训练参数集对待测试内存进行内存训练，得到内存训练结果，所述内存训练结果包括内存训练成功和内存训练失败。
12、作为本专利技术再进一步的方案：步骤s30中，内存控制器记录内存训练参数集中训练成功的内存训练参数的方法，包括以下步骤：
13、s31、逐一识别内存训练参数集中各内存训练参数的内存训练结果；
14、s32、判断当前内存训练参数的内存训练结果是否为内存训练成功，判断结果为是时，记录当前的内存训练参数。
15、作为本专利技术再进一步的方案：步骤s40中，可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试，基于内存测试结果筛选最优的内存测试参数的方法，包括以下步骤：
16、s41、获取训练成功的内存训练参数；
17、s42、对训练成功的内存训练参数逐一进行内存测试，得到内存测试结果数据集，所述内存测试结果数据集包括至少一个内存测试结果；
18、s43、对内存测试结果数据集中各内存测试结果进行数据对比，得到最优的内存测试结果，该最优的内存测试结果即为最优的内存测试参数。
19、作为本专利技术再进一步的方案：所述内存测试包括内存读写测试和内存压力测试。
20、作为本专利技术再进一步的方案：步骤s40中，可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试是基于计算机开机后的系统环境中进行。
21、一种power平台的内存测试方法及装置，包括可编程集成电路模块、内存控制器和存储器，所述可编程集成电路模块与所述内存控制器连接，所述可编程集成电路模块还与存储器连接，所述内存控制器用于连接待测试内存，其中：
22、可编程集成电路模块，用于模拟计算机上电开机流程，当开机流程到达内存训练步骤时，发出内存训练指令；
23、还用于，获取内存训练成功的内存训练参数，基于该内存训练参数进行内存测试，所述内存测试包括内存读写测试和压力测试，得到测试结果，将测试结果与预设值进行对比，得到最优参数；
24、内存控制器，获取内存训练参数集，所述内存训练参数集包括至少一个内存训练参数；
25、基于内存训练指令利用内存训练参数集中所有的内存参数进行内存训练，记录内存训练成功的内存训练参数；
26、存储器，用于存储内存训练参数集。
27、作为本专利技术再进一步的方案：所述可编程集成电路模块为现场可编程逻辑门阵列fpga；所述内存控制器为智能内存控制器smc；所述存储器为带电可擦可编程只读存储器eeprom。
28、作为本专利技术再进一步的方案：所述可编程集成电路模块通过omi总线与所述内存控制器连接，可编程集成电路模块通过i2c总线与存储器连接，所述内存控制器与待测内存连接，所述待测内存为ddr4内存，内存控制器和待测内存通过ddr4相关信号读写。
29、作为本专利技术再进一步的方案：所述可编程集成电路模块包括：
30、开机模拟单元：用于模拟计算机上电开机流程；
31、指令发送单元：用于判断开机流程是否到达内存训练步骤，判断结果为是时发出内存训练指令；
32、内存测试单元，用于获取内存训练成功的内存训练参数，基于该内存训练参数进行内存测试，得到测试结果；还用于将测试结果与预设值进行对比，得到最优参数。
33、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术通过内存测试装置进行内存测试，该内存测试装置包括可编程集成电路模块、内存控制器和存储器，将待测试内存连接内存控制器；利用可编程集成电路模块模拟计算机上电开机流程，当开机流程到达内存训练步骤时，内存控制器对存储器预存的内存训练参数集对待测试内存进行内存训练；通过内存控制器记录内存训练参数集中训练成功的内存训练参数；通过可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试，基于内存测试结果筛选最优的内存测试参数，大大降低了不同品牌，不同类型内存适配的时间和流程，减少内存引入的繁琐工作。
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1.一种power平台的内存测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤S20中，当开机流程到达内存训练步骤时，内存控制器对存储器预存的内存训练参数集对待测试内存进行内存训练的方法，包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤S30中，内存控制器记录内存训练参数集中训练成功的内存训练参数的方法，包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤S40中，可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试，基于内存测试结果筛选最优的内存测试参数的方法，包括以下步骤：
5.根据权利要求4所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，所述内存测试包括内存读写测试和内存压力测试。
6.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤S40中，可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试是基于计算机开机后的系统环境中进行。
7.一种power
8.根据权利要求7所述的power平台的内存测试装置，其特征在于，所述可编程集成电路模块为现场可编程逻辑门阵列FPGA；所述内存控制器为智能内存控制器SMC；所述存储器为带电可擦可编程只读存储器EEPROM。
9.根据权利要求8所述的power平台的内存测试装置，其特征在于，所述可编程集成电路模块通过OMI总线与所述内存控制器连接，可编程集成电路模块通过I2C总线与存储器连接，所述内存控制器与待测内存连接，所述待测内存为DDR4内存，内存控制器和待测内存通过DDR4相关信号读写。
10.根据权利要求9所述的power平台的内存测试装置，其特征在于，所述可编程集成电路模块包括：
...【技术特征摘要】
1.一种power平台的内存测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤s20中，当开机流程到达内存训练步骤时，内存控制器对存储器预存的内存训练参数集对待测试内存进行内存训练的方法，包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤s30中，内存控制器记录内存训练参数集中训练成功的内存训练参数的方法，包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤s40中，可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练参数进行内存测试，基于内存测试结果筛选最优的内存测试参数的方法，包括以下步骤：
5.根据权利要求4所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，所述内存测试包括内存读写测试和内存压力测试。
6.根据权利要求1所述的power平台的内存测试方法，其特征在于，步骤s40中，可编程集成电路模块利用训练成功的内存训练...
【专利技术属性】
技术研发人员：李昌嵩，
申请(专利权)人：浪潮商用机器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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