【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及flash芯片的可靠性检测领域,尤其是涉及一种flash芯片的不稳定页块剔除方法、系统、设备及其存储介质。
技术介绍
1、在sd卡生产过程中,生产批次不同的flash芯片质量存在差异,flash芯片的部分页块的不稳定容易导致不稳定页块对应的数据出现错误,影响sd卡的生产良率。
2、现有技术中通常是对坏块位置的地址线进行稳定性分析,并结合坏块数量在当前地址线上的比例判断稳定性,并剔除不稳定地址线上的所有块以达到保障数据安全的效果。现有技术中主要是对flash芯片出厂时的固有坏块进行检测剔除,但是在sd卡高温检测等稳定性检测过程中的暴力测试容易破坏flash芯片的稳定页块,对闪存卡寿命有着不可逆的损害。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足,通过剔除flash芯片中的不稳定页块以达到提高芯片良率和稳定性的目的,本专利技术提供一种flash芯片的不稳定页块剔除方法、系统、设备及其存储介质。
2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:
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...【技术保护点】
1.一种Flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种Flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,所述根据所述ECC众数值分析所述当前Plane中的不稳定块,并计算对应的不稳定块数量,包括:
3.根据权利要求2所述的一种Flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,还包括:
4.根据权利要求1所述的一种Flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,所述当所述不稳定块数量超过预设坏块阈值,将所述当前Plane的所有块对应偏移页标记为不稳定页,包括:
5.根据权利要求4所述的一种
...【技术特征摘要】
1.一种flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,所述根据所述ecc众数值分析所述当前plane中的不稳定块,并计算对应的不稳定块数量,包括:
3.根据权利要求2所述的一种flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,还包括:
4.根据权利要求1所述的一种flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,所述当所述不稳定块数量超过预设坏块阈值,将所述当前plane的所有块对应偏移页标记为不稳定页,包括:
5.根据权利要求4所述的一种flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,包括:
6.根据权利要求4所述的一种flash芯片的不稳定页块剔除方法,其特征在于,所述当所述不稳定块数量超过...
【专利技术属性】
技术研发人员:张驰,
申请(专利权)人:深圳市德明利技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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