【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及核材料滞留量分析，特别是一种密闭系统内核材料滞留量测试方法、装置及设备。
技术介绍
1、在核材料加工过程中，材料衡算与控制是确保核材料可控的重要手段。工艺系统中核材料的滞留量作为核设施安全运行的重要依据，其测量与分析对散料核设施核材料闭合衡算至关重要。
2、核材料衡算中，通常使用破坏性分析和非破坏性分析两类方法进行核材料测量。破坏性分析方法主要包括重量法、控制电位库仑法、α能谱法等，此类方法需满足取样、离线测量条件，难以实现密闭系统内滞留量测量。非破坏性测量分析方法主要包括γ测量分析技术与中子测量分析技术。这些方法在放射性废物桶、核燃料组件、退役核设施管道、过滤器等定量测量中已得到广泛应用。但运用此类方法进行测量分析时，大多要求将被测对象置于探测设备的测量室内，难以用于在役核设施中设备内滞留量的测量。
3、并且在役核设施工艺现场设备布局复杂，中子散射较强，测量时需大体积屏蔽体，以减小干扰中子的影响，而现场实际空间有限，难以满足测量所需条件。因此现有技术中没有有效的可以对在役核设施进行滞留量测量的方法。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是提供一种密闭系统内核材料滞留量测试方法、装置及设备，可以通过中子探测的方法测量在役核设施内核材料滞留量。
2、为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案如下：
3、一种密闭系统内核材料滞留量测试方法，包括：
4、获取目标密闭系统的设备布局数据，所述目标密闭系统为在役核
5、根据所述设备布局数据，确定至少一个测量点位；
6、根据所述测量点位和中子探测器，得到中子探测器在至少一个测量点位上的中子数据；
7、获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数；
8、根据所述中子响应系数和中子数据，得到至少一个设备和/或容器的核材料滞留量。
9、可选的，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
10、当所述目标密闭系统在投入使用前进行过响应测试时，根据所述目标密闭系统的响应测试结果，得到至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数。
11、可选的，所述响应测试方法包括：
12、根据所述目标密闭系统的设备布局情况，确定n个测量点位，n≥1；
13、获取与目标密闭系统投入使用后的滞留物组分相同的测试源；
14、将所述测试源分别置于i个设备和/或容器内，进行i次响应测试；
15、得到每次响应测试中，n个测量点位上的中子探测器的测试数据n，共i·n个测试数据n；
16、根据所述测试数据n，得到响应系数η。
17、可选的，根据所述测试数据n，得到响应系数η，包括：
18、根据所述测试数据n，通过公式n＝x·η，得到响应系数η；其中，x为测试源质量。
19、可选的，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
20、当所述目标密闭系统在投入使用前未进行过响应测试时，则通过模型模拟计算的方法，得到至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数。
21、可选的，所述模型模拟计算方法包括：
22、建立目标密闭系统的计算模型，将模拟测试源分别置于至少一个设备和/或容器中进行模拟响应测试，得到模拟测试源在不同设备和/或容器内的不同测试点位上的中子数据；
23、根据所述中子数据得到模拟中子响应系数；
24、获取修正系数f，对所述模拟中子响应系数进行修正，得到中子响应系数。
25、可选的，所述修正系数f是通过如下方法得到的：
26、获取与目标密闭系统的滞留物组分相同的测试源，和未投入使用的备用容器；
27、将所述测试源置于备用容器内，标定中子探测器测量中子数据；
28、根据所述中子数据得到中子响应系数η；
29、建立与标定条件相同的模型，通过所述模型模拟测试中子数据，得到模拟中子响应系数ηm；
30、通过公式η＝ηm·f，得到修正系数f。
31、可选的，根据所述中子响应系数和中子数据，得到至少一个设备和/或容器的核材料滞留量，包括：
32、通过至少一个测量点位上的中子数据，通过公式nn＝x1·η1n+x2·η2n+x3·η3n+......xi·ηin建立方程组，得到至少一个设备和/或容器的核材料滞留量；其中，nn为探测器测得第n个测量点位的中子数据、xi为第i个设备和/或容器的核材料滞留量、ηin为探测器在第n个测量点位时对第i个设备和/或容器的响应系数。
33、本专利技术还提供一种密闭系统内核材料滞留量测试装置，包括：
34、获取模块，用于获取目标密闭系统的设备布局数据，所述目标密闭系统为在役核设施系统；
35、处理模块，用于根据所述设备布局数据，确定至少一个测量点位；根据所述测量点位和中子探测器，得到中子探测器在至少一个测量点位上的中子数据；获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数；根据所述中子响应系数和中子数据，得到至少一个设备和/或容器的核材料滞留量。
36、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，存储指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如上述的方法。
37、本专利技术的上述方案至少包括以下有益效果：
38、本专利技术的上述方案，通过获取目标密闭系统的设备布局数据，所述目标密闭系统为在役核设施系统；根据所述设备布局数据，确定至少一个测量点位；根据所述测量点位和中子探测器，得到中子探测器在至少一个测量点位上的中子数据；获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数；根据所述中子响应系数和中子数据，得到至少一个设备和/或容器的核材料滞留量。可以通过中子探测的方法测量在役核设施内核材料滞留量。
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1.一种密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
3.根据权利要求2所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，所述响应测试方法包括：
4.根据权利要求3所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，根据所述测试数据N，得到响应系数η，包括：
5.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
6.根据权利要求5所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，所述模型模拟计算方法包括：
7.根据权利要求6所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，所述修正系数f是通过如下方法得到的：
8.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，根据所述中子响应系数和中子数据，得到至少一个设备和/或容器的核材料滞留量，包括：
9.一种密
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1至8任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
3.根据权利要求2所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，所述响应测试方法包括：
4.根据权利要求3所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，根据所述测试数据n，得到响应系数η，包括：
5.根据权利要求1所述的密闭系统内核材料滞留量测试方法，其特征在于，获取至少一个测量点位上至少一个设备和/或容器的中子响应系数，包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：冉琴，杨秀玉，王文秀，杨晓荣，朱盈喜，张进荣，张维琪，贾栋鹏，郝卫鸣，李红霞，强少斌，张淼，张胜伟，赵锋，魏立荣，
申请(专利权)人：中核四零四有限公司，
类型：发明
国别省市：
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