一种超滑片测试设备制造技术

技术编号:40230490 阅读:6 留言:0更新日期:2024-02-02 22:32
本技术涉及超滑片测试领域,特别是涉及一种超滑片测试设备,包括测试平台及顶部操作组件;所述顶部操作组件包括扫描装置、多轴力传感器及探头;所述探头包括透明触头及支撑柄,所述透明触头通过所述支撑柄连接于所述多轴力传感器;所述扫描装置的镜头向下俯视,透过所述透明触头对所述测试平台上的待测超滑片进行扫描。本技术中,将所述探头中与所述待测超滑片实际接触的触头更改为透明触头,使所述扫描装置不仅可以判断所述待测超滑片在所述测试平台上的位置知否正确,还可透过所述透明触头对所述待测超滑片进行扫描,仅通过一个扫描装置就同时实现了对所述待测超滑片位置与姿态的判断,降低了设备的生产成本与复杂性,使设备更易维护。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及超滑片测试领域,特别是涉及一种超滑片测试设备


技术介绍

1、长期以来,摩擦和磨损问题,不但与制造业密切相关,还与能源、环境和健康直接相关。据统计,全世界约三分之一的能源在摩擦过程中被消耗掉,约80%的机器零部件失效都是由磨损造成的。结构超滑是解决摩擦磨损问题的理想方案之一,具体地,结构超滑是指两个原子级光滑且非公度接触的范德华固体表面(如石墨烯、二硫化钼等二维材料表面)之间摩擦、磨损几乎为零的现象。

2、随着超滑片的材料制备技术的不断迭代和发展,超滑材料的尺寸也不断的加大,但是其仍处于微米级,肉眼难以观测和识别,因此需要借助微观放大设备对超滑材料进行批量化的分析测试,在这类测试中,通常需要将待测超滑片在一表面上滑动,同时记录下待测超滑片的摩擦力变化,进而确定测试结果,但由于超滑片的尺寸过小,在测试过程中转移、对准难度高,因此经常需要在测试中从多个角度对所述待测超滑片的位置、姿态进行监视,以保证获取的实验数据的准确性,而设置多角度、多方向的监测设备不仅大大提升了设备通过的复杂性,提升了设备的维护难度,同时还提升了设备的生产成本。

3、因此,如何在简化设备结构的同时,满足对测试过程中的待测超滑片的姿态监测,是本领域技术人员亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种超滑片测试设备,以解决现有技术中为了实现测试过程中的待测超滑片的姿态监测,而使设备成本过高,结果过于复杂的问题。

2、为解决上述技术问题,本技术提供一种超滑片测试设备,包括测试平台及顶部操作组件;

3、所述顶部操作组件包括扫描装置、多轴力传感器及探头;

4、所述探头包括透明触头及支撑柄,所述透明触头通过所述支撑柄连接于所述多轴力传感器;

5、所述扫描装置的镜头向下俯视,透过所述透明触头对所述测试平台上的待测超滑片进行扫描。

6、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述透明触头为黏着触头。

7、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述支撑柄包括多个拼装单元。

8、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述拼装单元包括滑槽;

9、相邻的拼装单元之间通过固定件穿过所述滑槽的对应位置固定连接。

10、可选地,在所述的超滑片测试设备中,还包括承载平台及定位组件;

11、所述承载平台用于放置未进行测试的待测超滑片;

12、所述定位组件用于调控所述顶部操作组件与所述承载平台之间、所述顶部操作组件与所述测试平台之间的相对位置,使所述探头能在所述承载平台与所述测试平台之间转移所述待测超滑片,并在所述测试平台上对所述待测超滑片进行测试。

13、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述定位组件为三轴运动基座;

14、所述测试平台设置于所述三轴运动基座上方。

15、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述定位组件为机械臂;

16、所述顶部操作组件通过所述机械臂设置于所述测试平台上方。

17、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述承载平台为设置于所述测试平台上表面的凹形卡槽。

18、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述多轴力传感器固定连接于所述扫描装置上。

19、可选地,在所述的超滑片测试设备中,所述测试平台包括气浮转台及三轴定位台中的至少一种。

20、本技术所提供的超滑片测试设备,包括测试平台及顶部操作组件;所述顶部操作组件包括扫描装置、多轴力传感器及探头;所述探头包括透明触头及支撑柄,所述透明触头通过所述支撑柄连接于所述多轴力传感器;所述扫描装置的镜头向下俯视,透过所述透明触头对所述测试平台上的待测超滑片进行扫描。本技术中,将所述探头中与所述待测超滑片实际接触的触头更改为透明触头,使所述扫描装置不仅可以判断所述待测超滑片在所述测试平台上的位置知否正确,还可透过所述透明触头对所述待测超滑片进行扫描,进而判断所述待测超滑片的姿态,保障测试获取数据的有效性,也即本技术仅通过一个扫描装置就同时实现了对所述待测超滑片位置与姿态的判断,大大简化了设备结构,降低了设备的生产成本与复杂性,使设备更易维护。

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【技术保护点】

1.一种超滑片测试设备,其特征在于,包括测试平台及顶部操作组件;

2.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述透明触头为黏着触头。

3.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述支撑柄包括多个拼装单元。

4.如权利要求3所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述拼装单元包括滑槽;

5.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,还包括承载平台及定位组件;

6.如权利要求5所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述定位组件为三轴运动基座;

7.如权利要求5所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述定位组件为机械臂;

8.如权利要求5所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述承载平台为设置于所述测试平台上表面的凹形卡槽。

9.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述多轴力传感器固定连接于所述扫描装置上。

10.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述测试平台包括气浮转台及三轴定位台中的至少一种。

【技术特征摘要】

1.一种超滑片测试设备,其特征在于,包括测试平台及顶部操作组件;

2.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述透明触头为黏着触头。

3.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述支撑柄包括多个拼装单元。

4.如权利要求3所述的超滑片测试设备,其特征在于,所述拼装单元包括滑槽;

5.如权利要求1所述的超滑片测试设备,其特征在于,还包括承载平台及定位组件;

6.如权利要求5所述的超滑片测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员:聂锦辉陈立刘莹郑泉水
申请(专利权)人:深圳清华大学研究院
类型:新型
国别省市:

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