【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及贵金属回收,具体涉及一种芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法。
技术介绍
1、目前,在led芯片的蒸镀成膜制程中,蒸镀机真空腔腔体内的金属材料被加热熔融气化成材料蒸汽,沉积在晶圆上,在这个过程中,放置晶圆的镀锅和周围的防着板上累积的金属材料薄膜越来越厚,对腔体的气氛造成不利影响,并且薄膜过厚也会有脱落的风险。在蒸镀成膜制程中,一般将铝-锡-铬-钛-铂-金这几种金属薄膜材料一层一层蒸镀成膜,一直循环到设备维护,此时蒸镀机的组件防着板和镀锅上一般都会覆盖很厚的金属膜层,膜层中金和铂的质量占比甚至能达到90%以上,因此膜层具有很高的回收价值。综上,防着板和镀锅需要定期清洗再生,并且对膜层中的贵金属进行回收是有必要的。
2、然而对覆盖有金属膜层的组件防着板和镀锅的清洗难度非常大,反应活性低的金铂膜层会将活性高的铝锡膜层覆盖,而铝锡膜层厚度薄,一般只有0.1-0.5μm,金铂膜层厚度却有5-10μm,使该金属膜层难以被清洗剥落下来。
3、目前,防着板与镀锅的清洗再生及贵金属回收方法普遍有两种方式,一种
...【技术保护点】
1.一种芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.根据权利要求1所述的芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,所述酸性药水包括如下重量百分比组分:硫酸钾1-5%,氯化钠1-3%,硝酸钾3-5%,不锈钢钝化剂0.5-1%,PH稳定剂1-5%,水余量。
3.根据权利要求1所述的芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,所述碱性药水包括如下组分:氢氧化钾3-8g/L,碘化钾3-12g/L,十二烷基肌氨酸钠0.5-3g/L,脱金促进剂8-15g/L。
4.根据权利要求1所
...【技术特征摘要】
1.一种芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.根据权利要求1所述的芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,所述酸性药水包括如下重量百分比组分:硫酸钾1-5%,氯化钠1-3%,硝酸钾3-5%,不锈钢钝化剂0.5-1%,ph稳定剂1-5%,水余量。
3.根据权利要求1所述的芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,所述碱性药水包括如下组分:氢氧化钾3-8g/l,碘化钾3-12g/l,十二烷基肌氨酸钠0.5-3g/l,脱金促进剂8-15g/l。
4.根据权利要求1所述的芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回收方法,其特征在于,步骤1)中的超声波频率为130khz,步骤2)中的超声波频率为130khz,步骤3)中的超声波频率为26-52khz。
5.根据权利要求1所述的芯片镀膜制程中组件的清洗再生及贵金属回...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱振华,蒋发权,何天阳,黄世盛,张俊锋,侯美丹,谭明亮,杨智康,刘贤荣,
申请(专利权)人:励福江门环保科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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