一种集成电路用插座测试的定位结构及方法技术

本发明专利技术涉及一种集成电路用插座测试的定位结构及方法。本发明专利技术包括轨道，具有倾斜于水平面的轨面，轨道能够沿垂直于所述水平面方向运动；双排直列电路，包括电路本体以及位于电路两侧的引脚排，所述电路本体包括与所述轨面滑动配合的底端面；测试插座，设置于所述轨道下侧且具有布设有引脚孔排的上端面，测试插座的端面与所述滑动平面相平行设置；阻挡组件，邻近设置于轨道且用于阻挡和定位所述双排直列电路的滑动位置；其中，所述双排直列电路通过重力作用沿所述轨道滑动并通过所述阻挡组件定位至所述轨道预定位置后，通过所述轨道的下降动作使所述引脚排插入所述引脚孔排中并进行测试。本发明专利技术能够确保电路在测试过程中的稳定性，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电路，尤其是指一种集成电路用插座测试的定位结构及方法。

技术介绍

1、目前，双列直插式集成电路在自动化测试过程中，大多使用金手指夹测方式，在测试前对电路的定位，使用的是通过电路本身（树脂部）来定位。而在使用插座进行测试的时候，如果使用电路本身（树脂部）来定位，因为电路本身（树脂部）可能存在的树脂飞边的差异，就会使电路插入插座时出现偏差，导致引脚和插座错位，破坏引脚形状。

技术实现思路

1、为此，本专利技术提供一种集成电路用插座测试的定位结构及方法，能够在电路插入插座时能够准确定位电路位置，避免电路插入插座时相对位置出现偏差。

2、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种集成电路用插座测试的定位结构，包括：

3、轨道，具有倾斜于水平面的轨面，所述轨道能够沿垂直于所述水平面方向运动；

4、双排直列电路，包括电路本体以及位于所述电路两侧的引脚排，所述电路本体包括与所述轨面滑动配合的底端面；

5、测试插座，设置于所述轨道下侧且具有布设有引脚孔排的上端面，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，所述阻挡组件（4）至少包括用于阻挡所述电路本体（21）的电路阻挡结构（41）以及用于阻挡所述引脚排（22）的引脚定位阻挡结构（42），所述电路阻挡结构（41）和所述引脚定位阻挡结构（42）分别能够沿垂直于所述轨面方向且与所述轨道（1）做相对运动。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，所述引脚定位阻挡结构（42）位于所述电路阻挡结构（41）的前侧，所述前侧定义为所述双排直列电路（2）滑动方向的前方。

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【技术特征摘要】

1.一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，所述阻挡组件（4）至少包括用于阻挡所述电路本体（21）的电路阻挡结构（41）以及用于阻挡所述引脚排（22）的引脚定位阻挡结构（42），所述电路阻挡结构（41）和所述引脚定位阻挡结构（42）分别能够沿垂直于所述轨面方向且与所述轨道（1）做相对运动。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，所述引脚定位阻挡结构（42）位于所述电路阻挡结构（41）的前侧，所述前侧定义为所述双排直列电路（2）滑动方向的前方。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，所述电路本体（21）两侧的所述引脚排（22）分别位于所述轨面的两侧且不与所述轨道（1）接触，所述轨道（1）两侧端设置有让位槽（12）。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路用插座测试的定位结构，其特征在于，所述引脚定位阻挡结构（42）包括位于所述轨面的两侧的引脚定位阻挡块（421），两个所述引脚定位阻挡块（421）分别正对两个所述引脚排（22），两个所述引脚定位阻挡块（421）分别...

【专利技术属性】
技术研发人员：李军，
申请(专利权)人：无锡通芝微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：