【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片，具体地涉及一种霍尔芯片校准结构、一种霍尔芯片校准系统及一种霍尔芯片。
技术介绍
1、霍尔芯片使用的是霍尔效应半导体。霍尔效应指的是磁场被作用于载流半导体跟金属导体中的载流子时横向电位差距的物理现象。常见的霍尔芯片包括霍尔电流传感器。
2、现有的霍尔芯片在进行校准时，大部分都是在霍尔芯片外部建立校准装置，比如：校准装置包括校准绕组，检零线圈，校准电流源和激励检流器，激励检流绕组的两端分别连接激励检流器，以使激励检流器测量激励检流绕组的电流；激励检流器根据测量的激励检流绕组的电流调节校准电流源的输出电流，能对霍尔电流传感器进行在线的零点校准。
3、这种在霍尔芯片外部通过搭建校准装置来实现校准，由于校准装置一般都是由电路或是模组构成，使得校准装置存在误差，导致校准不够准确。
技术实现思路
1、本技术实施例的目的是提供一种霍尔芯片校准结构、一种霍尔芯片校准系统、一种霍尔芯片、该霍尔芯片校准结构能够减少校准误差，提高校准结果的准确度。
2、为了实现...
【技术保护点】
1.一种霍尔芯片校准结构，其特征在于，包括：至少一个校验霍尔盘，所述校验霍尔盘的外形与待校准霍尔芯片中用于功能实现的霍尔盘的外形相同；所述校验霍尔盘设置有输入端和输出端，所述校验霍尔盘的输入端与外部激励的输出端连接，所述校验霍尔盘的输出端用于输出霍尔电压。
2.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述霍尔芯片校准结构设置于所述待校准霍尔芯片的内部。
3.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述校验霍尔盘连接有多个PAD，所述多个PAD分别作为所述校验霍尔盘的输入端和输出端。
4.根据权利要求1所述的霍尔芯...
【技术特征摘要】
1.一种霍尔芯片校准结构，其特征在于，包括：至少一个校验霍尔盘，所述校验霍尔盘的外形与待校准霍尔芯片中用于功能实现的霍尔盘的外形相同；所述校验霍尔盘设置有输入端和输出端，所述校验霍尔盘的输入端与外部激励的输出端连接，所述校验霍尔盘的输出端用于输出霍尔电压。
2.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述霍尔芯片校准结构设置于所述待校准霍尔芯片的内部。
3.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述校验霍尔盘连接有多个pad，所述多个pad分别作为所述校验霍尔盘的输入端和输出端。
4.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述校验霍尔盘的外形包括矩形、正方形、十字形和八边形。
5.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述校验霍尔盘的尺寸与待校准霍尔芯片中用于功能实现的霍尔盘的尺寸之间存在比例关系。
6.根据权利要求1所述的霍尔芯片校准结构，其特征在于，所述校验霍尔盘为多个，各个校验霍尔盘的...
【专利技术属性】
技术研发人员：李佩笑，姜帅，王浩，方东明，孙恒超，季润可，陶毅，王蔓蓉，闻志国，李良，杜君，王祥，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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