【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光源器件分光领域，特别涉及一种多芯片的紫外uv led分光方法。
技术介绍
1、现有技术中，紫外uv led灯珠的辐射光谱很大程度上决定灯珠的辐射特性，可能会存在着同一批紫外光源器件之间的光谱曲线上相一致性、均匀性较大相差而达不到要求，最终影响由多颗多芯片紫外光源器件组成的整个模组终端产品的性能与功能，尤其是在产品使用条件要求高的条件下，满足不了相应的要求。
2、在当前多芯片的紫外光源器件封装制造过程中，针对紫外灯珠在辐射特性方面分光方法主要是对整个全波段光谱曲线数据采集并对其单一峰值波长与半波宽、辐射功率等常规分析，再根据检测结果对各颗紫外光源器件进行归档分类，单一对全波段的光谱曲线数据检测结果，由于缺少再经过同时多个并行独立处理的区域式辐射光谱采集数据分析的检测，可会存在一定检测局限性与潜在的瑕疵，光源器件在分光环节出现良品率把控不一，并可造成产品潜在着较大的正常使用功能的失效可能性。
技术实现思路
1、本专利技术技术方案旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的主要目的在于提供一种多芯片的紫外uv led分光方法，在以紫外uv led器件辐射光谱曲线常规检测分析处理基础上，再进一步对在整个全域波段辐射光谱曲线内所包含设定的多个区域波段辐射光谱曲线，分别一一相对应地以采用同时多个并行独立处理的区域式光谱采集检测分析，更精准地对各颗紫外uv led器件进行等级分选归档分类，从而有效提高紫外uv led灯珠间光谱曲线的相一致性、均
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种多芯片的紫外uv led分光方法，包括以下步骤：
3、获取不同波段辐射光谱曲线图：
4、通过输入模块的光学捕捉探测头，以及分别结合全域波段光谱卡a、区域波段光谱卡b以及区域波段光谱c等采集读取，并获得对应的待测紫外led灯珠的全域波段辐射光谱曲线图a、区域波段光谱曲线图b和区域波段光谱曲线图c，再将上述获得的整个光谱曲线图数据录入存储至微机中央处理器内部；
5、全域波段光谱差异的一次筛选：
6、经由处理模块内全波段光谱卡a计算单颗灯珠整个全域波段光谱曲线图a与标准全域波段光谱图之间的差异大小，即相差度δea；
7、再基于所计算出的全域波段光谱相差度δea的数值是否位于预设相差度δea阈值的范围内，若判定结果位于阈值范围内的灯珠，则可进行下一步骤多区域波段光谱差异的二次筛选，反之，则阈值范围之外的灯珠不可进行下一步骤的二次筛选；
8、区域波段光谱差异的二次筛选：
9、符合一次筛选阈值范围内的灯珠，再同时经由处理模块内一特定区域波段光谱卡b和另一特定区域波段光谱卡c并行分别独立处理计算灯珠全域波段内所设定的区域波段光谱曲线图b、c与标准区域波段光谱图之间的差异大小相差度δeb和δec的数值，并将数值一同传输至输出模块等级分选归类单元进行分选；
10、依相差度进行等级分选归类：
11、根据计算出相差度δea和相差度δeb、δec数值落位于所预设定的等级梯度范围区间，一一相对应地对每一颗灯珠进行分选归类。
12、作为本专利技术再进一步的方案，该紫外led灯珠为一颗峰值波长均值范围在367-370nm芯片，及另一颗峰值波长均值范围在400-403nm芯片组成的多芯片紫外uvled灯珠。
13、作为本专利技术再进一步的方案，光谱卡b和光谱卡c各自所识别区域的波段范围设定，是以在全域波段200-450nm范围内的光谱图内两波峰之间的最低曲线波谷点所对应的波长值为识别区分点。
14、本专利技术的有益效果如下：
15、本专利技术提出的多芯片的紫外uv led分光方法，可在现有常规检测的基础上，进一步对多芯片紫外led光源灯珠辐射光谱由整体全域筛选再细分至区域筛选，多次不同波段的光谱筛选，有效管控紫外uv光源器件的分选准确度，提高可靠性，最后获得同一批的紫外uv led灯珠辐射光谱曲线的均匀性更高的优质高端产品，紫外器件产品分光良率可相比有所提高，进而降低潜在失效性风险，同时促进制造生产环节连贯性，缩短生产制造时间，促使降低制造成本而质量提高。
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1.一种多芯片的紫外UV LED分光方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的多芯片的紫外UV LED分光方法，其特征在于，该紫外LED灯珠为一颗峰值波长均值范围在367-370nm芯片，及另一颗峰值波长均值范围在400-403nm芯片组成的多芯片紫外UVLED灯珠。
3.根据权利要求1所述的多芯片的紫外UV LED分光方法，其特征在于，光谱卡B和光谱卡C各自所识别区域的波段范围设定，是以在全域波段200-450nm范围内的光谱图内两波峰之间的最低曲线波谷点所对应的波长值为识别区分点。
【技术特征摘要】
1.一种多芯片的紫外uv led分光方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的多芯片的紫外uv led分光方法，其特征在于，该紫外led灯珠为一颗峰值波长均值范围在367-370nm芯片，及另一颗峰值波长均值范围在400-403nm芯片组...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏峰，李茂南，
申请(专利权)人：紫芯半导体深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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