一种磁辊表面粗糙度测量系统技术方案

技术编号:4003222 阅读:212 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种磁辊表面粗糙度测量系统,该系统包括光学系统、光学部件控制系统、磁辊传动系统、数据采集及处理系统。光学系统发射的激光聚焦到被测磁辊表面,反射散射光所成的像被面阵CCD采集,经数据采集及处理系统进行处理,得到能量分布径向均值Er,角向方差Da以及分布纵横比Ar三个特征参量,从而得到散射光的能量二维分布情况,进而可对被测磁辊粗糙度情况进行测量判断。

【技术实现步骤摘要】
一种磁辊表面粗糙度测量系统
本专利技术涉及一种表面粗糙度测量方法,具体设计一种基于激光散射光强二维分布 统计的磁辊表面粗糙度无损非接触式的高精度测量方法
技术介绍
打印机、复印机所用硒鼓磁辊的表面粗糙度对设备打印质量有直接影响,磁辊使 用前均需对此指标进行抽样测量。目前常采用的表面粗糙度方法主要分为接触测量和非接 触测量两大类。接触测量指探测器同被测物体相接触从而获得被测物体外观形貌的测量方法,具 有精度高、测量结果稳定的优点,但是对磁辊表面会造成沾染、损伤或造成磁辊蠕变,也不 能进行在线检测,无法满足自动化水平要求。非接触测量中主要有激光三角法、激光散射法等。激光三角法指由激光发生器发出的激光经光学准直系统照射到物体表面形成光 点并发生反射,反射光随被测物体表面的起伏变化在CCD上的不同位置成像,通过检测光 点在CCD上的位置,经几何变换可以得到光点相对测量基面的起伏变化信息,具有测量精 度高的优点,但测量成本也较高,中小型企业难以承受。激光散射法指用激光作光源,在入射光方向以外,通过检测散射光强度、频移及其 角度依赖等而得到测量基面的起伏变化的方法的统称。目前多以散射光能量的一维本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁辊表面粗糙度测量系统,该系统包括光学系统、光学部件控制系统、数据采集及处理系统,其特征在于,该系统还包括磁辊传动系统,光学系统位于磁辊传动系统上方,并受光学部件控制系统控制,光学系统形成的包含被测磁辊表面形貌信息的光信号恰好被数据采集及处理系统采集处理。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:马克辛
申请(专利权)人:富美科技有限公司
类型:发明
国别省市:88[中国|济南]

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