【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示，具体涉及一种显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质。
技术介绍
1、光晕是miniled背光等显示装置的典型画质问题之一，光晕指的是显示装置在显示画面时，亮物体轮廓边缘出现“光环”，从而影响用户在观看时的观感。因此为了确定miniled背光等显示装置的显示性能，如何获得显示装置的光晕值是需要解决的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种显示装置的光晕测量方法、系统和存储介质，以解决相关技术中的不足。
2、根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种显示装置的光晕测量方法，该方法包括：
3、拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像，所述测试图像包括第一图案区和位于第一图案区周侧的第二图案区，所述第一图案区的灰度值大于所述第二图案区的灰度值；
4、计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值l亮、第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕，其中，所述第一测量区域，所述第二测量区域以及所述第三测量区域的面积相同，所述第一测量区域位于所述第一图案区内，所述第二测量区域位于所述第二图案区内并远离所述第一图案区的边界，所述第三测量区域位于所述第二图案区内并靠近所述第一图案区的边界；
5、根据所述第一测量区域的灰度均值l亮、所述第二测量区域的灰度均值l暗以及所述第三测量区域的灰度均值l光晕，通过如下公式计算光晕值：
6、其中，halo表示光晕值。
7、可选的，在本申请的一些实施例中，所述
8、在设定的曝光时间下拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像；
9、对所述测试图像进行中值滤波处理。
10、可选的，在本申请的一些实施例中，在所述计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值l亮，第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕的步骤之前，所述方法还包括：
11、在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域。
12、可选的，在本申请的一些实施例中，在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域的步骤包括：
13、计算积分半径r；
14、对所述测试图像进行二值化处理；
15、在二值化处理后的所述测试图像中获取所述第一测量区域的中心坐标，所述第二测量区域的中心坐标以及所述第三测量区域的中心坐标；
16、根据所述第一测量区域的中心坐标和所述积分半径r确定所述第一测量区域位置；
17、根据所述第二测量区域的中心坐标和所述积分半径r确定所述第二测量区域位置；
18、根据所述第三测量区域的中心坐标和所述积分半径r确定所述第三测量区域位置。
19、可选的，在本申请的一些实施例中，所述计算确定积分半径r的步骤包括：
20、获取显示装置的屏幕尺寸a，长宽比m：n，分辨率w*h，预设外置的亮度测量口径的直径d；
21、通过如下公式计算所述积分半径r：
22、可选的，在本申请的一些实施例中，所述在二值化处理后的所述测试图像中得到所述第一测量区域的中心坐标，所述第二测量区域的中心坐标以及所述第三测量区域的中心坐标的步骤包括：
23、获取所述第一图案区的中心点的坐标(x1，y1)和所述第一图案区的边界的坐标(x2，y2)；
24、根据(x1，y1)和(x2，y2)计算得到所述第一测量区域的中心坐标(x1，y1)，所述第二测量区域的中心坐标(x1+0.4w，y1+0.4h)，所述第三测量区域的中心坐标(x2+r，y2+r)。
25、可选的，在本申请的一些实施例中，所述计算得到所述第一测量区域内的灰度均值l亮，所述第二测量区域内的灰度均值l暗以及所述第三测量区域内的灰度均值l光晕的步骤包括：
26、通过如下公式计算l亮、l暗以及l光晕：其中，a为第一测量区域或第二测量区域或第三测量区域内的像素点的灰度累加值，l为灰度均值。
27、可选的，在本申请的一些实施例中，计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值l亮、第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕的步骤包括：
28、获取所述第一测量区域内的灰度累加值，通过如下公式计算得到l亮，其中，n为第一测量区域内的灰度累加值；
29、获取所述第二测量区域内的灰度累加值，通过如下公式计算得到l暗，其中，m为第二测量区域内的灰度累加值；
30、获取多个不同的所述第三测量区域的灰度累加值，通过如下公式计算得到多个所述第三测量区域的灰度均值，其中，x为其中一个第三测量区域内的灰度累加值，l为其中一个第三测量区域内的灰度均值，计算多个所述第三测量区域的灰度均值l的平均值得到l光晕。
31、根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种显示装置的光晕测量系统，包括：
32、图像获取单元，用于拍摄待测试的显示装置显示的图像以获得测试图像；
33、计算单元，用于计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值l亮、第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕，以及用于根
34、其中，halo表示光晕值。
35、根据本专利技术实施例的第三方面，提供一种存储介质，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，执行时实现上述任一项所述方法的步骤。
36、根据上述实施例可知，本申请的显示装置的光晕测量方法，首先拍摄待测试的显示装置的显示图像以获得测试图像，并确定位于测试图像的第一图案区内的第一测量区域，位于测试图像的第二图案区内并远离第一图案区的边界的第二测量区域，位于测试图像的第二图案区内并靠近第一图案区的边界的第三测量区域。然后通过计算得到第一测量区域的灰度均值l亮，第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕，之后根据第一测量区域的灰度均值l亮，第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕，计算确定该显示装置的光晕值。该方法可以快速确定显示装置的光晕值，从而可以用于评价显示装置的显示性能，同时计算简单，自动化程度高。
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1.一种显示装置的光晕测量方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述拍摄待测试显示装置显示的图像以获得测试图像的步骤包括：
3.如权利要求1所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，在所述计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L亮、第二测量区域的灰度均值L暗以及第三测量区域的灰度均值L光晕的步骤之前，所述方法还包括：
4.如权利要求3所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域的步骤包括：
5.如权利要求4所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述计算确定积分半径R的步骤包括：
6.如权利要求5所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述在二值化处理后的所述测试图像中获取所述第一测量区域的中心坐标，所述第二测量区域的中心坐标以及所述第三测量区域的中心坐标的步骤包括：
7.如权利要求6所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述计算得到所述第一测量区域内的灰度均值L亮、所述第二测量区域内的灰度
8.如权利要求6中所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值L亮、第二测量区域的灰度均值L暗以及第三测量区域的灰度均值L光晕的步骤包括：
9.一种显示装置的光晕测量系统，其特征在于，包括：
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行权利要求1至8任一项所述的显示装置的光晕测量方法中的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种显示装置的光晕测量方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述拍摄待测试显示装置显示的图像以获得测试图像的步骤包括：
3.如权利要求1所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，在所述计算得到所述测试图像中第一测量区域的灰度均值l亮、第二测量区域的灰度均值l暗以及第三测量区域的灰度均值l光晕的步骤之前，所述方法还包括：
4.如权利要求3所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，在所述测试图像上确定第一测量区域、第二测量区域以及第三测量区域的步骤包括：
5.如权利要求4所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述计算确定积分半径r的步骤包括：
6.如权利要求5所述的显示装置的光晕测量方法，其特征在于，所述在二值化处理后的...
【专利技术属性】
技术研发人员：李超平，
申请(专利权)人：TCL华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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