【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电池模组生产，特别是涉及一种表面起翘识别方法、一种表面起翘识别装置、一种检测设备和一种存储介质。
技术介绍
1、锂电池模组是一种常用的电力储存装置，广泛应用于电动汽车等领域。在生产过程中，每个锂电池模组都由多个电池单体组成，并且需要通过外壳进行封装和保护。然而，由于材料和工艺原因，锂电池模组的外壳可能存在翘曲问题，即外壳在安装后出现非平整、凸起或下陷的情况。
2、目前针对表面起翘的检测方式包括采用卷积神经网络的图像处理方式，或者基于时域的图像处理方式进行识别。但是卷积神经网络的图像处理需要大量的良品与缺陷品的特征进行标定，对具体产品表面起翘形式和特征参数有一定的假设和限制。如果应用于其他类型的产品或不同的起翘形式，可能需要重新调整算法或进行额外的训练和验证，泛化能力差。基于时域的图像处理方式可能受到图像质量、噪声、光照条件等因素的影响。如果图像分割和边缘检测不准确或不稳定，可能导致误判或漏判的现象发生。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，提出了本专利技术实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种表面起翘识别方法、一种表面起翘识别装置、一种检测设备和一种存储介质。
2、为了解决上述问题，在本专利技术的第一个方面，本专利技术实施例公开了一种表面起翘识别方法，包括：
3、获取待检测表面图像；
4、将所述待检测表面图像进行频域转换，生成待检测频谱图像；
5、确定所述待检测频谱图像与预设良品频谱图像的
6、基于所述距离度量值确定表面起翘信息。
7、可选地，所述方法还包括：
8、对所述待检测频谱图像进行频域滤波，生成掩膜图像。
9、可选地，所述确定所述待检测频谱图像与预设良品频谱图像的距离度量值的步骤包括：
10、计算所述待检测频谱图像与所述预设良品频谱图像的差值；
11、采用所述差值与所述掩膜图像确定所述距离度量值。
12、可选地，所述采用所述差值与所述掩膜图像确定所述距离度量值的步骤包括：
13、计算所述差值点乘所述掩膜图像的二范数；
14、确定所述二范数为所述距离度量值。
15、可选地，所述基于所述距离度量值确定表面起翘信息的步骤包括：
16、判断所述距离度量值是否大于预设距离阈值；
17、响应于所述距离度量值大于所述预设距离阈值，确定所述表面起翘信息为发生起翘；
18、响应于所述距离度量值不大于所述预设距离阈值，确定所述表面起翘信息为未起翘。
19、可选地，所述方法还包括：
20、对所述待检测表面图像进行预处理；
21、采用预处理后的待检测表面图像，执行所述将所述待检测表面图像进行频域转换，生成待检测频谱图像的步骤。
22、可选地，所述对所述待检测表面图像进行预处理的步骤包括：
23、识别所述待检测表面图像中的目标区域，生成目标区域图像；
24、对所述目标区域图像进行光学处理，生成第一图像；
25、对所述第一图像进行自适应直方图均衡化，以完成所述预处理。
26、可选地，所述将所述待检测表面图像进行频域转换，生成待检测频谱图像的步骤包括：
27、基于离散傅里叶变换，对所述待检测表面图像进行傅里叶转换，生成所述待检测频谱图像。
28、在本专利技术的第二个方面，本专利技术实施例公开了一种表面起翘识别装置，包括：
29、获取模块，用于获取待检测表面图像；
30、频域转换模块，用于将所述待检测表面图像进行频域转换，生成待检测频谱图像；
31、距离确定模块，用于确定所述待检测频谱图像与预设良品频谱图像的距离度量值；
32、起翘确定模块，用于基于所述距离度量值确定表面起翘信息。
33、在本专利技术的第三个方面，本专利技术实施例还公开了一种检测设备，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的表面起翘识别方法的步骤。
34、在本专利技术的第四个方面，本专利技术实施例还公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的表面起翘识别方法的步骤。
35、本专利技术实施例包括以下优点：
36、本专利技术实施例通过获取待检测表面图像；将所述待检测表面图像进行频域转换，生成待检测频谱图像；确定所述待检测频谱图像与预设良品频谱图像的距离度量值；基于所述距离度量值确定表面起翘信息；通过采用频域处理方式，将时域中待检测表面图像转换为频域图像进行处理，可以保持了平移不变性，适应了电池模组表面的轻微位移，具有更好的泛化能力；并且基于频域图像的处理，对不同起翘纹理模式的响应存在明显区别，无需针对不同起翘模式适配不同的参数，只需要基于良品对应的预设良品频谱图像即可以进行起翘识别，具有更好的灵活性和适应性；对于新的起翘情况或数据集不需要重新设计和调整，可以缩短迭代周期，提高起翘识别的准确度。
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1.一种表面起翘识别方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述待检测频谱图像与预设良品频谱图像的距离度量值的步骤包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述采用所述差值与所述掩膜图像确定所述距离度量值的步骤包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述距离度量值确定表面起翘信息的步骤包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测表面图像进行预处理的步骤包括：
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述待检测表面图像进行频域转换，生成待检测频谱图像的步骤包括：
9.一种表面起翘识别装置，其特征在于，包括：
10.一种检测设备，其特征在于，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至8中
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的表面起翘识别方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种表面起翘识别方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述待检测频谱图像与预设良品频谱图像的距离度量值的步骤包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述采用所述差值与所述掩膜图像确定所述距离度量值的步骤包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述距离度量值确定表面起翘信息的步骤包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：田光亚，朱勇，
申请(专利权)人：中科创达软件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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