【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及目标偏振特性检测，更具体的说是涉及一种太赫兹时域偏振检测方法和装置。
技术介绍
1、太赫兹波是指频率0.1—10thz(1thz＝1012hz)范围内的电磁辐射,在电磁波谱中位于微波和红外之间，具有高透视性、高安全性、高光谱分辨率等独特的性质。
2、对太赫兹波而言，偏振信息极为重要，尤其对于双折射晶体以及手性的材料的检测。研究与发展精度高、动态范围大的太赫兹透射时域偏振检测系统，有助于得到更加完备的电场与物质相互作用的信息，对进一步研究太赫兹和物质相互作用机理以及对太赫兹技术的应用前景有着重要的意义。
3、目前，传统的太赫兹偏振探测技术主要依靠线性偏振的探测方式，即只响应某一固定方向的太赫兹分量。严重牵制了太赫兹偏振检测效率。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种太赫兹时域偏振检测装置和方法，旨在解决现有的太赫兹偏振检测方式效率低下的问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、一方面，本专利技术公开了一种太赫兹时域偏振检测装置，包括偏振分光棱镜、反射镜组件、分光棱镜以及太赫兹探测器；其中，
4、所述偏振分光棱镜，用于分离太赫兹波，得到第一偏振分量和第二偏振分量；
5、所述第一偏振分量经分光棱镜和待测样品后透射至太赫兹探测器；所述第二偏振分量经反射镜组件和分光棱镜共同反射至待测样品，而后透射至太赫兹探测器。
6、为进一步优化上述技术方案，所述第一偏振分量和
7、为进一步优化上述技术方案，所述反射镜组件包括第一反射镜和第二反射镜，用于将第二偏振分量反射至分光棱镜。
8、为进一步优化上述技术方案，所述第一偏振分量和第二偏振分量传输路径中分别布设有光开关，用于对光路进行独立控制。
9、为进一步优化上述技术方案，所述分光棱镜和所述太赫兹探测器之间设有偏振片，用于规范入射的太赫兹电场偏振方向。
10、为进一步优化上述技术方案，检测过程包括：
11、空置样片放置区，获取第一和第二偏振分量的太赫兹脉冲信息，作为基准数据；
12、测试时，分别获取样品在第一和第二偏振分量下的太赫兹脉冲信息，结合所述基准数据，得到所述样品在不同偏振方向的太赫兹偏振特性。
13、另一方面，本专利技术公开了一种太赫兹时域偏振检测方法，包括如下步骤：
14、分离太赫兹波，得到第一偏振分量和第二偏振分量；
15、调整第一和第二偏振分量的光路方向，分别控制第一和第二偏振分量入射至待测样品；
16、接收经待测样品的分量信号，根据所述分量信号，获得所述样品在不同偏振方向的太赫兹偏振特性。
17、经由上述的技术方案可知，本专利技术公开提供了一种太赫兹时域偏振检测装置和方法，使太赫兹脉冲依次经过偏振分光棱镜、光开关、反射镜、分光棱镜、被测样品、偏振片以及太赫兹探测器，从而实现探测脉冲对所述携带待测样品偏振信息的太赫兹脉冲的探测。
18、由于光路引入了偏振棱镜和光开关，因此只需经过一次时间扫描，便可获得待测样本在不同偏振方向的太赫兹波形，计算出透射太赫兹时域偏振态的全部信息，本方法大大提高了检测效率。
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1.一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，包括偏振分光棱镜、反射镜组件、分光棱镜以及太赫兹探测器；其中，
2.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，第一偏振分量和第二偏振分量互相垂直。
3.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，所述反射镜组件包括第一反射镜和第二反射镜，用于将第二偏振分量反射至分光棱镜。
4.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，第一偏振分量和第二偏振分量传输路径中分别布设有光开关，用于对光路进行独立控制。
5.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，所述分光棱镜和所述太赫兹探测器之间设有偏振片，用于规范入射的太赫兹电场偏振方向。
6.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，检测过程包括：
7.一种太赫兹时域偏振检测方法，其特征在于，包括：
【技术特征摘要】
1.一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，包括偏振分光棱镜、反射镜组件、分光棱镜以及太赫兹探测器；其中，
2.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，第一偏振分量和第二偏振分量互相垂直。
3.根据权利要求1所述的一种太赫兹时域偏振检测装置，其特征在于，所述反射镜组件包括第一反射镜和第二反射镜，用于将第二偏振分量反射至分光棱镜。
4.根据权利要求1所述的一种太赫兹...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨利红，徐顺琴，付秦月，阳志强，巩蕾，李瑶，王利国，葛航，李星元，
申请(专利权)人：西安工业大学，
类型：发明
国别省市：
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