【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光纤几何参数测试，尤其涉及一种光纤几何参数测试系统及测试方法。
技术介绍
1、随着网络的普及以及干线光缆网传输能力的不断提高，光纤接入网已成为光通信发展的重点之一，对光纤的质量检测也日益重要，而光纤的几何尺寸测试是光纤质量检测的重要测试内容之一。
2、目前，对光纤几何参数测试方式是用光纤夹具夹持被测光纤试样，并使被测光纤试样处于平直状态，在被测光纤试样的一端设置照明光源，用物镜测试被测光纤试样的另一端端面并成像，由摄像头拍摄物镜的成像图像并输送给控制器，由控制器根据摄像头拍摄到的图像计算获得被测光纤试样的几何尺寸。但是，这种测试方式一次只能进行一根光纤的几何参数测试，不具备光纤几何参数的批量测试能力，尤其当大批量进行测试时，就会导致测试耗时较长的问题。
3、因此，有必要提供一种新的技术方案以解决上述技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种光纤几何参数测试系统及测试方法，用以解决现有技术中的光纤几何参数测试装置一次只能进行一根光纤的几何参数测试，当需要测试大批量的光纤时会存在耗时较长的问题。
2、本专利技术提供一种光纤几何参数测试系统，包括光源以及沿所述光源光轴方向依次设置的达曼光栅、光纤夹具单元、镜头单元以及探测器，还包括控制器，所述探测器与所述控制器连接；
3、所述光纤夹具单元用于夹持多个待测光纤，多个所述待测光纤沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成待测光纤阵列，并且多个所述待测光纤的轴向均平行于所述光源的光轴
4、其中，所述光源发出的光束经所述达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个所述待测光纤的一端端面上，所述镜头单元用于对多个所述待测光纤的另一端端面进行成像，所述探测器用于采集所述镜头单元的成像图像并存储至所述控制器中，所述控制器通过图像处理得到所述待测光纤阵列的几何参数。
5、可选的，在垂直于所述光源光轴方向的平面上，多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列，所述聚焦光斑阵列与所述待测光纤阵列重叠，并且所述聚焦光斑阵列中聚焦光斑的直径大于或等于所述待测光纤阵列中的待测光纤的直径。
6、可选的，所述聚焦光斑的中心点与所述待测光纤的轴心点重合。
7、可选的，所述光纤几何参数测试系统还包括光纤准直器，所述光纤准直器位于所述光源与所述达曼光栅之间并沿所述光源的光轴方向设置，所述光源与所述光纤准直器通过第一光纤连接，所述光源发出的光束通过所述光纤准直器准直后射向所述达曼光栅。
8、可选的，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光纤准直器与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。
9、可选的，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。
10、可选的，所述光纤夹具单元包括多个光纤夹具和一个第一调整架，多个所述光纤夹具安装在所述第一调整架上，所述第一调整架与所述控制器连接，多个所述光纤夹具沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成光纤夹具阵列，所述待测光纤阵列对应的夹持在所述光纤夹具阵列上，所述控制器还用于控制所述第一调整架移动以调整所述待测光纤阵列的位置；
11、所述光纤几何参数测试系统还包括第二调整架，所述探测器安装在所述第二调整架上，所述第二调整架与所述控制器连接，所述控制器还用于控制所述第二调整架移动以调整所述探测器的位置。
12、本专利技术还提供一种光纤几何参数测试方法，采用如上任一项所述的光纤几何参数测试系统进行测试，包括以下步骤：
13、步骤1，将多个待测光纤沿垂直于光源的光轴方向安装在光纤夹具单元上以形成待测光纤阵列，并且多个所述待测光纤的轴向均平行于所述光源的光轴方向；
14、步骤2，打开光源，所述光源发出的光束经达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个所述待测光纤的一端端面上，多个所述待测光纤的另一端端面成像在镜头单元上；
15、步骤3，探测器采集所述镜头单元的成像图像，并存储至控制器中；
16、步骤4，所述控制器对探测器采集的成像图像进行图像处理，并获取所述待测光纤阵列的几何参数。
17、可选的，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光源与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接；
18、当需要切换所述滤光片时，所述测试方法还包括以下步骤：
19、所述控制器向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。
20、可选的，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接；
21、当需要切换所述成像镜头时，所述测试方法还包括以下步骤：
22、所述控制器向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。
23、本专利技术的上述技术方案具有以下有益效果：
24、本专利技术提供的一种光纤几何参数测试系统及测试方法，通过在光源的光轴方向上设置待测光纤阵列，以及在光源与待测光纤阵列之间设置达曼光栅，光源发出的光束经达曼光栅分为多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个待测光纤的一端端面上，镜头单元可以对多个待测光纤的另一端端面进行成像，探测器可以采集镜头单元的成像图像并存储至控制器中，控制器通过图像处理得到待测光纤阵列的几何参数，从而实现了大量光纤的批量测试，节省了测试时间，提升了测试效率。
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1.一种光纤几何参数测试系统，其特征在于，包括光源以及沿所述光源光轴方向依次设置的达曼光栅、光纤夹具单元、镜头单元以及探测器，还包括控制器，所述探测器与所述控制器连接；
2.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，在垂直于所述光源光轴方向的平面上，多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列，所述聚焦光斑阵列与所述待测光纤阵列重叠，并且所述聚焦光斑阵列中聚焦光斑的直径大于或等于所述待测光纤阵列中的待测光纤的直径。
3.根据权利要求2所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述聚焦光斑的中心点与所述待测光纤的轴心点重合。
4.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括光纤准直器，所述光纤准直器位于所述光源与所述达曼光栅之间并沿所述光源的光轴方向设置，所述光源与所述光纤准直器通过第一光纤连接，所述光源发出的光束通过所述光纤准直器准直后射向所述达曼光栅。
5.根据权利要求4所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光纤准直器与所述达曼
6.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。
7.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤夹具单元包括多个光纤夹具和一个第一调整架，多个所述光纤夹具安装在所述第一调整架上，所述第一调整架与所述控制器连接，多个所述光纤夹具沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成光纤夹具阵列，所述待测光纤阵列对应的夹持在所述光纤夹具阵列上，所述控制器还用于控制所述第一调整架移动以调整所述待测光纤阵列的位置；
8.一种光纤几何参数测试方法，采用权利要求1-7任一项所述的光纤几何参数测试系统进行测试，其特征在于，包括以下步骤：
9.根据权利要求8所述的光纤几何参数测试方法，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光源与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接；
10.根据权利要求8所述的光纤几何参数测试方法，其特征在于，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接；
...【技术特征摘要】
1.一种光纤几何参数测试系统，其特征在于，包括光源以及沿所述光源光轴方向依次设置的达曼光栅、光纤夹具单元、镜头单元以及探测器，还包括控制器，所述探测器与所述控制器连接；
2.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，在垂直于所述光源光轴方向的平面上，多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列，所述聚焦光斑阵列与所述待测光纤阵列重叠，并且所述聚焦光斑阵列中聚焦光斑的直径大于或等于所述待测光纤阵列中的待测光纤的直径。
3.根据权利要求2所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述聚焦光斑的中心点与所述待测光纤的轴心点重合。
4.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括光纤准直器，所述光纤准直器位于所述光源与所述达曼光栅之间并沿所述光源的光轴方向设置，所述光源与所述光纤准直器通过第一光纤连接，所述光源发出的光束通过所述光纤准直器准直后射向所述达曼光栅。
5.根据权利要求4所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光纤准直器与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。
6.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述镜头单元包括镜...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙志伟，魏忆申，胡清华，孙锐，唐亮，
申请(专利权)人：武汉镱得飞光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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