【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波组件测试工装领域，特别是一种微波组件自动测试系统。
技术介绍
1、目前市场上针对微波组件的测试基本上还停留在手动测试、人工记录的阶段，这种原始化测试手段存在以下缺陷：
2、（1）测试效率低下，人工手动设置仪器参数；
3、（2）由于测试数据人为记录或导出，测试参数准确性较低；
4、（3）数据保存功能受限，一般用户需要自行导出数据打印存储，数据的长期保存难以实现，同时很难实现测试数据的二次分析利用。
5、微波组件的测试方法在欧洲以及美国等地已经逐渐变为自动化测试，即利用专业的测试设备、测试软件进行测试。整个测试流程在电脑上完成，减少人为干扰因素，测试效率更高、测试结果更精确，利用数据库功能存储数据，并且实现测试数据的智能化分析，提高数据利用价值，为后续产品改善提供可靠依据。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种微波组件自动测试系统，解决现有微波组件测试自动化程度低、准确差，难以实现测试数据二次利用的问题。
2、为解决上述的技术问题，本专利技术采用以下技术方案：
3、一种微波组件自动测试系统，包括：pc上位机、测试仪器、dut、fpga控制板、工装pcb和测试夹具，所述pc上位机的网口输出端与测试仪器的信号源和频谱仪相连，pc上位机的串口输出端与fpga控制板相连，所述fpga控制板的io输出端与所述工装pcb输入端相连，所述工装pcb将fpga的io输出转接给dut，所述dut的输入端还
4、信号源提供被测设备的信号的输入，测试仪器完成被测设备输出信号的测量工作并将测量数据交由pc机处理，pc机提供用户操作平台完成测试数据分析判断和被测设备的参数调整、结果保存等工作；
5、微波组件自动测试系统由硬件设计与软件开发构成，硬件设计：采用信号源、频谱仪与测控计算机通过lan口连接，射频电缆用于测试仪器与射频组件之间的射频信号连接；
6、软件开发：包括应用程序、仪器驱动程序等，主要用来完成整个自动测试的测试流程与操作，达到数据测试、数据综合、数据分析处理和测试结果显示等各种功能；
7、对微波组件进行自动测试具体流程为：将被测微波组件与测试平台硬件连接好，打开自动测试软件，进行自动测试，分析测试结果，判别微波组件性能的好坏。测试仪器是完成校准的测试仪器；自动测试前，确保仪器通信连接完毕，测试结束后，对测试结果进行报表输出，所述dut为2-20g功率控制组件。
8、该测试系统的主要功能如下：
9、（1）pc上位机通过网口将硬件测试仪器有效地集成在一起，实现对微波组件自动测试平台的远程控制。
10、自动化测试平台能够对射频指标进行功能测试，具体的射频指标测试为：增益测试、1db压缩点测试、杂散测试、相位噪声测试和频响测试等。
11、自动测试平台支持一键自动测试和单项功能测试。
12、通过自动测试平台的测试操作界面，实现对微波组件的单个性能指标测试或者对其全部性能指标同时进行测试。
13、作为本专利技术的进一步优选，所述pc上位机与测试仪器的信号源和频谱仪均通过lan口相连。
14、lan口将测试仪器和pc上位机相连，完成对测试仪器的设置，如中心频率、分析带宽、参考电平等，完成参数设置后同时进行待测指标的参数读取。
15、作为本专利技术的进一步优选，所述pc上位机与fpga控制板之间通过串口相连。
16、串口将控制数据下发到fpga工装板，包含开关控制、衰减控制、dac电压控制等参数信息。
17、作为本专利技术的进一步优选，所述fpga控制板与工装pcb之间通过j30j连接器连接。
18、j30j连接器是fpga控制板的ttl对外输出接口。
19、作为本专利技术的进一步优选，所述工装pcb和dut之间通过pin针相连。
20、工装pcb实现ttl控制电平的转接和控制线延长功能。
21、作为本专利技术的进一步优选，所述dut和测试仪器的信号源之间、dut和测试仪器的频谱仪之间均通过同轴缆相连。
22、与现有技术相比，本专利技术至少能达到以下有益效果中的一项：
23、1、自动测试系统采用了虚拟仪器技术，在自动测试技术上坚持“以软件测试代替硬件测试”的测试思路，充分发挥虚拟仪器的技术优点。
24、2、自动测试系统采用了可视化编程软件，用图形化语言编程代替软件程序代码编程，方便简单，将测试人员从枯燥的编程中脱离出来。
25、3、自动测试系统可以一键设置仪器参数，测试效率高，测试准确度高。
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1.一种微波组件自动测试系统，其特征在于：包括：PC上位机、测试仪器、Dut、FPGA控制板、工装PCB和测试夹具，所述PC上位机的网口输出端与测试仪器的信号源和频谱仪相连，PC上位机的串口输出端与FPGA控制板相连，所述FPGA控制板的IO输出端与所述工装PCB输入端相连，所述工装PCB将FPGA的IO输出转接给Dut，所述Dut的输入端还与测试仪器的信号源相连，所述Dut的输出端与测试仪器的频谱仪相连，所述测试夹具用于固定Dut、FPGA控制板和工装PCB。
2.根据权利要求1所述的微波组件自动测试系统，其特征在于：所述PC上位机与测试仪器的信号源和频谱仪均通过LAN口相连。
3.根据权利要求1所述的微波组件自动测试系统，其特征在于：所述PC上位机与FPGA控制板之间通过串口相连。
4.根据权利要求1所述的微波组件自动测试系统，其特征在于：所述FPGA控制板与工装PCB之间通过J30J连接器连接。
5.根据权利要求1所述的微波组件自动测试系统，其特征在于：所述工装PCB和Dut之间通过Pin针相连。
6.根据权利要求
...【技术特征摘要】
1.一种微波组件自动测试系统，其特征在于：包括：pc上位机、测试仪器、dut、fpga控制板、工装pcb和测试夹具，所述pc上位机的网口输出端与测试仪器的信号源和频谱仪相连，pc上位机的串口输出端与fpga控制板相连，所述fpga控制板的io输出端与所述工装pcb输入端相连，所述工装pcb将fpga的io输出转接给dut，所述dut的输入端还与测试仪器的信号源相连，所述dut的输出端与测试仪器的频谱仪相连，所述测试夹具用于固定dut、fpga控制板和工装pcb。
2.根据权利要求1所述的微波组件自动测试系统，其特征在于：所述pc上位机与测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：欧云章，刘畅，
申请(专利权)人：成都威频通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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