【技术实现步骤摘要】
本申请涉及数字芯片检查测试机和测试，特别是涉及一种测试流程的生成方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、在数字芯片功能测试的过程中，测试流程控制界面(test flow view，以下简称为flow视图界面）以其直观的表现形式以及方便快捷的人机交互特性，成为芯片测试机软件的重要组成部分。
2、现有的大部分芯片测试机软件测试的flow界面中，被测芯片（ device undertest，简称dut）的每一个测试项通过连线进行连接，测试结果和分bin信息（按照预设规则对测试结果进行分组得到的分组信息）也通过连线进行控制。在进行芯片测试时，flow视图界面从起始位置start项开始，依据每一个测试项连接顺序依次进行测试，以连接end项作为测试流程结束的判断标志。
3、但是，目前在设置被测芯片的所有测试项流程时，需要手动将每一个测试项依次连接起来。当需要测试近百个测试项时，就需要进行大量重复的人工操作，这个过程耗时耗力。
技术实现思路
1、基于此，...
【技术保护点】
1.一种测试流程的生成方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述测试项的像素宽度，将多个所述测试项重排布至所述测试流程控制界面中对应的区域，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据同一区域内重排布后的每个所述测试项在第一方向上的第一坐标，确定重排布后的每个所述测试项之间的磁吸连接关系，并按照所述磁吸连接关系依次连接每个所述测试项形成与每个所述区域对应的测试项序列，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述搜索相邻区域的测试项序列之间的连接路径，根据所述连...
【技术特征摘要】
1.一种测试流程的生成方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述测试项的像素宽度，将多个所述测试项重排布至所述测试流程控制界面中对应的区域，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据同一区域内重排布后的每个所述测试项在第一方向上的第一坐标，确定重排布后的每个所述测试项之间的磁吸连接关系，并按照所述磁吸连接关系依次连接每个所述测试项形成与每个所述区域对应的测试项序列，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述搜索相邻区域的测试项序列之间的连接路径，根据所述连接路径依次...
【专利技术属性】
技术研发人员：金晓彬，上官晨曦，吴珂，樊泳博，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。