一种提高温控PID参数整定效率的方法和激光器装置制造方法及图纸

技术编号:40194728 阅读:29 留言:0更新日期:2024-01-26 23:57
本发明专利技术涉及温度控制技术领域,提供了一种提高温控PID参数整定效率的方法和激光器装置。其中,本发明专利技术实施例通过确定与待整定的实际激光器装置相匹配的参考激光器装置,获取参考激光器装置在预设条件下的参考温度变化差值,和参考激光器装置对应的参考PID参数,得到实际激光器装置的温控参考基准;在相同的预设条件下,测定实际激光器装置的实际温度变化差值,将参考温度变化差值与实际温度变化差值之比确定为PID修正系数,根据PID修正系数和参考PID参数得到实际激光器装置的最终PID参数,无需通过对实际激光器装置进行不断修正测试或激励响应进行PID参数整定,不损坏激光器装置中的激光管,提高了温控PID参数整定的效率和实用性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及温度控制,特别是涉及一种提高温控pid参数整定效率的方法和激光器装置。


技术介绍

1、在激光精密计量、激光通信、高分辨光谱和激光冷原子实验等领域中,需要激光器的温度保持高度的稳定,从而避免激光频率的漂移。通常利用比例-积分-微分(proportionintegration differentiation,简写为pid)闭环控制算法,调节半导体制冷器(thermoelectric cooler,简写为tec)的输出,实现温度的有效调节。其中,pid控制具有简单的结构,对模型误差具有鲁棒性及易于操作等优点,在实际应用中相较其他方法又更易于整定计算,所以被广泛应用于工业过程控制;tec通过改变电流方向来实现加热和制冷,在室温附近的温度范围内可作为冷源和热源使用,是目前温度控制精度最高的一种温控器件。

2、由于激光器的应用场景或实验功能往往不同,因此常需要在不同的激光器和温控tec(不同的工作温度范围和温度精度)上实现不同温度下的精准控制。通过对温控tec的输出的pid参数进行整定,实现不同温度下的精准控制。pid参数的整定是一个复杂的过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种提高温控PID参数整定效率的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的提高温控PID参数整定效率的方法,其特征在于,所述实际激光器装置包括实际激光器和实际温控TEC;

3.根据权利要求2所述的提高温控PID参数整定效率的方法,其特征在于,所述参考激光器装置和所述实际激光器装置均为模块化结构的激光器装置,所述参考激光器装置与所述实际激光器装置中相应的功能模块具备相同的外形尺寸;

4.根据权利要求2所述的提高温控PID参数整定效率的方法,其特征在于,所述实际激光器与所述参考激光器具有相同的封装类型;所述实际温控TEC与所述参考温控TEC具有...

【技术特征摘要】

1.一种提高温控pid参数整定效率的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的提高温控pid参数整定效率的方法,其特征在于,所述实际激光器装置包括实际激光器和实际温控tec;

3.根据权利要求2所述的提高温控pid参数整定效率的方法,其特征在于,所述参考激光器装置和所述实际激光器装置均为模块化结构的激光器装置,所述参考激光器装置与所述实际激光器装置中相应的功能模块具备相同的外形尺寸;

4.根据权利要求2所述的提高温控pid参数整定效率的方法,其特征在于,所述实际激光器与所述参考激光器具有相同的封装类型;所述实际温控tec与所述参考温控tec具有相同的封装类型。

5.根据权利要求1所述的提高温控pid参数整定效率的方法,其特征在于,所述提高温控pid参数整定效率的方法还包括:

6.根据权利要求5所述的提高温控pid参数整定效率的...

【专利技术属性】
技术研发人员:马鹤刘敏范蓓
申请(专利权)人:中科酷原科技武汉有限公司
类型:发明
国别省市:

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