【技术实现步骤摘要】
本申请涉及手机安全，尤其涉及一种手机主板性能测试方法和系统。
技术介绍
1、主板拓扑是指手机中电子元件之间的连接关系，主板拓扑直接影响着手机的性能和可靠性。然而，随着主板拓扑复杂性的增加，主板拓扑也面临着越来越多的安全威胁和风险。为了有效地保护手机安全，识别主板拓扑中的关键电子元件变得尤为重要。关键电子元件是指对手机性能、稳定性和安全性具有重要影响的关键电子元件。
2、现有技术中，通常使用中心性算法计算主板拓扑中的关键电子元件的重要性。然而，随着手机服务的不断升级，主板拓扑结构也变得越来越复杂和多样化，随着电子元件链路的增多，在基于现有中心性算法的计算过程中，需要遍历所有的电子元件，导致计算量巨大，影响计算效率。而且，现有技术可以识别及确定核心电子元件的重要性，然而手机中很多边界电子元件也是手机维护和手机攻击的目标，现有技术无法计算边界电子元件的重要性。因此，如何计算主板拓扑中边界电子元件的重要性是亟待解决的问题。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的问题，本申请提供一种手机主板性能测试方法和系统，旨在提高计算主板拓扑中边界电子元件的重要性，提高手机性能。
2、第一方面，本申请提供一种手机主板性能测试方法，包括：
3、获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
4、根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元
5、根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
6、根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，包括：
7、在所述主板拓扑中，确定所述第一关键边界电子元件在所述规定跳数以内到达的电子元件的第一集合；
8、在所述主板拓扑中，确定所述第二关键边界电子元件在所述规定跳数以内到达的电子元件的第二集合；
9、基于所述第一集合和所述第二集合的并集，确定所述多个参考电子元件。
10、根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：
11、根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别使用公式（1）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性；
12、 公式（1）；
13、其中，表示规定跳数，表示基于规定跳数计算的电子元件的接近中心性，表示主板拓扑中的电子元件总数，表示各所述参考电子元件的个数，表示电子元件到参考电子元件的最短距离。
14、根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述方法还包括：
15、获取需求跳数；
16、根据所述需求跳数、所述规定跳数对应的所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
17、 公式（2）；
18、其中，表示电子元件的接近中心性的验证值，表示规定跳数，表示基于规定跳数计算的电子元件的接近中心性，表示需求跳数，表示基于跳数计算的电子元件的接近中心性，表示跳数与基于跳数计算的电子元件的接近中心性的相关系数。
19、根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件，包括：
20、获取所述主板拓扑中各个电子元件的目标属性；
21、根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件；所述目标属性用于指示电子元件所归属的域。
22、根据本申请提供的一种手机主板性能测试方法，所述根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件，包括：
23、对于所述主板拓扑中每一个电子元件，在所述电子元件与至少一个相邻电子元件的目标属性不同时，将所述电子元件确定为关键边界电子元件。
24、第二方面，本申请还提供一种手机主板性能测试系统，包括：
25、获取模块，用于获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件；所述至少一个关键边界电子元件包括第一关键边界电子元件和第二关键边界电子元件；
26、第一确定模块，用于根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，及确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离；
27、第二确定模块，用于根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性。
28、根据本申请提供的一种手机主板性能测试系统，还用于：
29、获取需求跳数；
30、根据所述需求跳数、所述规定跳数对应的所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，分别使用公式（2）计算所述第一关键边界电子元件的接近中心性的验证值，及所述第二关键边界电子元件的接近中心性的验证值；
31、 公式（2）；
32、其中，表示电子元件的接近中心性的验证值，表示规定跳数，表示基于规定跳数计算的电子元件的接近中心性，表示需求跳数，表示基于跳数计算的电子元件的接近中心性，表示跳数与基于跳数计算的电子元件的接近中心性的相关系数。
33、本申请还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述手机主板性能测试方法。
34、本申请还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述手机主板性能测试方法。
35、本申请还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种手机主板性能测试方法。
36、本申请提供的手机主板性能测试方法本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种手机主板性能测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，包括：
3.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：
4.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少一个关键边界电子元件，包括：
6.根据权利要求5所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据各所述电子元件的目标属性，在各所述电子元件中确定至少一个关键边界电子元件，包括：
7.一种手机主板性能测试系统，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行程序时实现如权利要求1至6任一项所述手机主板性能测试方法。
10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述手机主板性能测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种手机主板性能测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据预设的规定跳数，确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件到达的多个参考电子元件，包括：
3.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述根据所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件分别到各所述参考电子元件的最短距离及各所述参考电子元件的个数，分别确定所述第一关键边界电子元件和所述第二关键边界电子元件各自的接近中心性，包括：
4.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的手机主板性能测试方法，其特征在于，所述获取手机主板中主板拓扑的各个电子元件中的至少...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘春明，沈娟，
申请(专利权)人：深圳市英迈通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。