【技术实现步骤摘要】
本技术涉及大尺寸透镜测量冶具，特别是涉及一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置。
技术介绍
1、光学中心偏检测仪因结构外形偏小，难以对大尺寸透镜进行中心偏检测，因此目前常用的方法是测量透镜的边厚差来衡量透镜中心偏状况。
2、对于大尺寸透镜边厚差的测量，一般采用由固定旋转台、支撑夹具、磁吸杠杆百分表组成的测量工具来进行，先把支撑夹具放入固定旋转台，再把待测透镜放在支撑夹具上，为保证透镜外圈与旋转台同轴度一致，需对同轴度进行校对，即用磁吸百分表头接触透镜外圈，并旋转透镜一周，找到高低点位置，使用橡胶锤敲击高点使其降低，通过多次校对使透镜的外圆与旋转平台同轴。使用磁吸百分表表头围绕透镜一周，测量透镜上表面距边缘约2mm处的数据，最高与最低数据之间的差值即为透镜的边厚差。
3、该方法为了保证透镜外圈与旋转台同轴度精度，对透镜进行敲击，容易造成透镜平面磨损，影响表面光洁度，同时费时费力，对旋转台的平面精度要求也高。
技术实现思路
1、技术目的：本技术的目的是提供一种测量方便、不影响...
【技术保护点】
1.一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：包括夹具主体(1)、千分表(2)，夹具主体(1)两侧设有相互平行的上夹板(11)和下夹板(12)，上夹板(11)和下夹板(12)之间垂直设有两组限位柱(13)，上夹板(11)在两组限位柱(13)之间的中心线上设有螺纹孔，千分表(2)的探头垂直穿过螺纹孔，并指向下夹板(12)，下夹板(12)上靠近上夹板(11)一侧设有调节柱(14)和两组定位柱(15)，调节柱(14)位于两组定位柱(15)之间中心线上，且与千分表(2)的探头同轴对齐。
2.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分...
【技术特征摘要】
1.一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：包括夹具主体(1)、千分表(2)，夹具主体(1)两侧设有相互平行的上夹板(11)和下夹板(12)，上夹板(11)和下夹板(12)之间垂直设有两组限位柱(13)，上夹板(11)在两组限位柱(13)之间的中心线上设有螺纹孔，千分表(2)的探头垂直穿过螺纹孔，并指向下夹板(12)，下夹板(12)上靠近上夹板(11)一侧设有调节柱(14)和两组定位柱(15)，调节柱(14)位于两组定位柱(15)之间中心线上，且与千分表(2)的探头同轴对齐。
2.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分表(2)的探头与上夹板(11)通过螺纹连接，并通过螺纹孔上下移动。
3.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：待测透镜位于上夹板(11)和下夹板(12)之间，待测透镜的侧边紧贴着两组限位柱(13)。
4.根据权利要求3所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分表(2...
【专利技术属性】
技术研发人员：王海波，范一，
申请(专利权)人：南京茂莱光学科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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