【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学同调断层扫描技术，特别涉及一种手持式扫描探头及光学扫描系统。
技术介绍
1、光学同调断层扫描技术(optical coherence tomography,oct)可应用于对物体表面进行扫描。oct技术与超音波技术相似，最大不同在于oct是利用近红外光束，光经过待测物之后会经由待测物的结构产生背向散射信号，再藉由接收不同深度结构所产生的背向散射信号即可获得此待测物的深度结构信息。
技术实现思路
1、专利技术人认为现有技术中的光学同调断层扫描系统所使用的手持式扫描探头体积大且重量重，因为手持式扫描探头中的光学结构的光路采垂直光路设计，即oct的样品端光束入射到待测结构的方向与手持式扫描探头的探头出光方向相垂直。此外，因应上述设计的手持式扫描探头的外型具有明显的转折而不易握持。
2、鉴于现有技术的缺陷，专利技术人遂竭其心力提出一种手持式扫描探头及光学扫描系统，以使手持式扫描探头具有重量轻、体积小并易于握持的优点。
3、为达上述及其他目的，本专利技术的一个方面提供一种手持式扫描探头，其包括于光学扫描系统中。手持式扫描探头包含壳体以及设于壳体中的光学组件。光学组件包括第一透镜、反射镜、二维光束扫描机构、分光器以及第二透镜。第一透镜用于接收经光纤耦合暨分光器分光后的激光光束，并将激光光束转为平行光的形式。反射镜相对第一透镜设置且具有第一镜面。第一镜面用于折射激光光束，以改变激光光束的方向。二维光束扫描机构具有第二镜面。第二镜面相对第一镜面设置，以
4、为达上述及其他目的，本专利技术的另一个方面提供一种光学扫描系统，应用于对待测物进行扫描。光学扫描系统包含系统主机、上述手持式扫描探头、及连接于系统主机与手持式扫描探头之间的连接线缆。系统主机中设有光谱分析仪及用于提供光学扫描系统光源的光源模块。
5、为达上述及其他目的，本专利技术的又另一个方面提供一种手持式扫描探头，其包括于光学扫描系统中以对待测表面进行扫描。手持式扫描探头包含壳体、设于壳体中的光学组件、光纤耦合暨分光器、及干涉仪参考端。光纤耦合暨分光器用于将光学扫描系统光源分光为参考端光束及扫描端光束，以及接收光学扫描系统光源。参考端光束进入干涉仪参考端且由干涉仪参考端反射回到光纤耦合暨分光器。扫描端光束经由待测表面所对应的待测物散射或反射后亦回到光纤耦合暨分光器。
6、在实施例中，手持式扫描探头更包含设于壳体中的二维相机、第三透镜、及照明模块。二维相机在非平行于摆动光束的方向上与分光器相对设置。第三透镜位于二维相机与分光器之间。第二透镜位于分光器与照明模块之间。照明模块用于对待测表面进行照明。
7、在实施例中，手持式扫描探头还包含外露于壳体的聚焦深度调整部。聚焦深度调整部用于调整第二透镜与待测物的待测表面之间的距离。
8、在实施例中，连接线缆包括光纤。光纤耦合暨分光器通过光纤接收光学扫描系统光源，以将光学扫描系统光源分光为参考端光束及扫描端光束。经干涉仪参考端反射的参考端光束、及经待测物散射的扫描端光束再回到光纤耦合暨分光器后，再通过光纤回到系统主机的光谱分析仪中进行分析，以得到扫描图像。
9、藉此，本专利技术实施例的手持式扫描探头及光学扫描系统，因在第一透镜与二维光束扫描机构之间设有反射镜，因此激光光束从第一透镜入射的角度可不垂直于从第二透镜出射的角度，壳体因此可无须具有明显转折的外型，从而可降低体积、减轻重量以及便于人手握持。
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1.一种手持式扫描探头，其包括于光学扫描系统中，其特征在于，所述手持式扫描探头包含：
2.根据权利要求1所述的手持式扫描探头，其特征在于，还包含设于所述壳体中的二维相机、第三透镜、及照明模块，所述二维相机在非平行于所述摆动光束的方向上与所述分光器相对设置，所述第三透镜位于所述二维相机与所述分光器之间，所述第二透镜位于所述分光器与所述照明模块之间，所述照明模块用于对所述待测表面进行照明。
3.根据权利要求2所述的手持式扫描探头，其特征在于，所述第三透镜与所述第二透镜的距离为两者透镜焦距长度总和，且所述手持式扫描探头还包含外露于所述壳体的聚焦深度调整部，所述聚焦深度调整部用于调整所述第二透镜及所述待测表面的距离。
4.根据权利要求1所述的手持式扫描探头，其特征在于，还包含设于所述壳体中的所述光纤耦合暨分光器及干涉仪参考端，所述光纤耦合暨分光器用于接收光学扫描系统光源，以将所述光学扫描系统光源分光为参考端光束及所述扫描端光束，所述参考端光束进入所述干涉仪参考端，所述参考端光束由所述干涉仪参考端反射回到所述光纤耦合暨分光器，所述扫描端光束经由所述待测物
5.根据权利要求4所述的手持式扫描探头，其特征在于，所述光学扫描系统还包括系统主机，所述系统主机中设有光谱分析仪及用于提供所述光学扫描系统光源的光源模块，所述光学扫描系统光源经由光纤提供给所述光纤耦合暨分光器，经所述干涉仪参考端反射的所述参考端光束、及经所述待测物散射或反射的所述扫描端光束再回到所述光纤耦合暨分光器后，用于通过所述光纤回到所述系统主机的所述光谱分析仪中进行分析，以得到扫描图像。
6.一种光学扫描系统，应用于对待测表面进行扫描，所述光学扫描系统包含系统主机、手持式扫描探头、及连接于所述系统主机与所述手持式扫描探头之间的连接线缆，
7.根据权利要求6所述的光学扫描系统，其特征在于，所述手持式扫描探头还包括设于所述壳体中的二维相机、第三透镜、照明模块、及聚焦深度调整部，所述二维相机在非平行于所述摆动光束的方向上与所述分光器相对设置，所述第三透镜位于所述二维相机与所述分光器之间，所述第二透镜位于所述分光器与所述照明模块之间，所述照明模块用于对所述待测表面进行照明，所述第三透镜与所述第二透镜的距离为两者透镜焦距长度总和，所述聚焦深度调整部外露于所述壳体并用于调整所述第二透镜与所述待测表面之间的距离。
8.根据权利要求6所述的光学扫描系统，其特征在于，所述手持式扫描探头还包括设于所述壳体中的光纤耦合暨分光器及干涉仪参考端，所述连接线缆包括光纤，所述光纤耦合暨分光器用于通过所述光纤接收所述光学扫描系统光源，以将所述光学扫描系统光源分光为参考端光束及所述扫描端光束，所述参考端光束进入所述干涉仪参考端，所述参考端光束由所述干涉仪参考端反射回到所述光纤耦合暨分光器，所述扫描端光束经由所述待测物散射或反射后亦回到所述光纤耦合暨分光器，经所述干涉仪参考端反射的所述参考端光束、及经所述待测物表面散射或反射的所述扫描端光束在回到所述光纤耦合暨分光器后，用于通过所述光纤回到所述系统主机的所述光谱分析仪中进行分析，以得到扫描图像。
9.一种手持式扫描探头，其包括于光学扫描系统中以对待测物的待测表面进行扫描，其特征在于，所述手持式扫描探头包含壳体、设于所述壳体中的光学组件、设于所述壳体中的光纤耦合暨分光器、及设于所述壳体中的干涉仪参考端，
10.根据权利要求9所述的手持式扫描探头，其特征在于，所述光学扫描系统更包括系统主机，所述系统主机中设有光谱分析仪及用于提供所述光学扫描系统光源的光源模块，所述光学扫描系统光源经由光纤提供给所述光纤耦合暨分光器，经所述干涉仪参考端反射的所述参考端光束、及经所述待测物散射或反射的所述扫描端光束在回到所述光纤耦合暨分光器后，用于通过所述光纤回到所述系统主机的所述光谱分析仪中进行分析，以得到扫描图像。
...【技术特征摘要】
1.一种手持式扫描探头，其包括于光学扫描系统中，其特征在于，所述手持式扫描探头包含：
2.根据权利要求1所述的手持式扫描探头，其特征在于，还包含设于所述壳体中的二维相机、第三透镜、及照明模块，所述二维相机在非平行于所述摆动光束的方向上与所述分光器相对设置，所述第三透镜位于所述二维相机与所述分光器之间，所述第二透镜位于所述分光器与所述照明模块之间，所述照明模块用于对所述待测表面进行照明。
3.根据权利要求2所述的手持式扫描探头，其特征在于，所述第三透镜与所述第二透镜的距离为两者透镜焦距长度总和，且所述手持式扫描探头还包含外露于所述壳体的聚焦深度调整部，所述聚焦深度调整部用于调整所述第二透镜及所述待测表面的距离。
4.根据权利要求1所述的手持式扫描探头，其特征在于，还包含设于所述壳体中的所述光纤耦合暨分光器及干涉仪参考端，所述光纤耦合暨分光器用于接收光学扫描系统光源，以将所述光学扫描系统光源分光为参考端光束及所述扫描端光束，所述参考端光束进入所述干涉仪参考端，所述参考端光束由所述干涉仪参考端反射回到所述光纤耦合暨分光器，所述扫描端光束经由所述待测物散射或反射后亦回到所述光纤耦合暨分光器。
5.根据权利要求4所述的手持式扫描探头，其特征在于，所述光学扫描系统还包括系统主机，所述系统主机中设有光谱分析仪及用于提供所述光学扫描系统光源的光源模块，所述光学扫描系统光源经由光纤提供给所述光纤耦合暨分光器，经所述干涉仪参考端反射的所述参考端光束、及经所述待测物散射或反射的所述扫描端光束再回到所述光纤耦合暨分光器后，用于通过所述光纤回到所述系统主机的所述光谱分析仪中进行分析，以得到扫描图像。
6.一种光学扫描系统，应用于对待测表面进行扫描，所述光学扫描系统包含系统主机、手持式扫描探头、及连接于所述系统主机与所述手持式扫描探头之间的连接线缆，
7.根据权利要求6所述的光学扫描系统，其特征在于，所述手持...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡孟灿，张峰瑜，黄柏慧，
申请(专利权)人：芯圣科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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