【技术实现步骤摘要】
本说明书涉及微波，尤其涉及一种用于低噪声放大器hpm毁伤效应的试验装置。
技术介绍
1、高功率微波(high power microwave，hpm)可通过强电磁脉冲干扰毁伤装备内部敏感电子元器件达到作战意图，其原理是高功率微波脉冲辐射经由发射天线，从目标装备“前门”或“后门”耦合进入电子系统内部，对低噪声放大器等敏感电路产生扰乱甚至毁伤的效果，从而使目标装备电子系统呈现性能降级或功能失效。
2、传统的电子元器件的注入法试验无法模拟器件在高功率环境下的真实环境，存在电子元器件的高功率毁伤效果无法直观判断，毁伤评估困难，毁伤机理、毁伤效果与照射的微波特性参数之间对应关系不清晰的问题。
技术实现思路
1、本专利技术目的在于提供一种用于低噪声放大器hpm毁伤效应的试验装置，用以解决电子元器件的高功率毁伤效果无法直观判断，毁伤评估困难，毁伤机理、毁伤效果与照射的微波特性参数之间对应关系不清晰的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、一方面，本说明书提供一种用于低噪声放大器hpm毁伤效应的试验装置，包括hpm源(3)、hpm辐射天线(2)、hpm注入系统(12)、可移动式升降台(4)、状态监控系统(10)显示控制系统(11)，其中：
4、所述hpm源(3)用于根据预设hpm输入参数特性，产生对应参数特性的hpm脉冲和hpm辐射能量；
5、所述hpm注入系统(12)用于向低噪声放大器输入端注入所述hpm脉冲；p>
6、所述hpm辐射天线(2)用于将所述hpm辐射能量辐照到低噪声放大器内部芯片；
7、所述可移动式升降台(4)用于对低噪声放大器位置和角度进行调节，以获取不同大小和角度的hpm辐照环境；
8、所述状态监控系统(10)用于实时监测低噪声放大器的状态变化参数，所述状态变化参数包括低噪声放大器安装位置注入的hpm脉冲能量特性参数、经dut位置实际的hpm辐射能量特性参数和dut输出链路传输特性参数；
9、所述显示控制系统(11)用于调节所述预设hpm输入参数特性，根据所述状态监控系统(8)的状态变化参数，分析靶目标效应物的毁伤情况，得到低噪声放大器的毁伤情况和hpm输入参数特性的对应关系。
10、另一方面，本说明书还提供了一种用于低噪声放大器hpm毁伤效应的试验方法，包括：
11、根据预设hpm输入参数特性，通过hpm源产生对应参数特性的hpm脉冲和hpm辐射能量；
12、向低噪声放大器输入端注入所述hpm脉冲，将所述hpm辐射能量辐照到低噪声放大器内部芯片；
13、对低噪声放大器位置和角度进行调节，以获取不同大小和角度的hpm辐照环境；
14、实时监测低噪声放大器的状态变化参数，所述状态变化参数包括低噪声放大器安装位置注入的hpm脉冲能量特性参数、经dut位置实际的hpm辐射能量特性参数和dut输出链路传输特性参数；
15、根据所述状态变化参数，分析靶目标效应物的毁伤情况，得到低噪声放大器的毁伤情况和hpm输入参数特性的对应关系。
16、基于上述技术方案，本说明书能够获得如下技术效果：
17、首先，综合hpm从低噪声放大器输入端直接注入方式和hpm辐照到器件内部芯片上两种影响方式，可综合考核从器件管脚注入能量和器件处于hpm环境辐照场的效应，提高低噪声放大器hpm效应试验的准确性。其次，试验装置中设置可三维空间移动、角度可旋转的载物台，可方便快速地实现不同距离、不同角度条件下低噪声放大器的辐照效应试验，可增加试验中距离、角度等变量输入条件，提高试验效率。再次，试验装置中采用控制输入、同时监控输出功能参数和输入hpm特性的方式，快速实现低噪声放大器hpm效应和输入信号特性之间量效对应关系。
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1.一种用于低噪声放大器HPM毁伤效应的试验装置，其特征在于，包括HPM源(3)、HPM辐射天线(2)、HPM注入系统(12)、可移动式升降台(4)、状态监控系统(10)显示控制系统(11)，其中：
2.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，还包括变频放大组件(7)和功能参数监控(8)，其中：
3.根据权利要求2所述的试验装置，其特征在于，还包括低噪声放大器测试系统，其中：
4.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，还包括微波暗室(1)，其中：
5.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，所述HPM注入系统(12)包括环形器(19)、衰减器(17)、定向耦合器(16)、示波器(20)、检波器(21)、固定衰减器(22)和HPM注入点(15)。
6.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，所述可移动式平台(4)包括水平移动滑轨(14)、导轨(6)、升降装置(5)、器件旋转装置(13)、滚球(15)和角度可调检测载物台(23)，其中：
7.根据权利要求6所述的试验装置，其特征在于，还包括HPM接收天线
8.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，还包括矢量网络分析仪，其中：
9.一种用于低噪声放大器HPM毁伤效应的试验方法，其特征在于，包括：
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，在所述向低噪声放大器输入端注入所述HPM脉冲，将所述HPM辐射能量辐照到低噪声放大器内部芯片前，还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种用于低噪声放大器hpm毁伤效应的试验装置，其特征在于，包括hpm源(3)、hpm辐射天线(2)、hpm注入系统(12)、可移动式升降台(4)、状态监控系统(10)显示控制系统(11)，其中：
2.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，还包括变频放大组件(7)和功能参数监控(8)，其中：
3.根据权利要求2所述的试验装置，其特征在于，还包括低噪声放大器测试系统，其中：
4.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，还包括微波暗室(1)，其中：
5.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，所述hpm注入系统(12)包括环形器(19)、衰减器(17)、定向耦合器(16)、示波器(20)、检波器(21)、固定衰减...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆定红，傅小叶，代诗远，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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