一种用于半导体生产用的自动化测试装置制造方法及图纸

技术编号:40192100 阅读:26 留言:0更新日期:2024-01-26 23:54
本发明专利技术涉及固定装置技术领域,具体涉及一种用于半导体生产用的自动化测试装置,包括固定基座,所述固定基座的内部固定连接有收缩压簧,收缩压簧的顶部固定连接有连接座,连接座滑动连接于固定基座的顶部,所述固定基座的内部均匀固定连接有四个伸缩气缸。本发明专利技术通过定位座与固定基座相互靠近,并通过拨位板对半导体进行拨动,以方便对半导体进行调整固定,方便后续检测工作过程中半导体的稳定,并通过压轮与沟槽的配合,对进入沟槽内部的引脚进行滚动压平,可以将受碰撞而卷曲的引脚进行展平,通过推块的往复滑动将偏移堆叠的引脚分离,防止在进行通路检测的过程中,出现短路等问题,对测试的结果造成干扰影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及固定装置,尤其涉及一种用于半导体生产用的自动化测试装置


技术介绍

1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在大多数行业中都有着重要意义,大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联,在半导体的生产过程中,为了确保其正常的工作性能,通常需要对其引脚部分进行通路检测,以确保工作信号可以正常通过半导体。

2、在使用装置对半导体进行通路测试的工作情况时,通常会出现一定的问题,因为需要在对半导体进行固定后进行测试,且由于半导体本身的体积相对较小,也就造成了其引脚相对较为细小,整体相对较为脆弱,本身并不方便拿取移动,且在移动的过程中极易发生碰撞,会造成引脚的变形,无法针对引脚进行接触测试,在进行通路测试的过程中极易出现短路的情况,并且由于本身体积较小的原因,并不方便对引脚进行矫正,进而造成无法准确对半导体进行通路检测的情况。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是为了解决
技术介绍
中的问题,而提出的一种用于半导体生产用的自动化测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于半导体生产用的自动化测试装置,包括固定基座(1),其特征在于:所述固定基座(1)的内部固定连接有收缩压簧(2),收缩压簧(2)的顶部固定连接有底座(3),底座(3)滑动连接于固定基座(1)的顶部,所述固定基座(1)的内部均匀固定连接有四个伸缩气缸(4),伸缩气缸(4)的顶部固定连接有定位座(5);

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体生产用的自动化测试装置,其特征在于:所述连接轴(14)的表面固定连接有连接座(19),连接座(19)的底部均匀开设有多个滑槽(20),连接座(19)的底部通过滑槽(20)滑动连接有推块(21),推块(21)的顶部固定连接有连接头(2...

【技术特征摘要】

1.一种用于半导体生产用的自动化测试装置,包括固定基座(1),其特征在于:所述固定基座(1)的内部固定连接有收缩压簧(2),收缩压簧(2)的顶部固定连接有底座(3),底座(3)滑动连接于固定基座(1)的顶部,所述固定基座(1)的内部均匀固定连接有四个伸缩气缸(4),伸缩气缸(4)的顶部固定连接有定位座(5);

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体生产用的自动化测试装置,其特征在于:所述连接轴(14)的表面固定连接有连接座(19),连接座(19)的底部均匀开设有多个滑槽(20),连接座(19)的底部通过滑槽(20)滑动连接有推块(21),推块(21)的顶部固定连接有连接头(22),连接头(22)通过滑槽(20)滑动连接于连接座(19)的内部,所述滑槽(20)的内部固定连接有复位簧(23),复位簧(23)的另一端与连接头(22)滑动连接,连接座(19)的内部转动连接有转动条(24),转动条(24)的表面固定连接有拨杆(25),拨杆(25)与连接头(22)间歇滑动连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体生产用的自动化测试装置,其特征在于:所述转轴(15)的两端均固定连接有连接轮(26),连接轮(26)转动连接于连接轴(14)的内部,所述转动条(24)的两端均固定连接有转轮(27),连接轮(26)与转轮(27)之间通过皮带传动连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体生产用的自动化测试装置,其特征在于:所述固...

【专利技术属性】
技术研发人员:李坤常伟王智敏
申请(专利权)人:苏州星测半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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