【技术实现步骤摘要】
本技术属于镀膜设备领域,具体涉及到一种晶控插头对接机构。
技术介绍
1、目前镀膜设备上需要移动转架筒时,一般是采用时间控制膜层厚度,或者把测量用的晶控探头放在溅射靶帮边间接测量的结构:
2、1、如果采用时间来控制膜层厚度,由于光学膜层都是以nm为单位的,所以很难准确获得理想的膜层厚度,最终导致所镀产品光学性能不稳定的结果。
3、2、如果把测量用的晶控探头固定在溅射靶的旁边,采用间接测量与控制膜层厚度的方法,由于测量用的探头在开启溅射靶时,一直在接受溅射出来的镀层,而我们要镀的产品是在转架桶上的,转架桶转一周每个产品上才镀一层膜,这样的话,测量用的晶控探头上的镀层会远远超过产品上的镀层厚度,最终只能乘以比例系数,间接反应产品上的镀层厚度,比例系数还要通过实验获得。所以这种测量方法与不能直接反应出产品上膜层的厚度,最终同样会出现产品光学性能不稳定的结果。由于现在的设备是多腔室的,镀膜室要在真空条件下更换转架桶,所以把晶控探头放到转架桶上时,也就需要一个能在真空环境下自动对接的一套装置,成本高。
4、因此,
...【技术保护点】
1.一种晶控插头对接机构,其特征在于:包括晶控对插公头(1)和晶控对插母座(2),所述晶控对插公头(1)包括压紧定位座(11)和设于所述压紧定位座(11)内的信号线母头(12),所述晶控对插母座(2)包括安装板(21),所述安装板(21)上开设有与所述压紧定位座(11)相适配的定位槽(22),所述定位槽(22)内设有与所述信号线母头(12)对接的信号线公头(23),所述安装板(21)连接有锁紧板(24),所述锁紧板(24)通过一弹性组件(25)连接有下安装座(26),所述锁紧板(24)和所述下安装座(26)之间形成有缓冲间隙(27),当所述信号线母头(12)下压与所述
...【技术特征摘要】
1.一种晶控插头对接机构,其特征在于:包括晶控对插公头(1)和晶控对插母座(2),所述晶控对插公头(1)包括压紧定位座(11)和设于所述压紧定位座(11)内的信号线母头(12),所述晶控对插母座(2)包括安装板(21),所述安装板(21)上开设有与所述压紧定位座(11)相适配的定位槽(22),所述定位槽(22)内设有与所述信号线母头(12)对接的信号线公头(23),所述安装板(21)连接有锁紧板(24),所述锁紧板(24)通过一弹性组件(25)连接有下安装座(26),所述锁紧板(24)和所述下安装座(26)之间形成有缓冲间隙(27),当所述信号线母头(12)下压与所述信号线公头(23)对接时压缩所述缓冲间隙(27)。
2.根据权利要求1所述的一种晶控插头对接机构,其特征在于:所述压紧定位座(11)的外侧面从上至下依次分为圆柱面(111)和锥形面(112),所述锥形面(112)呈上宽下窄形状,所述压紧定位座(11)依次经过所述锥形面(112)和所...
【专利技术属性】
技术研发人员:战永刚,陈合金,冯红涛,战捷,周林,
申请(专利权)人:深圳市三束镀膜技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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