【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试的，尤其是一种射频传导抗扰度测试方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、射频传导抗扰度（radio frequency conducted immunity）是指电子设备在存在射频电磁场干扰时的免疫能力，射频传导抗扰度用于衡量设备在周围环境中的电磁辐射场下，能否正常工作而不受到干扰。
2、在生活场景中，各类电子设备和家庭电器均会产生射频电磁场，此时电子设备的射频传导抗扰度将决定该电子设备受到射频电磁场的影响效果，目前，商家在对顾客进行电子设备（尤其是智能手机）的售卖时，只能够向顾客展示纸面数据，缺少对其射频传导抗扰度的实质性证明的说服力。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种射频传导抗扰度测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中无法直观地向顾客展示电子设备的射频传导抗扰性能的问题。
2、本专利技术是这样实现的，第一方面，本专利技术提供一种射频传导抗扰度测试方法，包括：
3、获取待测设备的待测场景数据，并基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算；所述测试装置包括测试单元和若干模拟单元，所述测试单元用于放置所述待测设备，各个所述模拟单元环绕所述测试单元设置，用于根据所述模拟参数对所述测试单元产生射频电磁场，以对所述测试单元中放置的所述待测设备进行所述待测场景数据的模拟测试；
4、驱动设置在所述测试单元的所述待测设备进行运行，并驱动各个所述模拟单元按所述模拟参数对所述测试单元产
5、持续对所述待测设备的运行状态进行采集，并根据采集到的运行状态的数据生成所述待测设备的射频传导抗扰度的评估图谱。
6、优选地，所述待测场景数据的获取包括：
7、对所述待测设备进行识别，以获取所述待测设备的标准抗扰性能参数；
8、根据预设的若干测试等级分别对所述标准抗扰性能参数进行计算，以生成对应各个所述测试等级的待测场景数据；具体步骤包括：
9、获取所述标准抗扰性能参数；
10、获取预设的各个测试等级对应所述标准抗扰性能参数的比值关系；
11、根据各个测试等级对应的比值关系对所述标准抗扰性能参数进行计算，以得到各个测试等级的待测场景数据。
12、优选地，所述待测场景数据的获取包括：
13、建立定位坐标网格，并根据用户提供的数据在所述定位坐标网格上生成若干干扰源和设备使用区域；
14、将所述设备使用区域划分为若干待测区域，将各个所述待测区域分别与各个所述干扰源进行组合，以生成若干待测场景数据。
15、优选地，基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算的步骤包括：
16、根据所述待测场景数据，对所述定位坐标网格中的各个所述干扰源分别进行所述干扰源在所述待测区域产生的射频电磁场强度的计算；
17、根据所述测试装置中所述测试单元与各个所述模拟单元之间的位置关系生成测试模拟模型，并将所述测试模拟模型的测试单元与所述定位坐标网格的待测区域进行重叠，对所述测试模拟模型中各个所述模拟单元分别进行模拟参数的计算，以令各个所述模拟单元在所述测试单元处产生各个所述干扰源在所述待测区域产生的射频电磁场强度。
18、优选地，持续对所述待测设备的运行状态的数据进行采集，并根据采集到的运行状态的数据生成所述待测设备的射频传导抗扰度的评估图谱的步骤包括：
19、持续对所述待测设备的运行状态的数据进行采集，根据所述运行状态的数据对应的测试时间生成x轴参数，根据预设的标准对所述运行状态的数据进行分析生成y轴参数，在预设的坐标系中根据所述运行状态的x轴参数与y轴参数对进行曲线绘制，以得到对所述待测设备的运行状态进行评价的评估图谱。
20、优选地，所述待测设备的运行状态包括：所述待测设备的运行流畅度、所述待测设备的信息传输速度以及所述待测设备的电量消耗速度。
21、优选地，还包括：
22、在使用所述测试装置对所述待测设备进行模拟测试时，间隔预定时间令各个所述模拟单元停止工作，以采集所述待测设备未收干扰下的运行状态并生成参照图谱；所述参照图谱用于与所述评估图谱进行对照分析，以判断所述待测设备的射频传导抗扰性能。
23、第二方面，本专利技术提供一种射频传导抗扰度测试装置，包括：
24、数据计算模块，用于获取待测设备的待测场景数据，并基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算；所述测试装置包括测试单元和若干模拟单元，所述测试单元用于放置所述待测设备，各个所述模拟单元环绕所述测试单元设置，用于根据所述模拟参数对所述测试单元产生射频电磁场，以对所述测试单元中放置的所述待测设备进行所述待测场景数据的模拟测试；
25、模拟测试模块，用于驱动设置在所述测试单元的所述待测设备进行运行，并驱动各个所述模拟单元按所述模拟参数对所述测试单元产生射频电磁场，以对所述测试单元中放置的所述待测设备进行所述待测场景数据的模拟测试；
26、性能评估模块，用于持续对所述待测设备的运行状态进行采集，并根据采集到的运行状态的数据生成所述待测设备的射频传导抗扰度的评估图谱。
27、第三方面，本专利技术提供一种射频传导抗扰度测试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面提供的任一项所述的一种射频传导抗扰度测试方法。
28、第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器运行时使得所述处理器执行如第一方面中任一项所述的一种射频传导抗扰度测试方法。
29、本专利技术提供了一种射频传导抗扰度测试方法，具有以下有益效果：
30、本专利技术构建了一种采用测试单元和若干模拟单元的测试装置，通过对各个待测场景数据的计算，以获取各个模拟单元的模拟参数，根据模拟参数控制模拟单元与测试单元的相对位置关系以及模拟单元的运行强度，可以对测试单元进行不同待测场景数据的模拟测试，从而能够采集待测设备在待测场景中的运行状况，以展示待测设备的射频传导抗扰性能，解决了现有技术中无法直观地向顾客展示电子设备的射频传导抗扰性能的问题。
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1.一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，所述待测场景数据的获取包括：
3.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，所述待测场景数据的获取包括：
4.如权利要求3所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算的步骤包括：
5.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，持续对所述待测设备的运行状态的数据进行采集，并根据采集到的运行状态的数据生成所述待测设备的射频传导抗扰度的评估图谱的步骤包括：
6.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，所述待测设备的运行状态包括：所述待测设备的运行流畅度、所述待测设备的信息传输速度以及所述待测设备的电量消耗速度。
7.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，还包括：
8.一种射频传导抗扰度测试装置，其特征在于，包括：
9.一种射频传导抗扰度测试设备，包
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器运行时使得所述处理器执行如权利要求1-7中任一项所述的一种射频传导抗扰度测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，所述待测场景数据的获取包括：
3.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，所述待测场景数据的获取包括：
4.如权利要求3所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算的步骤包括：
5.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，持续对所述待测设备的运行状态的数据进行采集，并根据采集到的运行状态的数据生成所述待测设备的射频传导抗扰度的评估图谱的步骤包括：
6.如权利要求1所述的一种射频传导抗扰度测试方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：祁伟，曾少武，冯成静，
申请(专利权)人：深圳沃特检验集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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