【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示屏检测领域，具体涉及一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。
技术介绍
1、目前，随着显示技术的快速发展，显示器尺寸以及图像显示效果都有了极大的提升，为确保显示屏的显示效果，需要对显示屏进行缺陷检测，该缺陷检测主要检测的对象为显示屏的mura缺陷，mura缺陷表现为显示图像呈现区域的亮度及颜色不均,其主要特征为：缺陷区域和周围背景的对比度低,边缘模糊,形状各异。而现有的基于机器视觉的缺陷检测方法仅能对较大面积且对比度较高的mura缺陷有较好的检测效果，对于对比度较低的spotmura缺陷或其它缺陷检测稳定性较差、效率低，无法满足现有的缺陷检测需求。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，旨在解决现有技术中针对显示屏的mura缺陷检测的准确性和稳定性较差的技术问题。
2、一方面，本申请实施例提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括以下步骤：
3、获取待检测的显示屏的显示图像；
4、基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像；
5、根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域；
6、根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷。
7、在本申请一种可能的实现方式中，所述基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像，包括：
8、获取所述显示图像对应的
9、将所述预设背景图像和显示图像进行差分计算，得到初始差分图像；
10、获取预设的亮度值偏移量，将所述亮度值偏移量添加到所述初始差分图像，得到背景差分图像。
11、在本申请一种可能的实现方式中，所述根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域，包括：
12、基于预设的各分割阈值对所述背景差分图像进行分割，得到各所述分割阈值对应的各分割缺陷区域；
13、汇总各所述分割缺陷区域，得到所述背景差分图像的缺陷区域。
14、在本申请一种可能的实现方式中，所述根据所述各分割阈值对所述背景差分图像进行分割，得到各所述分割阈值对应的各分割缺陷区域，包括：
15、获取所述背景差分图像的像素均值和像素标准差，以及所述背景差分图像中的待检测区域的区域像素值；
16、根据所述像素均值、所述像素标准差和所述区域像素值计算所述待检测区域的像素差异值；
17、若所述像素差异值大于所述分割阈值，则确定所述待检测区域为缺陷区域；
18、通过所述缺陷区域对所述背景差分图像进行二值化分割，得到各所述分割阈值对应的分割缺陷区域。
19、在本申请一种可能的实现方式中，所述据所述缺陷区域的亮度信息，对所述缺陷区域进行缺陷分析，包括：
20、获取所述缺陷区域中的缺陷区域和背景区域；
21、获取所述缺陷区域的缺陷亮度均值和所述背景区域的背景亮度均值，根据所述缺陷亮度均值、所述背景亮度均值和缺陷区域面积计算缺陷量化值；
22、若所述缺陷量化值大于预设的缺陷量化阈值，确定所述缺陷区域为所述待检测显示屏的目标缺陷区域。
23、在本申请一种可能的实现方式中，所述若所述缺陷量化值大于预设的缺陷量化阈值，确定所述缺陷区域为所述待检测显示屏的目标缺陷区域之后，还包括：
24、若所述缺陷量化值大于预设的缺陷量化阈值，则获取目标缺陷的长宽比值和缺陷面积；
25、将所述长宽比值和预设的长宽比阈值进行比较，以及将所述缺陷面积和预设的面积阈值进行比较；
26、若所述长宽比值小于所述长宽比阈值且缺陷区域面积小于面积阈值，确定所述缺陷区域为目标点状缺陷区域。
27、在本申请一种可能的实现方式中，所述据所述缺陷区域的亮度信息，对所述缺陷区域进行缺陷分析之后，还包括：
28、获取所述目标缺陷的缺陷量化值，以及所述显示屏的厂商标识；
29、提取与所述厂商标识对应的厂商缺陷量化映射，根据所述厂商缺陷量化映射和所述缺陷量化值计算所述目标缺陷区域的厂商缺陷量化值；
30、获取所述厂商缺陷量化值对应的缺陷等级并输出所述缺陷等级。
31、另一方面，本申请提供一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置包括：
32、图像获取模块，被配置为获取待检测的显示屏的显示图像；
33、背景差分模块，被配置为基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像；
34、缺陷分割模块，被配置为根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域；
35、量化筛选模块，被配置为据所述缺陷区域的亮度信息，对所述缺陷区域进行缺陷分析。
36、另一方面，本申请还提供一种缺陷检测设备，所述缺陷检测设备包括：
37、一个或多个处理器；
38、存储器；以及
39、一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现所述的缺陷检测方法。
40、另一方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行所述的缺陷检测方法中的步骤。
41、本申请中通过获取待检测的显示屏的显示图像，并基于该显示图像的预设北京图像对该显示图像进行差分处理，得到背景差分图像，从而增强背景差分图像中的缺陷特征；并根据该背景差分图像中的各分割阈值对该背景差分图像进行多尺度阈值分割，从而有效地获取背景差分图像中各对比度层级的缺陷区域；并对获取到的缺陷区域进行筛选，从而确定显示图像的目标缺陷，实现有效地检测显示屏中各对比度层级的缺陷，并对该缺陷进行量化检测，提高检测稳定性和检测效率。
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1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像，包括：
3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域，包括：
4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设的各分割阈值对所述背景差分图像进行分割，得到各所述分割阈值对应的各分割缺陷区域，包括：
5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷，包括：
6.如权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述若所述缺陷量化值大于预设的缺陷量化阈值，确定所述缺陷区域为所述待检测显示屏的目标缺陷区域，包括：
7.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷之后，还包括：
8.一种缺
9.一种缺陷检测设备，其特征在于，所述缺陷检测设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行权利要求1至7中任一项所述的缺陷检测方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像，包括：
3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域，包括：
4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设的各分割阈值对所述背景差分图像进行分割，得到各所述分割阈值对应的各分割缺陷区域，包括：
5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷，...
【专利技术属性】
技术研发人员：邢连萍，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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