【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试系统校准领域，具体涉及一种半导体分立器件测试系统校准适配器。
技术介绍
1、半导体分立器件测试系统多用于工厂、研究所等做元器件筛选检验以及器件生产厂用做生产测试，其准确与否直接关系到对元器件测试结果的判断。多数半导体分立器件测试系统采用标准电阻对其进行校准，以保证量值统一，测试结果准确可靠。目前校准都采用单个标准电阻逐个逐个用夹子或者夹片连接到测试系统进行校准。这种校准方式容易导致接触不良，导致引线电阻增加以致校准误差偏大。同时电阻的引线由于多次反复使用会导致使用寿命缩短，而且操作人员每次必须仔细检查金属夹子或夹片是否连接正确且防止短路，校准效率不高。
技术实现思路
1、本技术的目的是，提供一种半导体分立器件测试系统校准适配器，以解决半导体分立器件测试系统校准时采用常规夹持所带来的接地面积小、缩短接线端子寿命、容易误操作、容易造成较大的测试数据误差以及校准效率低等问题。
2、本技术采用的技术方案是，一种半导体分立器件测试系统校准适配器，包括底板、插座和精密电...
【技术保护点】
1.一种半导体分立器件测试系统校准适配器，其特征在于，包括底板、插座和精密电阻组，所述精密电阻组由一组不同阻值的精密电阻构成，分别安装在底板上，精密电阻组的每个电阻一端通过底板电路统一引出至公共端插座，另一端分别通过底板电路引出至独立端插座。
2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统校准适配器，其特征在于，所述精密电阻组准确度为±0.1%，包含0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ、10MΩ、100MΩ十个电阻，其中0.1Ω电阻为四线制。
3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统校准适配器，其...
【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件测试系统校准适配器，其特征在于，包括底板、插座和精密电阻组，所述精密电阻组由一组不同阻值的精密电阻构成，分别安装在底板上，精密电阻组的每个电阻一端通过底板电路统一引出至公共端插座，另一端分别通过底板电路引出至独立端插座。
2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件测试系统校准适配器，其特征在于，所述精密电阻组准确度为±0.1%，包含0.1ω、1ω、10ω、100ω、1kω、10kω、100kω、1mω、10mω、100mω十个电阻，其中0.1ω电阻为四线制。
3.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡双妹，袁文，
申请(专利权)人：贵州航天风华精密设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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