光链路检测方法、装置、设备、存储介质及计算机程序制造方法及图纸

技术编号:40324455 阅读:11 留言:0更新日期:2024-02-09 14:19
本申请公开了一种光链路检测方法、装置、设备、存储介质及计算机程序,属于光通信技术领域。所述方法包括:发送第一光信号,第一光信号是将第一伪随机码调制后得到的,接收第一目标信号,第一目标信号是第一光信号在光纤中被反射和/或散射的信号,基于第一目标信号生成第一光时域反射曲线,发送第二光信号,第二光信号是将第二伪随机码调制后得到的,接收第二目标信号,第二目标信号是第二光信号在光纤中被反射和/或散射的信号,基于第二目标信号和第一光时域反射曲线,生成第二光时域反射曲线。本申请提供的方法能够在测量距离增大的情况下保持高测量精度,兼顾了测量距离和测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光通信,特别涉及一种光链路检测方法、装置、设备、存储介质及计算机程序


技术介绍

1、在光通信
中,通常利用光纤来传输光信号。在光纤中的某些位置出现形变或者故障时,当光信号经过这些位置时会产生菲涅尔反射信号。如果菲涅尔反射信号叠加在入射光信号上,则会对接收侧光信号产生干扰,从而降低光信号的传输质量,导致误码。

2、在相关技术中,采用光时域反射仪(optical time domain reflectometer,otdr)检测光纤的形变或者故障位置。otdr是通过光信号在光纤中传输时产生的后向瑞利散射信号和菲涅尔反射信号,获取光信号沿着光纤路径的瑞利散射系数以及菲涅尔反射系数,以此来确定光纤的形变或者故障位置。例如,在光纤的入口处发送光信号,光信号在光纤中经过后向瑞利散射和菲涅尔反射之后再次到达入口处。然后,在入口处对接收到的光信号进行相关处理,以得到otdr曲线,进而基于otdr曲线所指示的瑞利散射系数以及菲涅尔反射系数,确定光纤的形变或者故障位置。

3、常用的otdr采用脉冲式测量方法,采用上述方法进行光纤测量时本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光链路检测方法,其特征在于,应用于发送端,所述发送端与接收端之间通过光纤连接,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二光时域反射曲线指示所述光纤的反射位置和所述反射位置对应的反射系数,和/或,所述光纤的散射位置和所述散射位置对应的散射系数。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第一伪随机码的码长周期和所述第二伪随机码的码长周期均大于光信号在所述光纤中的往返时延。

4.如权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一目标信号生成第一光时域反射曲线,包括:

5.如权利要求1-4任一所述的方...

【技术特征摘要】

1.一种光链路检测方法,其特征在于,应用于发送端,所述发送端与接收端之间通过光纤连接,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二光时域反射曲线指示所述光纤的反射位置和所述反射位置对应的反射系数,和/或,所述光纤的散射位置和所述散射位置对应的散射系数。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述第一伪随机码的码长周期和所述第二伪随机码的码长周期均大于光信号在所述光纤中的往返时延。

4.如权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一目标信号生成第一光时域反射曲线,包括:

5.如权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二目标信号和所述第一光时域反射曲线,生成第二光时域反射曲线,包括:

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二目标信号、所述第一光时域反射曲线和第二参考伪随机码,生成所述第二光时域反射曲线之前,还包括:

7.如权利要求1-6任一所述的方法,其特征在于,所述第二伪随机码是将所述第一伪随机码和第三伪随机码进行模二相加后得到,所述第三伪随机码的码宽小于所述第一伪随机码的码宽。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述第三伪随机码的码长周期大于所述第一伪随机码的码宽。

9.一种光链路检测装置,其特征在于,应用于发送端,所述发送端与接收端之间通过光纤连接,所述装置包括:

10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,所述第二光时域反射曲线指示所述光纤的...

【专利技术属性】
技术研发人员:齐国民
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1