【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及电子设备探测，特别涉及一种探测设备。
技术介绍
1、在探测设备如非线性结点探测器中，除设置相应的探测组件如非线性结点探测组件之外，还会设置摄像头组件。
2、探测组件能够通过谐波探测等方式来识别电子设备，而摄像头组件起到辅助探测的作用，其有助于显示电子设备的外形。但目前设置有摄像头组件的探测设备的误报率较高，这也正是本领域技术人员目前所亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例的目的是提供一种探测设备，可以避免探测组件发出的设定电磁波进入到摄像头组件，并可以保证摄像头组件正常采光，从而可以降低探测设备的误报率并有利于提高探测设备的探测精确度。
2、为实现上述目的，本申请实施例提供一种探测设备，所述探测设备包括探测组件、摄像头组件和屏蔽组件，所述探测组件用于发射和接收具有设定波长的设定电磁波，且所述设定波长大于所述摄像头组件所采集光线的波长。
3、所述摄像头组件安装于所述探测组件，所述屏蔽组件覆盖于所述摄像头组件的采光件，所述屏蔽组件用于供所述采光件所采集的光线通过和屏蔽所述设定电磁波。
4、在一些实施例中，所述探测组件包括天线板和反射板，所述天线板位于所述反射板的第一侧，所述摄像头组件位于所述反射板的第二侧，所述反射板的第一侧的朝向与所述反射板的第二侧的朝向相反。所述屏蔽组件安装于所述反射板。
5、在一些实施例中，所述屏蔽组件包括第一通孔和屏蔽网，所述第一通孔设于所述反射板，所述第一通孔连通所述反射板的
6、在一些实施例中，所述屏蔽网包括网孔，所述网孔的最大跨度小于所述设定波长。
7、在一些实施例中，所述探测设备还包括屏蔽罩，所述屏蔽罩位于所述反射板的第二侧，所述摄像头组件设于所述屏蔽罩内。
8、在一些实施例中，所述反射板设有金属窗，所述金属窗位于所述反射板的第二侧，所述金属窗围绕于所述第一通孔外周，所述金属窗与所述屏蔽罩抵接，所述反射板通过所述金属窗，与所述屏蔽罩构成屏蔽腔。
9、在一些实施例中，所述金属窗包括凹槽和金属层，所述凹槽设于所述反射板第二侧的表面，所述金属层设于所述凹槽的槽面上。至少部分所述屏蔽罩嵌合于所述凹槽内且与所述金属层抵接。
10、在一些实施例中，所述探测设备还包括采光组件，所述采光组件位于所述第一通孔和所述采光件之间，所述采光组件用于供所述第一通孔通过的光线到达所述采光件，且所述采光组件的厚度小于所述反射板的厚度。
11、在一些实施例中，所述采光组件包括金属片和设于所述金属片上的第二通孔。
12、所述第二通孔的截面面积小于所述第一通孔的截面面积，且所述第二通孔分别与所述第一通孔、所述采光件相对。
13、在一些实施例中，所述探测设备还包括外壳和扩口件，所述探测组件、所述摄像头组件和所述屏蔽组件位于所述外壳内。所述扩口件设于所述外壳，并面对所述屏蔽组件设置。
14、在一些实施例中，所述探测设备为非线性结点探测器，且所述设定电磁波包括基波、二次谐波和三次谐波。
15、相对于上述
技术介绍
，本申请所提供的探测设备通过采用屏蔽组件对探测组件一侧的摄像头组件实现屏蔽。具体的，探测设备包括探测组件、摄像头组件和屏蔽组件，探测组件用于发射和接收具有设定波长的设定电磁波，且设定波长大于摄像头组件所采集光线的波长，摄像头组件安装于探测组件，屏蔽组件覆盖于摄像头组件的采光件，屏蔽组件用于供采光件所采集的光线通过和屏蔽设定电磁波。如此设置，屏蔽组件可以阻挡探测组件发出的设定电磁波进入到摄像头组件，且不影响摄像头组件中采光件采集光线，使探测设备可以在保障摄像头组件正常使用的同时，还可以降低探测设备的误报率并有利于提高探测设备的探测精确度。
【技术保护点】
1.一种探测设备，其特征在于，所述探测设备包括探测组件、摄像头组件和屏蔽组件，所述探测组件用于发射和接收具有设定波长的设定电磁波，且所述设定波长大于所述摄像头组件所采集光线的波长；
2.根据权利要求1所述的探测设备，其特征在于，所述探测组件包括天线板和反射板，所述天线板位于所述反射板的第一侧，所述摄像头组件位于所述反射板的第二侧，所述反射板的第一侧的朝向与所述反射板的第二侧的朝向相反；所述屏蔽组件安装于所述反射板。
3.根据权利要求2所述的探测设备，其特征在于，所述屏蔽组件包括第一通孔和屏蔽网，所述第一通孔设于所述反射板，所述第一通孔连通所述反射板的第一侧和所述反射板的第二侧，所述屏蔽网设于所述反射板的第一侧并覆盖于所述第一通孔。
4.根据权利要求3所述的探测设备，其特征在于，所述屏蔽网包括网孔，所述网孔的最大跨度小于所述设定波长。
5.根据权利要求2所述的探测设备，其特征在于，所述探测设备还包括屏蔽罩，所述屏蔽罩位于所述反射板的第二侧，所述摄像头组件设于所述屏蔽罩内。
6.根据权利要求5所述的探测设备，其特征在于，所述
7.根据权利要求6所述的探测设备，其特征在于，所述金属窗包括凹槽和金属层，所述凹槽设于所述反射板第二侧的表面，所述金属层设于所述凹槽的槽面上；至少部分所述屏蔽罩嵌合于所述凹槽内且与所述金属层抵接。
8.根据权利要求3所述的探测设备，其特征在于，所述探测设备还包括采光组件，所述采光组件位于所述第一通孔和所述采光件之间，所述采光组件用于供所述第一通孔通过的光线到达所述采光件，且所述采光组件的厚度小于所述反射板的厚度。
9.根据权利要求8所述的探测设备，其特征在于，所述采光组件包括金属片和设于所述金属片上的第二通孔；
10.根据权利要求1所述的探测设备，其特征在于，所述探测设备还包括外壳和扩口件，所述探测组件、所述摄像头组件和所述屏蔽组件位于所述外壳内；所述扩口件设于所述外壳，并面对所述屏蔽组件设置。
11.根据权利要求1至10任一项所述的探测设备，其特征在于，所述探测设备为非线性结点探测器，且所述设定电磁波包括基波、二次谐波和三次谐波。
...【技术特征摘要】
1.一种探测设备，其特征在于，所述探测设备包括探测组件、摄像头组件和屏蔽组件，所述探测组件用于发射和接收具有设定波长的设定电磁波，且所述设定波长大于所述摄像头组件所采集光线的波长；
2.根据权利要求1所述的探测设备，其特征在于，所述探测组件包括天线板和反射板，所述天线板位于所述反射板的第一侧，所述摄像头组件位于所述反射板的第二侧，所述反射板的第一侧的朝向与所述反射板的第二侧的朝向相反；所述屏蔽组件安装于所述反射板。
3.根据权利要求2所述的探测设备，其特征在于，所述屏蔽组件包括第一通孔和屏蔽网，所述第一通孔设于所述反射板，所述第一通孔连通所述反射板的第一侧和所述反射板的第二侧，所述屏蔽网设于所述反射板的第一侧并覆盖于所述第一通孔。
4.根据权利要求3所述的探测设备，其特征在于，所述屏蔽网包括网孔，所述网孔的最大跨度小于所述设定波长。
5.根据权利要求2所述的探测设备，其特征在于，所述探测设备还包括屏蔽罩，所述屏蔽罩位于所述反射板的第二侧，所述摄像头组件设于所述屏蔽罩内。
6.根据权利要求5所述的探测设备，其特征在于，所述反射板设有金属窗，所述金属窗位于所述反...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑子树，别体军，
申请(专利权)人：深圳市安卫普科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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