【技术实现步骤摘要】
本技术涉及大尺寸透镜测量冶具，特别是涉及一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置。
技术介绍
1、光学中心偏检测仪因结构外形偏小，难以对大尺寸透镜进行中心偏检测，因此目前常用的方法是测量透镜的边厚差来衡量透镜中心偏状况。
2、对于大尺寸透镜边厚差的测量，一般采用由固定旋转台、支撑夹具、磁吸杠杆百分表组成的测量工具来进行，先把支撑夹具放入固定旋转台，再把待测透镜放在支撑夹具上，为保证透镜外圈与旋转台同轴度一致，需对同轴度进行校对，即用磁吸百分表头接触透镜外圈，并旋转透镜一周，找到高低点位置，使用橡胶锤敲击高点使其降低，通过多次校对使透镜的外圆与旋转平台同轴。使用磁吸百分表表头围绕透镜一周，测量透镜上表面距边缘约2mm处的数据，最高与最低数据之间的差值即为透镜的边厚差。
3、该方法为了保证透镜外圈与旋转台同轴度精度，对透镜进行敲击，容易造成透镜平面磨损，影响表面光洁度，同时费时费力，对旋转台的平面精度要求也高。
技术实现思路
1、技术目的：本技术的目的是提供一种测量方便、不影响透镜表面光洁度的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置。
2、技术方案：为实现上述目的，本技术所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，包括夹具主体、千分表，夹具主体两侧设有相互平行的上夹板和下夹板，上夹板和下夹板之间垂直设有两组限位柱，上夹板在两组限位柱之间的中心线上设有螺纹孔，千分表的探头垂直穿过螺纹孔，并指向下夹板，下夹板上靠近上夹板一侧设有调节柱和两组定位柱，调节柱位于两组定位柱之间中心线上，
3、其中，千分表的探头与上夹板通过螺纹连接，并通过螺纹孔上下移动。
4、其中，待测透镜位于上夹板和下夹板之间，待测透镜的侧边紧贴着两组限位柱。
5、其中，千分表的探头顶端紧贴着待测透镜的上表面边沿。
6、其中，调节柱和两组定位柱的顶端紧贴着待测透镜的下表面。
7、其中，当调节柱位于下夹板上的高度高于两组定位柱时，待测透镜的下表面为凸球面或凸形非球面。
8、其中，当调节柱位于下夹板上的高度低于两组定位柱时，待测透镜的下表面为凹球面或凹形非球面。
9、其中，当调节柱位于下夹板上的高度与两组定位柱相同时，待测透镜的下表面为平面。
10、其中，限位柱、调节柱、定位柱分别通过胶粘固定在夹具主体上。
11、有益效果：本技术具有如下优点：本装置通过调节柱和两组定位柱，对待测透镜下表面边沿进行三点定位，使透镜得到支撑，采用限位柱对透镜外圈进行限位，解决透镜在测量过程中的移动及现有方法中透镜外圈需与旋转台同轴的问题，减少了透镜表面刮伤的风险；同时本装置结构简单、操作方便，提高了测量精度。
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1.一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：包括夹具主体(1)、千分表(2)，夹具主体(1)两侧设有相互平行的上夹板(11)和下夹板(12)，上夹板(11)和下夹板(12)之间垂直设有两组限位柱(13)，上夹板(11)在两组限位柱(13)之间的中心线上设有螺纹孔，千分表(2)的探头垂直穿过螺纹孔，并指向下夹板(12)，下夹板(12)上靠近上夹板(11)一侧设有调节柱(14)和两组定位柱(15)，调节柱(14)位于两组定位柱(15)之间中心线上，且与千分表(2)的探头同轴对齐。
2.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分表(2)的探头与上夹板(11)通过螺纹连接，并通过螺纹孔上下移动。
3.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：待测透镜位于上夹板(11)和下夹板(12)之间，待测透镜的侧边紧贴着两组限位柱(13)。
4.根据权利要求3所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分表(2)的探头顶端紧贴着待测透镜的上表面边沿。
5.根据权利要求3所述的大尺寸透镜边沿
6.根据权利要求5所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：当调节柱(14)位于下夹板(12)上的高度高于两组定位柱(15)时，待测透镜的下表面为凸球面或凸形非球面。
7.根据权利要求5所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：当调节柱(14)位于下夹板(12)上的高度低于两组定位柱(15)时，待测透镜的下表面为凹球面或凹形非球面。
8.根据权利要求5所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：当调节柱(14)位于下夹板(12)上的高度与两组定位柱(15)相同时，待测透镜的下表面为平面。
9.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述限位柱(13)、调节柱(14)、定位柱(15)分别通过胶粘固定在夹具主体(1)上。
...【技术特征摘要】
1.一种大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：包括夹具主体(1)、千分表(2)，夹具主体(1)两侧设有相互平行的上夹板(11)和下夹板(12)，上夹板(11)和下夹板(12)之间垂直设有两组限位柱(13)，上夹板(11)在两组限位柱(13)之间的中心线上设有螺纹孔，千分表(2)的探头垂直穿过螺纹孔，并指向下夹板(12)，下夹板(12)上靠近上夹板(11)一侧设有调节柱(14)和两组定位柱(15)，调节柱(14)位于两组定位柱(15)之间中心线上，且与千分表(2)的探头同轴对齐。
2.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分表(2)的探头与上夹板(11)通过螺纹连接，并通过螺纹孔上下移动。
3.根据权利要求1所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：待测透镜位于上夹板(11)和下夹板(12)之间，待测透镜的侧边紧贴着两组限位柱(13)。
4.根据权利要求3所述的大尺寸透镜边沿厚度差测量装置，其特征在于：所述千分表(2...
【专利技术属性】
技术研发人员：王海波，范一，
申请(专利权)人：南京茂莱光学科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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