【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及缺陷检测，具体涉及一种缺陷检测方法和一种缺陷检测系统。
技术介绍
1、在工业质检中，一般工作流程主要包括：收集缺陷数据，标注缺陷，模型学习，模型部署四个阶段。所以高质量的缺陷标注数据集往往是决定深度模型检出能力关键因素。
2、相关技术中，工业缺陷数据的获取往往存在以下缺陷：工业领域的良品率相对较高，项目初期往往难以收集足量缺陷数据，导致缺陷检测模型对部分缺陷学习不足，缺陷识别精度较低。
技术实现思路
1、本专利技术为解决上述技术问题，提供了一种缺陷检测方法，能够获取足量且多样的缺陷数据用以训练缺陷检测模型，从而大大提高了缺陷识别的准确性。
2、本专利技术采用的技术方案如下：
3、一种缺陷检测方法，包括以下步骤：从目标设备的图像数据集中随机选取一张预处理图像，并对所述预处理图像进行缺陷标注以获取相应的第一标注文件；对所述预处理图像进行特征提取以提取所述待处理图像中的显著性区域，并根据所述第一标注文件排除所述显著性区域中的缺陷区域以获取可贴图区...
【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述可贴图区域中选取目标区域放入所述掩码图之前还包括：
3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，获取所述扩散生成模型，包括：
4.一种缺陷检测系统，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述第一图像处理模块在所述可贴图区域中选取目标区域放入所述掩码图之前还用于：
6.根据权利要求4所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述第六获取模块具体用于：
7.一种计算机设...
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，在所述可贴图区域中选取目标区域放入所述掩码图之前还包括：
3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，获取所述扩散生成模型，包括：
4.一种缺陷检测系统，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述第一图像处理模块在所述可贴图区域中选取目标区域放入所述掩码图之前...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵何，潘正颐，侯大为，孙环荣，
申请(专利权)人：常州微亿智造科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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