缺陷检测方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该缺陷检测方法包括：获取待检测的显示屏的显示图像；基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像；根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域；根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷。本申请的方法能够实现有效地检测显示屏中各对比度层级的显示缺陷，并对该显示缺陷进行量化检测，提高检测稳定性和检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示屏检测领域，具体涉及一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

1、目前，随着显示技术的快速发展，显示器尺寸以及图像显示效果都有了极大的提升，为确保显示屏的显示效果，需要对显示屏进行缺陷检测，该缺陷检测主要检测的对象为显示屏的mura缺陷，mura缺陷表现为显示图像呈现区域的亮度及颜色不均,其主要特征为：缺陷区域和周围背景的对比度低,边缘模糊,形状各异。而现有的基于机器视觉的缺陷检测方法仅能对较大面积且对比度较高的mura缺陷有较好的检测效果，对于对比度较低的spotmura缺陷或其它缺陷检测稳定性较差、效率低，无法满足现有的缺陷检测需求。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，旨在解决现有技术中针对显示屏的mura缺陷检测的准确性和稳定性较差的技术问题。

2、一方面，本申请实施例提供一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括以下步骤：

3、获取待检测的显示屏的显示图像；

4、基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像，包括：

3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域，包括：

4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设的各分割阈值对所述背景差分图像进行分割，得到各所述分割阈值对应的各分割缺陷区域，包括：

5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像，包括：

3.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域，包括：

4.如权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设的各分割阈值对所述背景差分图像进行分割，得到各所述分割阈值对应的各分割缺陷区域，包括：

5.如权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷，...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢连萍，
申请(专利权)人：TCL科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：