【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电路测试，具体为一种大电流探针浮动测试机构。
技术介绍
1、随着全球电子行业的日益增长和对电路的要求越来越高，电路的电流承载要求越来越大，甚至达到500a；而测试电路的电流承载能力需要将被测模块放置在安装有多件探针的探针块上才能满足测试要求，多支探针同时工作就要求被测模块平整度比较高；现有技术中提高被测模块平整度需要较高成本，而探针往往固定安装，被测模块不平整容易造成通过探针的电流不均而损坏。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种大电流探针浮动测试机构，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种大电流探针浮动测试机构，包括固定板、固定螺丝、弹簧、浮动接头、绝缘块、探针固定块、限位块、面板、探针；所述固定板上设有成矩形分布的四个螺孔，螺孔中间开有矩形缺口；所述固定螺丝从固定板下侧拧入螺孔内；所述浮动接头底部配装在固定螺丝上，且弹簧加装在浮动接头与固定螺丝之间；所述绝缘块共两件，分别横向平行安装在两件浮动接头顶端；所述探针固定块安装在绝缘块上表面；所述限位块上开有两个矩形通槽，安装在面板下表面；所述探针安装在探针固定块上，其探头位于探针固定块上方，下端穿过探针固定块和绝缘块。
3、作为本技术的一种优选技术方案，所述固定板与面板均配装螺栓固定在工装上，被测模块从面板上方放置并挤压探针。
4、作为本技术的一种优选技术方案，所述限位块上矩形通槽内尺寸大于探针固定块外尺寸；探针固定块安装时上部位于矩形通
5、为本技术的一种优选技术方案，所述探针密集安装在探针固定块上，均位于固定板矩形缺口上方。
6、与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术可以通过密集设置的两组浮动探针，在受压时通过探针升降并带动整体下移，通过两组浮动接头以及下侧的弹簧支撑，尽可能的使每个探针均接触被测模块的测试面，同时适应其不平整的表面，减少通过探针的电流不均的情况发生，大大降低探针损坏的情况。
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1.一种大电流探针浮动测试机构，其特征在于：包括固定板(1)、固定螺丝(2)、弹簧(3)、浮动接头(4)、绝缘块(5)、探针固定块(6)、限位块(7)、面板(8)、探针(9)；所述固定板(1)上设有成矩形分布的四个螺孔，螺孔中间开有矩形缺口；所述固定螺丝(2)从固定板(1)下侧拧入螺孔内；所述浮动接头(4)底部配装在固定螺丝(2)上，且弹簧(3)加装在浮动接头(4)与固定螺丝(2)之间；所述绝缘块(5)共两件，分别横向平行安装在两件浮动接头(4)顶端；所述探针固定块(6)安装在绝缘块(5)上表面；所述限位块(7)上开有两个矩形通槽，安装在面板(8)下表面；所述探针(9)安装在探针固定块(6)上，其探头位于探针固定块(6)上方，下端穿过探针固定块(6)和绝缘块(5)。
2.根据权利要求1所述的一种大电流探针浮动测试机构，其特征在于：所述固定板(1)与面板(8)均配装螺栓固定在工装上，被测模块(10)从面板(8)上方放置并挤压探针(9)。
3.根据权利要求1所述的一种大电流探针浮动测试机构，其特征在于：所述限位块(7)上矩形通槽内尺寸大于探针固定块(6)外尺寸
4.根据权利要求1所述的一种大电流探针浮动测试机构，其特征在于：所述探针(9)密集安装在探针固定块(6)上，均位于固定板(1)矩形缺口上方。
...【技术特征摘要】
1.一种大电流探针浮动测试机构，其特征在于：包括固定板(1)、固定螺丝(2)、弹簧(3)、浮动接头(4)、绝缘块(5)、探针固定块(6)、限位块(7)、面板(8)、探针(9)；所述固定板(1)上设有成矩形分布的四个螺孔，螺孔中间开有矩形缺口；所述固定螺丝(2)从固定板(1)下侧拧入螺孔内；所述浮动接头(4)底部配装在固定螺丝(2)上，且弹簧(3)加装在浮动接头(4)与固定螺丝(2)之间；所述绝缘块(5)共两件，分别横向平行安装在两件浮动接头(4)顶端；所述探针固定块(6)安装在绝缘块(5)上表面；所述限位块(7)上开有两个矩形通槽，安装在面板(8)下表面；所述探针(9)安装在探针固定块(6...
【专利技术属性】
技术研发人员：高岩，王谦，杨文超，
申请(专利权)人：西安麦尔拓电气技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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