System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 检测系统及显示装置制造方法及图纸_技高网

检测系统及显示装置制造方法及图纸

技术编号:40236397 阅读:7 留言:0更新日期:2024-02-02 22:36
本申请实施例提供一种检测系统及显示装置。该检测系统包括主控模块以及与其电性连接的受控模块,两模块之间通过连接单元电性连接,其中,该主控模块包括控制器、波形驱动单元、连接单元、波形检测单元以及判断单元。其中,控制器用以向波形驱动单元提供检测信号,连接单元将波形驱动单元内的信号传输至波形检测单元内,判断单元在根据波形检测单元的输出信号对连接单元内的连通情况进行判断,当判断单元输出端的信号波形与控制器输出端的信号波形同步变化时,则该连接单元的导通性良好,该主控模块与受控模块之间的连接效果较好,产品具有较高的质量及稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示面板的电路检测,尤其涉及到一种检测系统及显示装置


技术介绍

1、随着驱动及控制技术的不断发展,人们对显示面板及显示装置的性能及质量提出了更高的要求。

2、显示面板及显示装置在正常工作时,其驱动及控制方式将直接影响到显示装置的工作效果及综合性能。同时随着有机发光显示装置应用领域的进一步扩大,如何进一步提高其驱动系统以及工作的稳定性也越来越被人们所重视。现有技术中制备得到的显示装置在工作时,由于不同器件之间需要进行连通,如对于amoled、micro-led、lcd以及mini-led等基于时序控制器(即,tcon)的显示系统及装置中,其主控板(例如control board)与其受控板(例如x-board)之间需要使用电缆线进行电性连接。而在采用电缆线连接过程中,随着面板的长时间使用,并且在使用过程中受到外界振动、安装以及在组装等因素的影响,很容易导致连接主控板与受控板之间的电缆线以及连接端出现松动甚至短路的情况出现,进而导致两不同模块之间出现连接不良以及其他连接效果不理想的问题,而当连接不良时就会阻碍各种控制信号的传输,难以保证显示系统及装置工作的稳定及质量,降低了显示装置的综合性能,亟需对上述不良的连接情况进行检测以查找不良产品。

3、综上所述,现有技术中制备得到的显示面板及装置,两不同的模块在通过电缆进行电连接时,往往存在着连接不良等连接不理想的问题。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供一种检测系统及显示装置,以有效的对显示装置内部不同模块之间连接电缆的连通性进行检测,从而查找内部不良的连接品,并提高产品的良率。

2、为解决上述技术问题,本专利技术实施例的第一方面,提供一种检测系统,包括:

3、主控模块以及与所述主控模块电性连接的受控模块,所述主控模块包括线路检测电路,所述线路检测电路用以检测所述主控模块与所述受控模块之间的连通,其中,所述主控模块包括:

4、控制器,所述控制器用以向波形驱动单元提供检测信号;

5、波形驱动单元,所述波形驱动单元接收所述检测信号;

6、连接单元,所述连接单元用以连接所述主控模块以及所述受控模块,并用以接收所述波形驱动单元的输出信号;

7、波形检测单元,所述波形检测单元与所述连接单元电连接,并用以接收所述连接单元的输出信号;以及,

8、判断单元,所述判断单元的一端与所述波形检测单元电连接,另一端与所述控制器电连接。

9、根据本专利技术一实施例,所述连接单元包括多条连接走线,所述连接走线的一端与所述主控模块上的第一连接端子电连接,所述连接走线的另一端与所述受控模块上的多个第二连接端子电连接。

10、根据本专利技术一实施例,所述波形驱动单元包括:

11、第一晶体管,所述第一晶体管的第一端口与vcc端以及第一电阻的一端电连接;

12、第一电阻,所述第一电阻的另一端与所述第一晶体管的第二端口以及第二电阻的一端电连接;

13、第二电阻,所述第二电阻的另一端与第二晶体管的第一端口电连接;

14、第二晶体管,所述第二晶体管的第二端口与第三电阻的一端电连接;

15、第三电阻,所述第三电阻的另一端与所述控制器的输出端电连接;

16、第七电阻,所述第七电阻的一端与所述第一晶体管的第三端口以及所述波形驱动单元的输出端电连接,所述第七电阻的另一端接地。

17、根据本专利技术一实施例,所述第一晶体管设置为pnp晶体管,所述第二晶体管设置为npn晶体管。

18、根据本专利技术一实施例,所述第二晶体管的两端电压大于等于0.6v时,所述第二晶体管开启。

19、根据本专利技术一实施例,所述主控模块还包括:

20、第一电容,所述第一电容的一端与所述连接单元的一端电连接,所述第一电容的另一端与第一二极管以及第二二极管的一端电连接;

21、第一二极管,所述第一二极管的另一端与第二电容的一端、第四电阻的一端以及所述波形检测单元的输出端电连接;

22、第二二极管,所述第二二极管的另一端接地;以及,

23、第二电容,所述第二电容的另一端与所述第四电阻的另一端电连接;

24、第四电阻,所述第四电阻的一端与所述波形检测单元的输出端以及所述第二电容的一端、所述第一晶体管的另一端电连接。

25、根据本专利技术一实施例,当所述连接单元的输入端存在波形信号时,所述波形检测单元的输出端的电压大于0。

26、根据本专利技术一实施例,所述判断单元还包括:

27、比较器,所述比较器的第一端与所述判断单元的输出端电连接,所述比较器的第二端与第五电阻的另一端以及所述第六电阻的一端电性连接,所述比较器的第三端与所述波形检测单元的输出端电性连接,所述比较器的第四端接地,且所述比较器的第五端与vcc端电连接;

28、第五电阻,所述第五电阻的一端与vcc端电连接;以及,

29、第六电阻,所述第六电阻的另一端接地。

30、根据本专利技术一实施例,所述判断单元另一端对应的输出信号的波形与所述控制器输出的所述检查信号的波形同步变化。

31、根据本专利技术实施例的第二方面,还提供一种显示装置,显示系统以及与所述显示系统电性连接的显示面板,所述显示系统用以向所述显示面板提供控制信号;

32、其中,所述驱动系统为本申请实施例中提供的检测系统。

33、本专利技术实施例的有益效果:相比现有技术,本申请实施例提供一种检测系统及显示装置。该检测系统包括主控模块以及与其电性连接的受控模块,两模块之间通过连接单元电性连接,其中,该主控模块包括控制器、波形驱动单元、连接单元、波形检测单元以及判断单元。其中,控制器用以向波形驱动单元提供检测信号,连接单元将波形驱动单元内的信号传输至波形检测单元内,判断单元在根据波形检测单元的输出信号对连接单元内的连通情况进行判断,当判断单元输出端的信号波形与控制器输出端的信号波形同步变化时,则该连接单元的导通性良好,该主控模块与受控模块之间的连接效果较好,产品具有较高的质量及稳定性。

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【技术保护点】

1.一种检测系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述连接单元包括多条连接走线,所述连接走线的一端与所述主控模块上的第一连接端子电连接,所述连接走线的另一端与所述受控模块上的第二连接端子电连接。

3.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述波形驱动单元包括:

4.根据权利要求3所述的检测系统,其特征在于,所述第一晶体管设置为PNP晶体管,所述第二晶体管设置为NPN晶体管。

5.根据权利要求4所述的检测系统,其特征在于,所述第二晶体管的两端电压大于等于0.6V时,所述第二晶体管开启。

6.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述主控模块还包括:

7.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,当所述连接单元的输入端存在波形信号时,所述波形检测单元的输出端的电压大于0。

8.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述判断单元还包括:

9.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述判断单元另一端对应的输出信号的波形与所述控制器输出的所述检测信号的波形同步变化。

10.一种显示装置,其特征在于,包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种检测系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述连接单元包括多条连接走线,所述连接走线的一端与所述主控模块上的第一连接端子电连接,所述连接走线的另一端与所述受控模块上的第二连接端子电连接。

3.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述波形驱动单元包括:

4.根据权利要求3所述的检测系统,其特征在于,所述第一晶体管设置为pnp晶体管,所述第二晶体管设置为npn晶体管。

5.根据权利要求4所述的检测系统,其特征在于,所述第二晶体管的两端电压...

【专利技术属性】
技术研发人员:高选全
申请(专利权)人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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