本技术涉及集成电路检测技术领域，更确切地说涉及一种集成电路质量测试装置，包括架体组件，架体组件形成电路检测区，架体组件顶部设有固定组件，用于对电流板进行限位，固定组件设有滑动结构，用于改变阻挡面的面积，架体组件顶部设有除尘组件，除尘组件于电路检测区形成吹风面，用于对电路板表面的灰尘进行引导使其脱离电路板，固定组件与除尘组件相适配，对电路板形成多点限位；通过固定组件对可根据不同尺寸的电路板进行调整，使本装置可对不同尺寸的电路板进行检测，提高本装置的适用性，通过除尘组件不仅对电路板增加了限位面，而且同时对电路板表面的灰尘进行清理，避免灰尘影响对电路板检测的质量，提高本装置对电路板检测的质量。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路检测，更确切地说涉及一种集成电路质量测试装置。
技术介绍
1、目前，集成电路测试装置在测试时，需要使用到测试板，测试板的作用是将集成电路接通到通电线路中，现有的一些测试装置存在测试板固定不牢固，而且不方便取出的情况，导致在插接集成电路时，定位不准确，造成集成电路不便有效连接，致使测试结果不理想的问题。
2、针对测试装置来说，现有技术就有很多，例如：
3、中国专利公开号cn217034025u公开了一种集成电路测试装置，涉及集成电路测试装置
，该集成电路测试装置，包括支撑座，压紧机构和锁定机构，所述锁定机构设置在支撑座的表面，所述压紧机构位于支撑座的内部，所述支撑座的表面连接有遮挡板，所述支撑座的内部设置有限位杆，所述限位杆的表面套接有复位弹簧，所述限位杆的表面还套接有复位板，所述复位板通过复位弹簧与支撑座弹性连接，所述复位板的表面与测试载板的表面连接。本技术通过设置锁定杆、压紧弹簧、限位杆以及复位板，解决了现有的一些测试装置存在测试板固定不牢固，而且不方便取出的情况，导致在插接集成电路时，定位不准确，造成集成电路不便有效连接，致使测试结果不理想的问题。
4、由此可知，上述测试装置是通过两侧限位杆对集成电路两侧进行限位，从而避免在检测过程中电路板向两侧偏移，但上述检测装置在对不同尺寸的电路板进行检测时，需要更换对应尺寸的检测装置，导致检测成本较高，而且影响检测效率，鉴于此，本技术提供了一种集成电路质量测试装置。
技术实现思路
>1、本技术之目的在于解决上述缺点，并提供一种能够在电流板前形成阻挡面使得对不同尺寸电流板进行固定的集成电路质量测试装置。2、使用架体组件形成电路检测区，并在电路检测区设置形成阻挡面的固定组件，此时不同尺寸电路板检测过程中受到阻挡面的引导进行限位，同时在运行过程中除尘组件辅助灰尘进行清理。
3、因此本技术提供了一种集成电路质量测试装置，其至少包括一个架体组件，所述架体组件形成电路检测区，所述架体组件顶部设有固定组件，所述固定组件于电路检测区形成阻挡面，用于对电流板进行限位，所述固定组件设有滑动结构，用于改变阻挡面的面积，所述架体组件顶部设有除尘组件，所述除尘组件于电路检测区形成吹风面，用于对电路板表面的灰尘进行引导使其脱离电路板，所述固定组件与除尘组件相适配，对电路板形成多点限位。
4、作为本技术方案的进一步改进，所述架体组件至少包括工作台，所述工作台顶部安装有检测机，所述检测机表面连接有连接器，对电路板进行激活连接。
5、作为本技术方案的进一步改进，所述固定组件至少包括螺纹杆，所述螺纹杆与工作台转动连接，所述工作台顶部设有两个连接块，所述连接块与螺纹杆螺纹连接。
6、作为本技术方案的进一步改进，所述连接块内部安装有第一弹性件，所述第一弹性件另一端连接有推块，所述工作台顶部开设有滑动凹槽，所述推块与滑动凹槽滑动连接。
7、作为本技术方案的进一步改进，所述除尘组件至少包括固定块，所述工作台内部安装有第二弹性件，所述第二弹性件的另一端连接有固定块，所述固定块内部安装有风机。
8、与现有技术相比，本技术的有益效果：
9、该集成电路质量测试装置中，通过固定组件对可根据不同尺寸的电路板进行调整，使本装置可对不同尺寸的电路板进行检测，提高本装置的适用性，通过除尘组件不仅对电路板增加了限位面，而且同时对电路板表面的灰尘进行清理，避免灰尘影响对电路板检测的质量，提高本装置对电路板检测的质量。
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【技术保护点】
1.一种集成电路质量测试装置，其特征在于：至少包括一个架体组件(10)，所述架体组件(10)形成电路检测区，所述架体组件(10)顶部设有固定组件(20)，所述固定组件(20)于电路检测区形成阻挡面，用于对电流板进行限位，所述固定组件(20)设有滑动结构，用于改变阻挡面的面积，所述架体组件(10)顶部设有除尘组件(30)，所述除尘组件(30)于电路检测区形成吹风面，用于对电路板表面的灰尘进行引导使其脱离电路板，所述固定组件(20)与除尘组件(30)相适配，对电路板形成多点限位；所述固定组件(20)至少包括螺纹杆(21)，所述螺纹杆(21)与工作台(11)转动连接，所述工作台(11)顶部设有两个连接块(22)，所述连接块(22)与螺纹杆(21)螺纹连接；所述除尘组件(30)至少包括固定块(31)，所述工作台(11)内部安装有第二弹性件(32)，所述第二弹性件(32)的另一端连接有固定块(31)，所述固定块(31)内部安装有风机(33)。
2.如权利要求1所述的集成电路质量测试装置，其特征在于：所述架体组件(10)至少包括工作台(11)，所述工作台(11)顶部安装有检测机(12)，所述检测机(12)表面连接有连接器(13)，对电路板进行激活连接。
3.如权利要求1所述的集成电路质量测试装置，其特征在于：所述连接块(22)内部安装有第一弹性件(23)，所述第一弹性件(23)另一端连接有推块(24)，所述工作台(11)顶部开设有滑动凹槽(25)，所述推块(24)与滑动凹槽(25)滑动连接。
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【技术特征摘要】
1.一种集成电路质量测试装置，其特征在于：至少包括一个架体组件(10)，所述架体组件(10)形成电路检测区，所述架体组件(10)顶部设有固定组件(20)，所述固定组件(20)于电路检测区形成阻挡面，用于对电流板进行限位，所述固定组件(20)设有滑动结构，用于改变阻挡面的面积，所述架体组件(10)顶部设有除尘组件(30)，所述除尘组件(30)于电路检测区形成吹风面，用于对电路板表面的灰尘进行引导使其脱离电路板，所述固定组件(20)与除尘组件(30)相适配，对电路板形成多点限位；所述固定组件(20)至少包括螺纹杆(21)，所述螺纹杆(21)与工作台(11)转动连接，所述工作台(11)顶部设有两个连接块(22)，所述连接块(22)与螺纹杆(21)螺纹连接；所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：易亮，
申请(专利权)人：深圳市风云时代数字技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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