雷达性能测试系统、方法、电子设备及存储介质技术方案

技术编号:40049511 阅读:16 留言:0更新日期:2024-01-16 20:59
本申请提供了一种雷达性能测试系统、方法、电子设备及存储介质。所述系统法包括:上位机、直线型的机械结构、待测试雷达和角反射器,所述待测试雷达设置于所述机械结构上,所述上位机,用于在预先部署的封闭式的射频屏蔽的测试环境中,基于预设测试条件,控制所述机械结构带动所述待测试雷达运动;获取所述待测试雷达在运动过程中探测固定设置于所述测试环境内的角反射器的探测信号;基于所述探测信号,确定所述待测试雷达的性能测试结果。本申请可以提高雷达性能测试的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及雷达性能测试,尤其涉及一种雷达性能测试系统、方法、电子设备及存储介质


技术介绍

1、当前毫米波雷达在新能源汽车上应用越来越广泛,但对毫米波雷达的测试方案仍然采用传统的测试方法,即外场测试方法。在毫米波雷达的测试标准(t/caamtb 15—2020)定义的场景如下:外场测试条件:检测范围为0-400m,镜像逼近速度为100m/s角度为90°~-90°,标准主要检测的参数包括:探测范围、探测速度范围、多目标分辨能力、测量精度及误差、探测率及漏检率等。

2、这些测试大多要求被测件(dut)或检测目标以特定的速度,或加速度进行运动,并定值保持。例如,探测速度的测试方案包括以下步骤:

3、a)目标固定于待测雷达法线方向并且位于待测雷达探测范围内,待测雷达对准目标中心,目标在径向远离雷达方向的速度从零逐渐增大,速度每增大1m/s,保持该状态3s,等待雷达探测目标,直至确定待测雷达的目标径向远离速度并记录;

4、b)目标在径向逼近雷达方向的速度从零逐渐增大,速度每增大1m/s,保持该状态3s,等待雷达探测目标,直至确定待本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种雷达性能测试系统,其特征在于,所述系统包括:上位机、直线型的机械结构、待测试雷达和角反射器,所述待测试雷达设置于所述机械结构上,

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:安装于所述测试环境内的干扰模拟源,

6.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述机械结构为机械臂和电机中的任一种。

8.一种雷达性能测试...

【技术特征摘要】

1.一种雷达性能测试系统,其特征在于,所述系统包括:上位机、直线型的机械结构、待测试雷达和角反射器,所述待测试雷达设置于所述机械结构上,

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:安装于所述测试环境内的干扰模拟源,

6.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述机械结构为机械臂和电机中的任一种。

8.一种雷达性能测试方法,其特征在于,包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述基于预设测试条件,控制所述机械结构带动所述待测试雷达运动,包括:

10.根据权利要求9所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁芳高云海
申请(专利权)人:苏州利骏常科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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