【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及片上光电子器件优化,具体涉及一种面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法。
技术介绍
1、由于硅基光电子集成器件与cmos工艺具有高度兼容性和高折射率材料的优势,它能够以较低成本实现有效的光电器件集成,从而引起了广泛的关注。然而,高折射率差异虽然显著增强了波导对光的束缚能力,却也导致波导与光纤之间存在较大的模式失配,进而引起了高输入输出损耗的问题。为解决这一问题,光栅耦合器成为硅基光电子芯片上重要的输入输出器件。
2、传统的均匀光栅耦合器由于衍射光场呈指数形式衰减,与高斯模场的光纤不匹配,因此存在一定的问题。而非均匀光栅耦合器通常需要人工调整以满足设计要求,否则难以匹配高斯型的光纤模斑,难以实现高耦合效率。比如,关于光栅耦合的论文mu mwavelength grating coupler,bent waveguide,and tunable microring on siliconphotonic mpw(文献一)和文献passive devices at 2μmwavelengthon 200mmcmos-c
...【技术保护点】
1.一种面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.根据权利要求1所述的面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于:步骤S4中,停止迭代优化的条件包括:当光栅耦合器的优化程度小于设定阈值时,停止优化,或者,
3.根据权利要求1或2所述的面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于:步骤S1中,所述光栅耦合器的初始结构包括波导、设置在波导下表面的掩埋层,及设置在波导上表面的覆盖层,其中,所述波导沿长度方向设有若干个光栅槽,所述光栅耦合器的初始结构参数包括波导厚度、掩埋层厚度、覆盖层厚度和光栅槽位置。
>4.根据权利...
【技术特征摘要】
1.一种面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.根据权利要求1所述的面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于:步骤s4中,停止迭代优化的条件包括:当光栅耦合器的优化程度小于设定阈值时,停止优化,或者,
3.根据权利要求1或2所述的面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于:步骤s1中,所述光栅耦合器的初始结构包括波导、设置在波导下表面的掩埋层,及设置在波导上表面的覆盖层,其中,所述波导沿长度方向设有若干个光栅槽,所述光栅耦合器的初始结构参数包括波导厚度、掩埋层厚度、覆盖层厚度和光栅槽位置。
4.根据权利要求3所述的面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于:所述光栅耦合器的制作材料为绝缘体上硅、iii-v族材料或者聚合物。
5.根据权利要求4所述的面向光栅槽结构搜索的光栅耦合器优化方法,其特征在于:所述光栅耦合器的波导采用交错蚀刻结构,设...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐科,吴一凡,许杰锋,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学深圳哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院,
类型:发明
国别省市:
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