【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种磁致液位计探测标尺杆长度校准装置及方法。
技术介绍
1、医药、化工、储罐等行业的液位通常使用液位计测量。由于涉及化工以及液位距离测量精度要求高，因此，磁致伸缩液位计是液位测量、液位控制的主力产品，它是由电子变送器、探测杆、和浮子三部分组成。浮子沿探测杆随液位的变化而上下浮动。在浮子内部有一组永久磁环，当探测杆中的脉冲电流磁场与浮子产生的磁环磁场相遇时，浮子周围的磁场发生改变从而使得由磁致伸缩材料做成的波导丝在浮子所在位置产生一个扭转波脉冲，这个脉冲以固定速度沿波导丝传回并检出机构测出。通过测量脉冲电流与扭转波的时间差可以精确地确定浮子所在的位置，即液位位置。
2、磁致伸缩液位计测量精度可以达到±1mm以内。然而目前对于液位测量标尺校正还是采用传统长度测量定位方式，即：使用卷尺或钢板尺的刻度来测量校准浮子到基准面的位置，这种手动移动到固定刻度，目测读数的方法工作效率低。卷尺或钢板尺本身有误差，测量标尺摆放位置，目测读数误差（甚至受光线影响），这些因素导致的累积测量误差，已不能充分保证对磁致伸缩液位计的检测精度。并且，现有的一些测长仪，其测量平台设计不符合阿贝测长原理。忽视了标准尺和被测物三维空间错位带来的二次误差，错误地理解为标准值，造成实际测量值失真误差加大，测量准确度下降。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提出一种磁致液位计探测标尺杆长度校准装置及方法，在校正平台上基于阿贝原理布置校正设备和被检测校正探测标尺杆，提高了检测效率，还原真实检测数值，
2、为了实现上述目的，本专利技术的技术方案是：
3、一种磁致液位计探测标尺杆长度校准装置，包括在水泥地基上设置的校准框架，被校准的液位计探测标尺杆水平放置在框架上，液位计浮子套在探测标尺杆上，所述校准框架两侧分别水平设置有导轨，两侧导轨相互平行，所述两侧导轨之间设置有磁栅尺基台，基台上平行于两侧导轨设置有磁栅尺，所述探测标尺杆定位在磁栅尺基台旁边平行于磁栅尺设置，横跨磁栅尺和探测标尺杆设置有一个平移检测台，平移检测台通过两个导轨滑块支撑在两侧导轨上，平移检测台下端贴近磁栅尺设置有磁感应读数头，所述液位计浮子通过挂板与平移检测台连接固定，水平移动平移检测台同时带动磁感应读数头沿磁栅尺移动、带动液位计浮子沿探测标尺杆移动，将磁栅尺作为长度校正基准，通过对读取的磁感应读数头在磁栅尺上移动的距离数据和探测标尺杆感应的浮子在探测标尺杆上移动的距离数据进行比对，实现对探测标尺杆的长度校准。
4、方案进一步是：在磁栅尺基台侧壁上贴附设置有钢板尺，在所述平移检测台下端设置有对应钢板尺刻度的指针。
5、方案进一步是：所述磁栅尺和探测标尺杆中心轴线处于一个水平面，磁栅尺与探测标尺杆之间的水平距离是120mm。
6、方案进一步是：所述导轨是双轴心导轨，所述导轨滑块与双轴心导轨相配套。
7、方案进一步是：在所述磁栅尺基台由整根40mm方形铝型材经水平校准定位安放在校准框架上，在所述磁栅尺基台上表面纵向加工设置有凹槽，凹槽的宽度和深度与磁栅尺的宽度和厚度相等，所述磁栅尺粘贴在凹槽中，磁栅尺上表面与磁栅尺基台上表面平齐为一个平面。
8、方案进一步是：校准框架是由40mm方形铝型材分段连接组成，所述两根导轨的长度是4.5米，磁栅尺与探测标尺杆之间的水平距离是120mm。
9、一种基于所述磁致液位计探测标尺杆长度校准装置的校准方法，将校准框架置于25±0.5℃的恒温室中，对校准框架进行水平校正，其中，所述方法包括校正起始位置确定和确定浮子沿探测标尺杆移动距离的读数精度：
10、所述校正起始位置确定是：推动平移检测台将液位计浮子向探测标尺杆的根部移动直至探测标尺杆显示长度是“0”的位置，此时液位计浮子处于探测标尺杆原点起始位置，即为校正起始位置，同时，读取磁感应读数头在磁栅尺所处的位置数据，如果不是“0”，则调整读数为“0”；
11、所述确定浮子沿探测标尺杆移动距离的读数精度是：从起始位置向探测标尺杆长度方向移动平移检测台，分别间隔读取探测标尺杆显示的长度数据和磁感应读数头显示的长度数据、直至探测标尺杆的最长长度，计算二者相同间隔数据的误差，根据误差确定探测标尺杆的测量精度；校正结束。
12、方案进一步是：所述间隔读取是以磁栅尺作为长度读取标准，每间隔10mm或20mm跟随读取探测标尺杆显示的长度数据。
13、方案进一步是：所述方法进一步是：在磁栅尺基台侧壁上贴附设置有钢板尺，在所述平移检测台下端设置有对应钢板尺刻度的指针，每一次读数前首先目测对应钢板尺刻度的指针，用钢板尺的长度尺寸确定探测标尺杆显示的长度数据或磁感应读数头显示的长度数据范围是否正确。
14、方案进一步是：所述对校准框架进行水平校正是通过激光测距仪配合水平尺进行的水平校正，其中：框架上端面使用水平尺调平，框架上端面高度使用激光测距仪调水平。
15、本专利技术的有益效果是：在校正平台上基于阿贝原理设置磁栅尺作为长度读取标准校正设备和被检测校正探测标尺杆，提高了检测效率，还原真实检测数值。
16、下面结合附图和实施例对本专利技术作一详细描述。
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1.一种磁致液位计探测标尺杆长度校准装置，包括在水泥地基上设置的校准框架，被校准的液位计探测标尺杆水平放置在框架上，液位计浮子套在探测标尺杆上，其特征在于，所述校准框架两侧分别水平设置有导轨，两侧导轨相互平行，所述两侧导轨之间设置有磁栅尺基台，基台上平行于两侧导轨设置有磁栅尺，所述探测标尺杆定位在磁栅尺基台旁边平行于磁栅尺设置，横跨磁栅尺和探测标尺杆设置有一个平移检测台，平移检测台通过两个导轨滑块支撑在两侧导轨上，平移检测台下端贴近磁栅尺设置有磁感应读数头，所述液位计浮子通过挂板与平移检测台连接固定，水平移动平移检测台同时带动磁感应读数头沿磁栅尺移动、带动液位计浮子沿探测标尺杆移动，将磁栅尺作为长度校正基准，通过对读取的磁感应读数头在磁栅尺上移动的距离数据和探测标尺杆感应的浮子在探测标尺杆上移动的距离数据进行比对，实现对探测标尺杆的长度校准。
2.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校准装置，其特征在于，在磁栅尺基台侧壁上贴附设置有钢板尺，在所述平移检测台下端设置有对应钢板尺刻度的指针。
3.根据权利要求1所述的探测标尺杆的长度校准装置，其特征在于，所述磁栅
4.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校准装置，其特征在于，所述导轨是双轴心导轨，所述导轨滑块与双轴心导轨相配套。
5.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校准装置，其特征在于，所述磁栅尺基台由整根40mm方形铝型材经水平校准定位安放在校准框架上，在所述磁栅尺基台上表面纵向加工设置有凹槽，凹槽的宽度和深度与磁栅尺的宽度和厚度相等，所述磁栅尺粘贴在凹槽中，磁栅尺上表面与磁栅尺基台上表面平齐为一个平面。
6.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校准装置，其特征在于，校准框架是由40mm方形铝型材分段连接组成，所述两根导轨的长度是4.5米。
7.一种基于权利要求1所述磁致液位计探测标尺杆长度校准装置的校准方法，将校准框架置于25±0.5℃的恒温室中，对校准框架进行水平校正，其特征在于，所述方法包括校正起始位置确定和确定浮子沿探测标尺杆移动距离的读数精度：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述间隔读取是以磁栅尺作为长度读取标准，每间隔10mm或20mm跟随读取探测标尺杆显示的长度数据。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法进一步是：在磁栅尺基台侧壁上贴附设置有钢板尺，在所述平移检测台下端设置有对应钢板尺刻度的指针，每一次读数前首先目测对应钢板尺刻度的指针，用钢板尺的长度尺寸确定探测标尺杆显示的长度数据或磁感应读数头显示的长度数据范围是否正确。
10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述对校准框架进行水平校正是通过激光测距仪配合水平尺进行的水平校正，其中：框架上端面使用水平尺调平，框架上端面高度使用激光测距仪调水平。
...【技术特征摘要】
1.一种磁致液位计探测标尺杆长度校准装置，包括在水泥地基上设置的校准框架，被校准的液位计探测标尺杆水平放置在框架上，液位计浮子套在探测标尺杆上，其特征在于，所述校准框架两侧分别水平设置有导轨，两侧导轨相互平行，所述两侧导轨之间设置有磁栅尺基台，基台上平行于两侧导轨设置有磁栅尺，所述探测标尺杆定位在磁栅尺基台旁边平行于磁栅尺设置，横跨磁栅尺和探测标尺杆设置有一个平移检测台，平移检测台通过两个导轨滑块支撑在两侧导轨上，平移检测台下端贴近磁栅尺设置有磁感应读数头，所述液位计浮子通过挂板与平移检测台连接固定，水平移动平移检测台同时带动磁感应读数头沿磁栅尺移动、带动液位计浮子沿探测标尺杆移动，将磁栅尺作为长度校正基准，通过对读取的磁感应读数头在磁栅尺上移动的距离数据和探测标尺杆感应的浮子在探测标尺杆上移动的距离数据进行比对，实现对探测标尺杆的长度校准。
2.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校准装置，其特征在于，在磁栅尺基台侧壁上贴附设置有钢板尺，在所述平移检测台下端设置有对应钢板尺刻度的指针。
3.根据权利要求1所述的探测标尺杆的长度校准装置，其特征在于，所述磁栅尺和探测标尺杆中心轴线处于一个水平面，磁栅尺与探测标尺杆之间的水平距离是120mm。
4.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校准装置，其特征在于，所述导轨是双轴心导轨，所述导轨滑块与双轴心导轨相配套。
5.根据权利要求1所述的探测标尺杆长度校...
【专利技术属性】
技术研发人员：王月声，王子英，曹杰，
申请(专利权)人：北京菲舍波特科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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