【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及核材料滞留量分析，特别是一种密闭系统内核材料滞留量测试方法、装置及设备。
技术介绍
1、在核材料加工过程中，材料衡算与控制是确保核材料可控的重要手段。工艺系统中核材料的滞留量作为核设施安全运行的重要依据，其测量与分析对散料核设施核材料闭合衡算至关重要。
2、核材料衡算中，通常使用破坏性分析和非破坏性分析两类方法进行核材料测量。破坏性分析方法主要包括重量法、控制电位库仑法、α能谱法等，此类方法需满足取样、离线测量条件，难以实现密闭系统内滞留量测量。非破坏性测量分析方法主要包括γ测量分析技术与中子测量分析技术。这些方法在放射性废物桶、核燃料组件、退役核设施管道、过滤器等定量测量中已得到广泛应用。但运用此类方法进行测量分析时，大多要求将被测对象置于探测设备的测量室内，难以用于在役核设施中设备内滞留量的测量。
3、并且在役核设施工艺现场设备布局复杂，中子散射较强，测量时需大体积屏蔽体，以减小干扰中子的影响，而现场实际空间有限，难以满足测量所需条件。因此现有技术中没有有效的可以对在役核设施进行滞留量测量的方法
【技术保护点】
1.一种密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
3.根据权利要求2所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，所述响应测试方法包括：
4.根据权利要求3所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，根据所述测试数据N，得到响应系数η，包括：
5.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数
【技术特征摘要】
1.一种密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
3.根据权利要求2所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，所述响应测试方法包括：
4.根据权利要求3所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，根据所述测试数据n，得到响应系数η，包括：
5.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：冉琴，杨秀玉，王文秀，杨晓荣，朱盈喜，张进荣，张维琪，贾栋鹏，郝卫鸣，李红霞，强少斌，张淼，张胜伟，赵锋，魏立荣，
申请(专利权)人：中核四零四有限公司，
类型：发明
国别省市：
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