【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学元件测试，尤其涉及一种相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法。
技术介绍
1、对于动态晶圆级微透镜阵列的投影系统，例如图1，沿光轴方向依次包括发光装置100、微透镜阵列200和成像装置300，发光装置包括4个led光源，每个led光源发出的光对应入射至微透镜阵列200不同的四分之一区域，并于成像装置300不同的四分之一区域面上投射图案。但是，不同的led光源发出的光在成像装置300对应区域上的投影图案之间的图案连接处存在连接过度或是存在连接间隙的问题。比如，第一led光源110发出的光经微透镜阵列200相应区域并于成像装置的第一投影区域310内形成投影图案，第二led光源120发出的光经微透镜阵列200相应区域并于成像装置的第二投影区域320内形成投影图案。若第一led光源110和第二led光源120同时开启，正常情况下，则是要求在第一投影区域310形成的投影图案和在第二投影区域320上形成投影图案之间的连接处，不能存在图案叠加或是不能存在间隙。
2、目前现有的方案只能通过在暗房投影后目视确认相邻...
【技术保护点】
1.一种相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“获取至少包括相邻两投影区域的图片上每个像素点的第一亮度数据”具体包括：
3.根据权利要求1所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“根据所述特定投影区域范围内像素点的第二亮度数据的变化规律，判断所述相邻两投影区域的投影图案是否存在位置偏差”具体包括：
4.根据权利要求3所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“根据...
【技术特征摘要】
1.一种相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“获取至少包括相邻两投影区域的图片上每个像素点的第一亮度数据”具体包括：
3.根据权利要求1所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“根据所述特定投影区域范围内像素点的第二亮度数据的变化规律，判断所述相邻两投影区域的投影图案是否存在位置偏差”具体包括：
4.根据权利要求3所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“根据所述第三亮度数据的变化规律，判断所述相邻两投影区域的投影图案是否存在位置偏差”具体包括：
5.根据权利要求4所述的相邻投影区域的投影图案是否存在位置偏差的测试方法，其特征在于，“若所述第三亮度数据中的亮度值变化偏离预设的正常亮度变化趋势，则判断所述相邻两投影区域的投影图案之间存在位置偏差”具体包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：汪华剑，杨剑宏，卢馨馨，
申请(专利权)人：苏州晶方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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