【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试，尤其是指一种测试探针。
技术介绍
1、测试探针的结构一般是由针管、针轴、弹簧三部分组成，弹簧和针轴置于针管内部，在针管两端口采用收铆缩口方式，使针轴、弹簧限制在针管内，形成一个整体结构。测试时，针轴接触被测件向针管内移动，从而挤压弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针轴，针轴与被测件在弹簧力的作用下良好接触，便可进行测试。在专利申请号为cn202110389294.1、专利申请名称为一种双头双动大电流测试探针的专利中公开了：针管；第一针轴，所述第一针轴包含第一针杆，所述第一针杆滑动设置在所述针管内，第一针杆的一端设置有第一针头，所述第一针头从所述针管的一端伸出，第一针杆的另一端设置有针尾，所述针尾设置有麻花针；第二针轴，所述第二针轴包含第二针杆，所述第二针杆滑动设置在所述针管中，第二针杆的一端设置有第二针头，所述第二针头从所述针管的另一端伸出，第二针杆内设置有内孔，所述麻花针伸入所述内孔中；弹簧，所述弹簧设置在所述针管内，所述弹簧位于第一针轴与第二针轴之间。此专利申请中的麻花针与内孔采用滑动多点接触，结构复杂，加工和安装难度大；电流通过麻花针与内孔进行传输，电流在传输过程中会流经多个零部件，使得电流输送过程中的不稳定因素增大，大电流造成的探针或弹簧烧损及测试数据误测率高。因此，缺陷十分明显，亟需提供一种解决方案。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本技术的目的在于提供一种测试探针。
2、为了实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
3、一种测试探
4、进一步地，所述连接部、抵触部和探头为一体式构造。
5、进一步地，所述连接部远离抵触部的一端向内凹设有容置腔。
6、进一步地，所述测试探针还包括导线，所述导线的一端与容置腔的内壁连接；所述导线的另一端突伸至壳体外并与外部测试设备连接。
7、进一步地，所述壳体包括第一壳体、与第一壳体盖合的第二壳体、由第二壳体和第一壳体的内壁围设而成的安装腔及设置于安装腔内的限位台阶，所述连接部、抵触部和探头均设置于安装腔内并与安装腔的内侧壁滑动连接；所述弹性件设置于安装腔内并能与限位台阶抵触。
8、进一步地，所述连接部、抵触部、探头和弹性件组成一个测试组件，所述测试组件的数量设置为多个。
9、进一步地，所述抵触部和所述连接部的投影视图呈圆形，所述抵触部的直径大于连接部的直径。
10、进一步地，所述弹性件采用弹簧。
11、本技术的有益效果：本技术的电流可直接通过探头、抵触部和连接部传输至外部检测设备，减少了电流传输至外部检测设备所需要的媒介物或零部件，从而简化了本技术的结构，提高了电流在传输过程中的稳定性，可用于大电流的传输或测试。由于探头、抵触部和连接部为一体式构造且接触良好，大电流通过探头、抵触部和连接部时的电流稳定，有利于大电流的精准测试，还能避免弹性件被烧损。
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1.一种测试探针，其特征在于：包括壳体(1)、设置于壳体(1)内的弹性件(2)及分别滑动地设置于壳体(1)内的连接部(3)、抵触部(4)和探头(5)，所述抵触部(4)分别与探头(5)和连接部(3)连接，所述弹性件(2)套设于连接部(3)外并分别与壳体(1)的内壁和抵触部(4)抵触；所述探头(5)能滑动至壳体(1)外。
2.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述连接部(3)、抵触部(4)和探头(5)为一体式构造。
3.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述连接部(3)远离抵触部(4)的一端向内凹设有容置腔(6)。
4.根据权利要求3所述的一种测试探针，其特征在于：所述测试探针还包括导线(7)，所述导线(7)的一端与容置腔(6)的内壁连接；所述导线(7)的另一端突伸至壳体(1)外并与外部测试设备连接。
5.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述壳体(1)包括第一壳体(8)、与第一壳体(8)盖合的第二壳体(9)、由第二壳体(9)和第一壳体(8)的内壁围设而成的安装腔(10)及设置于安装腔(10)内的限位
6.根据权利要求1-5任意一项所述的一种测试探针，其特征在于：所述连接部(3)、抵触部(4)、探头(5)和弹性件(2)组成一个测试组件，所述测试组件的数量设置为多个。
7.根据权利要求1-5任意一项所述的一种测试探针，其特征在于：所述抵触部(4)和所述连接部(3)的投影视图呈圆形，所述抵触部(4)的直径大于连接部(3)的直径。
8.根据权利要求1-5任意一项所述的一种测试探针，其特征在于：所述弹性件(2)采用弹簧。
...【技术特征摘要】
1.一种测试探针，其特征在于：包括壳体(1)、设置于壳体(1)内的弹性件(2)及分别滑动地设置于壳体(1)内的连接部(3)、抵触部(4)和探头(5)，所述抵触部(4)分别与探头(5)和连接部(3)连接，所述弹性件(2)套设于连接部(3)外并分别与壳体(1)的内壁和抵触部(4)抵触；所述探头(5)能滑动至壳体(1)外。
2.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述连接部(3)、抵触部(4)和探头(5)为一体式构造。
3.根据权利要求1所述的一种测试探针，其特征在于：所述连接部(3)远离抵触部(4)的一端向内凹设有容置腔(6)。
4.根据权利要求3所述的一种测试探针，其特征在于：所述测试探针还包括导线(7)，所述导线(7)的一端与容置腔(6)的内壁连接；所述导线(7)的另一端突伸至壳体(1)外并与外部测试设备连接。
5.根据权利要求1所述的一种测试探针...
【专利技术属性】
技术研发人员：严若红，黄文辉，
申请(专利权)人：东莞市硅翔绝缘材料有限公司，
类型：新型
国别省市：
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