【技术实现步骤摘要】
本技术涉及显微镜设备领域，特别涉及一种用于原子力显微镜的音叉针尖。
技术介绍
1、原子力显微镜(atomic force microscopy, afm)是一种具有原子分辨率的表面三维形貌测量和电磁性能分析的重要仪器，它突破了扫描隧道显微镜只能应用于导体材料的限制，在空气、真空、液体中对导电和非导电材料成像时具有的高分辨率、无损伤、广泛适用性以及多功能性，使其成为纳米级表征和测量的最流行的科学仪器之一。
2、原子力显微镜的基本原理是利用微型力敏感元件的探针针尖与样品表面的极微弱的范德华力，来研究样品表面结构和性质。传统的原子力显微镜几乎都采用微悬臂来作为力传感器的敏感元件，通过利用光学系统检测微悬臂的形变量来描绘样品表面三维形貌图。目前，世界范围内微悬臂力传感器技术已经非常成熟，但是还存在诸多问题无法解决，比如品质因数低、检测装置复杂、稳定性差等，需要引入一种新形式的力传感器，突破微悬臂力传感器的瓶颈。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本技术提供了一种用于原子力显微镜的音叉针尖，该音叉针尖采用石英音叉悬臂梁替代传统的悬臂梁，石英音叉上面的微加工的针尖质量越小、品质因数q值越高，原子力显微镜的分辨率越高。
2、本技术的内容如下：一种用于原子力显微镜的音叉针尖，包括石英音叉、微加工的针尖、胶水，其特征在于，所述石英音叉包括音叉基部、两个音叉臂，所述音叉基部上设有两个电极，所述微加工的针尖通过胶水固定在其中一个音叉臂上。
3、本技术的有益效果是：
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1.一种用于原子力显微镜的音叉针尖，包括石英音叉(1)、微加工的针尖(4)、胶水(5)，其特征在于，所述石英音叉(1)包括音叉基部(3)、音叉臂(6)，所述音叉基部(3)上设有电极(2)，所述微加工的针尖(4)通过胶水(5)固定在其中一个音叉臂(6)上。
【技术特征摘要】
1.一种用于原子力显微镜的音叉针尖，包括石英音叉(1)、微加工的针尖(4)、胶水(5)，其特征在于，所述石英音叉(1)包括音叉基...
【专利技术属性】
技术研发人员：董国材，姚维，
申请(专利权)人：国成仪器常州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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