【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示领域，具体涉及一种显示面板及其补偿方法。
技术介绍
1、微型发光二极管(mini-led或micro-led)已经用于显示面板，例如mini-led作为液晶显示面板的背光源，或者micro-led显示面板作为户外显示，微型发光二极管显示面板(mini-led显示面板或micro-led显示面板等)制造中或制造完后需要进行薄膜晶体管的阈值电压(vth)的补偿，现有技术是在驱动芯片(ic)上集成补偿模块，通过扫描的方式侦测采集微型发光二极管显示面板的多个薄膜晶体管的阈值电压，再通过补偿模块进行数据转换并进行补偿。
2、然而，若微型发光二极管显示面板存在异常，现有的补偿方式中存在电压补偿准确性低的问题，例如，某一点漏电时，会造成整列的侦测数据异常，使得电压补偿不再准确，因此，现有的补偿方法需要改进。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种显示面板及其补偿方法，可以解决若微型发光二极管显示面板存在异常，现有的补偿方式中存在电压补偿准确性低的问题。
2、本申请实施例提供了一种显示面板，包括：
3、基底；
4、多个子像素单元，设置于所述基底上，所述子像素单元包括驱动电路单元和发光二极管，所述驱动电路单元包括驱动晶体管，所述发光二极管包括第一电极和第二电极，所述驱动晶体管的输出端与所述第一电极连接；
5、多个测试端子，所述测试端子连接对应的所述驱动晶体管的输出端。
6、可选的，在本申请的一些实施例中，还包括：
7、其中，所述封装层包括多个通孔，所述测试端子通过对应的所述通孔露出。
8、可选的，在本申请的一些实施例中，所述子像素单元与所述测试端子一一对应。
9、可选的，在本申请的一些实施例中，所述子像素单元在基底上的正投影覆盖对应的所述测试端子在基底上的正投影。
10、可选的，在本申请的一些实施例中，所述测试端子在所述基底上的正投影覆盖对应的所述通孔在所述基底上的正投影。
11、可选的，在本申请的一些实施例中，所述驱动电路单元还包括感应晶体管，所述感应晶体管的输出端连接所述驱动晶体管的输出端和所述测试端子。
12、可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括设置于所述基底与所述封装层之间的多条数据信号线、多条第一扫描信号线、多条第二扫描信号线、感应信号线、第一电源信号线和第二电源信号线；
13、所述驱动电路单元还包括开关晶体管和感应晶体管，所述开关晶体管的驱动端连接对应的所述第一扫描信号线，所述开关晶体管的输入端连接对应的所述数据信号线，所述开关晶体管的输出端连接对应的所述驱动晶体管的驱动端，所述驱动晶体管的输入端连接所述第一电源信号线，所述感应晶体管的驱动端连接所述第二扫描信号线，所述感应晶体管的输入端连接所述感应信号线。
14、可选的，在本申请的一些实施例中，所述基底为玻璃基底，所述子像素单元直接显示图像。
15、相应地，本申请还提供了一种显示面板的补偿方法，包括如下步骤：
16、提供一显示面板，所述显示面板包括：基底；多个子像素单元，设置于所述基底上，所述子像素单元包括驱动电路单元和发光二极管，所述驱动电路单元包括驱动晶体管，所述发光二极管包括第一电极和第二电极，所述驱动晶体管的输出端与所述第一电极连接；多个测试端子，所述测试端子连接对应的所述驱动晶体管的输出端；封装层，设置于多个所述子像素单元和多个所述测试端子上；其中，所述封装层包括多个通孔，所述测试端子通过对应的所述通孔露出；驱动系统；
17、提供一测试治具，所述测试治具包括多个探针，所述探针与所述测试端子对应设置；
18、将所述测试治具上的多个所述探针与多个所述测试端子对应接触连接；
19、通过所述测试治具测试多个所述测试端子上的电压；
20、将从多个所述测试端子上测得的电压转变为对应子像素中的驱动晶体管的的阈值电压的补偿电压；
21、将所述补偿电压烧录进所述驱动系统。
22、可选的，在本申请的一些实施例中，所述测试治具按照不同时序测试所述显示面板上不同子像素的所述测试端子的电压。
23、本申请实施例中，提供了一种显示面板及其补偿方法，一种显示面板包括：基底；多个子像素单元，设置于基底上，子像素单元包括驱动电路单元和发光二极管，驱动电路单元包括驱动晶体管，发光二极管包括第一电极和第二电极，驱动晶体管的输出端与第一电极连接；多个测试端子，测试端子连接对应的驱动晶体管的输出端。在本申请中，测试端子连接对应的驱动晶体管的输出端，因此可以采用对应的测试治具测量每一个子像素中驱动晶体管的阈值电压(vth)，并将测得的每一个子像素中驱动晶体管的阈值电压转变为补偿电压，由于是直接测量每一个子像素中驱动晶体管的阈值电压，因此，若微型发光二极管显示面板存在异常，例如，某一子像素漏电时，也不会影响其他子像素的电压测量，从而可以提升驱动晶体管的阈值电压的侦测的准确性，并提供准确的电压补偿。
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1.一种显示面板，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：
3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素单元与所述测试端子一一对应。
4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素单元在基底上的正投影覆盖对应的所述测试端子在基底上的正投影。
5.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述测试端子在所述基底上的正投影覆盖对应的所述通孔在所述基底上的正投影。
6.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
7.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括设置于所述基底与所述封装层之间的多条数据信号线、多条第一扫描信号线、多条第二扫描信号线、感应信号线、第一电源信号线和第二电源信号线；
8.如权利要求1至7中任一项所述的显示面板，其特征在于，所述基底为玻璃基底，所述子像素单元直接显示图像。
9.一种显示面板的补偿方法，其特征在于，包括如下步骤：
10.如权利要求9所述的显示面板的补偿方法，其特征在于，所述测试治具按照
...【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：
3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素单元与所述测试端子一一对应。
4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素单元在基底上的正投影覆盖对应的所述测试端子在基底上的正投影。
5.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述测试端子在所述基底上的正投影覆盖对应的所述通孔在所述基底上的正投影。
6.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋纯干，
申请(专利权)人：TCL华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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