【技术实现步骤摘要】
本公开涉及一种光束测量装置，特别是用于样本处理仪的光束测量装置。本公开还涉及一种包括光束测量装置的样本处理仪，例如，流式细胞分选仪/分析仪。本公开还涉及一种使用光束测量装置对光束进行测量的方法。
技术介绍
1、本部分的内容仅提供了与本公开相关的背景信息，其不一定构成现有技术。
2、在光学系统中，从光源出射的光束在到达目标物之前往往需要准直。经过准直的光束需要满足所需的特性，以确保光学系统的精度或准确性。这些特性包括发散特性(例如，光束沿着传播方向减缩或渐扩的发散程度)和指向性特性(例如，平行光束相对于预定光学轴线的倾斜程度)。为此，提供光束测量装置，用于检测经过准直的光束的发散特性和指向特性。
3、现有的光束测量装置对光束进行直接测量，即，测量光束本身的一些参数。在这样的光束测量装置和方法中，光束测量路径较长以确保测量精度，导致光束测量装置的尺寸较大。对于空间有限的系统而言，该光束测量装置和方法是不利的。
4、此外，由于上述结构限制，发散角和指向性的测量往往集成在同一测量装置中同时进行。这会增加测量难度和复杂度。
技术实现思路
1、在本部分中提供本公开的总概要，而不是本公开完全范围或本公开所有特征的全面公开。
2、鉴于现有光束测量装置的上述问题，本公开的目的在于提供一种光束测量装置和方法，其能够在确保检测精度的同时缩短光学检测通道，从而使光束测量装置具有紧凑的结构。可选地，该光束测量装置和方法可以根据需要独立地检测光束的发散角或指向性
3、根据本公开的一个方面，提供了一种光束测量装置。所述光束测量装置包括检测单元和光阻碍单元。所述光阻碍单元位于所述检测单元与光源之间，并且构造成通过阻挡来自所述光源的部分光束的传输而在所述检测单元上生成阴影区域。所述检测单元构造成对所述阴影区域进行测量，并且基于所述阴影区域的测量结果来确定光束是否发散或者是否相对于预定光学轴线倾斜。
4、根据本公开的光束测量装置，借助于光阻碍单元产生阴影区域并且基于阴影区域的测量来间接地确定光束的发散特性或指向性特性。通过光阻碍单元的间接测量可以缩短光束光学检测通道，使得光束测量装置的尺寸可以减小。光阻碍单元的设置可以根据需要而变，更加灵活，由此可以适用于各种场合。
5、在根据本公开的一些实施方式中，所述检测单元构造成基于所述阴影区域的测量结果计算出所述光束的发散角或者所述光束相对于所述预定光学轴线的倾斜角。
6、在根据本公开的一些实施方式中，所述光阻碍单元包括第一光阻碍件和第二光阻碍件。所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件在垂直于所述预定光学轴线的第一方向上布置并间隔开。所述第一光阻碍件在所述检测单元上生成第一阴影区域，所述第二光阻碍件在所述检测单元上生成第二阴影区域。所述检测单元构造成对所述第一阴影区域和所述第二阴影区域进行测量，并且基于所述第一阴影区域和所述第二阴影区域的测量结果的差异以及所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件在平行于所述预定光学轴线的第二方向上的尺寸计算出所述光束相对于所述预定光学轴线的倾斜角。
7、在根据本公开的一些实施方式中，所述第一光阻碍件和/或所述第二光阻碍件包括两个柱状件，所述两个柱状件以在所述第一方向和所述第二方向上均彼此偏离的方式布置。
8、在根据本公开的一些实施方式中，所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件具有相同的构型，并且相对于所述第二方向对称地布置。
9、在根据本公开的一些实施方式中，所述光阻碍单元包括至少一个光阻碍件，所述检测单元构造成对所述至少一个光阻碍件中的一个光阻碍件产生的阴影区域进行测量并且基于所述阴影区域的测量结果以及该光阻碍件与所述检测单元之间的距离计算出所述光束的发散角。
10、在根据本公开的一些实施方式中，所述光阻碍件为柱状件。
11、在根据本公开的一些实施方式中，所述光束测量装置还包括用于将所述光阻碍单元和/或所述检测单元相对于光源平移的致动装置。
12、在根据本公开的一些实施方式中，所述光束测量装置包括多个构型不同的光阻碍单元，所述检测单元包括对所述光阻碍单元分别进行检测的多个检测器。
13、根据本公开的另一方面，提供了一种样本处理仪。所述样本处理仪包括上述光束检测装置。
14、根据本公开的又一方面，提供了一种使用上述光束测量装置对光束进行测量的方法。该方法包括：测量由光阻碍单元在所述检测单元上生成的阴影区域；以及基于所述阴影区域的测量结果来确定光束是否发散或者是否相对于预定光学轴线倾斜。
15、在根据本公开的一些实施方式中，所述方法还包括基于所述阴影区域的测量结果计算出所述光束的发散角或者所述光束相对于所述预定光学轴线的倾斜角。
16、在根据本公开的一些实施方式中，所述方法还包括使所述光阻碍单元和/或所述检测单元相对于光源平移。
17、通过下文中给出的详细描述和仅以说明的方式给出并且因此并不认为是限制本公开的附图，将更充分地理解本公开的上述及其他目的、特征和优点。
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1.一种光束测量装置，包括：
2.根据权利要求1所述的光束测量装置，其中，所述检测单元构造成基于所述阴影区域的测量结果计算出所述光束的发散角或者所述光束相对于所述预定光学轴线的倾斜角。
3.根据权利要求1或2所述的光束测量装置，其中，所述光阻碍单元包括第一光阻碍件和第二光阻碍件，所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件在垂直于所述预定光学轴线的第一方向上布置并间隔开，所述第一光阻碍件在所述检测单元上生成第一阴影区域，所述第二光阻碍件在所述检测单元上生成第二阴影区域，并且
4.根据权利要求3所述的光束测量装置，其中，所述第一光阻碍件和/或所述第二光阻碍件包括两个柱状件，所述两个柱状件以在所述第一方向和所述第二方向上均彼此偏离的方式布置。
5.根据权利要求4所述的光束测量装置，其中，所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件具有相同的构型，并且相对于所述第二方向对称地布置。
6.根据权利要求1或2所述的光束测量装置，其中，所述光阻碍单元包括至少一个光阻碍件，所述检测单元构造成对所述至少一个光阻碍件中的一个光阻碍件产生的阴影区域进行测量并且
7.根据权利要求6所述的光束测量装置，其中，所述光阻碍件为柱状件。
8.根据权利要求6所述的光束测量装置，还包括用于将所述光阻碍单元和/或所述检测单元相对于光源平移的致动装置。
9.根据权利要求1或2所述的光束测量装置，包括多个构型不同的光阻碍单元，所述检测单元包括对所述光阻碍单元分别进行检测的多个检测器。
10.一种样本处理仪，包括根据权利要求1至9中的任一项所述的光束测量装置。
11.一种使用根据权利要求1至9中的任一项所述的光束测量装置对光束进行测量的方法，包括：
12.根据权利要求11所述的方法，还包括：基于所述阴影区域的测量结果计算出所述光束的发散角或者所述光束相对于所述预定光学轴线的倾斜角。
13.根据权利要求11或12所述的方法，还包括：使所述光阻碍单元和/或所述检测单元相对于光源平移。
...【技术特征摘要】
1.一种光束测量装置，包括：
2.根据权利要求1所述的光束测量装置，其中，所述检测单元构造成基于所述阴影区域的测量结果计算出所述光束的发散角或者所述光束相对于所述预定光学轴线的倾斜角。
3.根据权利要求1或2所述的光束测量装置，其中，所述光阻碍单元包括第一光阻碍件和第二光阻碍件，所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件在垂直于所述预定光学轴线的第一方向上布置并间隔开，所述第一光阻碍件在所述检测单元上生成第一阴影区域，所述第二光阻碍件在所述检测单元上生成第二阴影区域，并且
4.根据权利要求3所述的光束测量装置，其中，所述第一光阻碍件和/或所述第二光阻碍件包括两个柱状件，所述两个柱状件以在所述第一方向和所述第二方向上均彼此偏离的方式布置。
5.根据权利要求4所述的光束测量装置，其中，所述第一光阻碍件和所述第二光阻碍件具有相同的构型，并且相对于所述第二方向对称地布置。
6.根据权利要求1或2所述的光束测量装置，其中，所述光阻碍单元包括至少一个光阻碍件，所述检测单元构造成对所述至少...
【专利技术属性】
技术研发人员：施威，苗睿锋，陈中辉，王建华，
申请(专利权)人：贝克曼库尔特生物科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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