一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统和方法技术方案

本发明专利技术提供了一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统，包括激光器、光分束器、发射器、检测台、第一反射器、第二反射器、探测器和信号处理器；激光器发射的激光经过光分束器分为两路，第一路输出的激光进入发射器后转变为太赫兹波，太赫兹波穿过待测样品并传输至第一反射器，经第一反射器反射后进入探测器；第二路输出的激光经第二反射器反射后进入探测器；第二路中输出的激光进入探测器后产生光生载流子，第一路中输出激光以太赫兹波形式进入探测器产生偏置电压，以使探测器中的光生载流子形成电流或电压，经信号处理器处理后，得到待测材料的电信号。本发明专利技术中的测试系统具有集成度高、测试精度高、成本低和测试结果可靠等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及太赫兹波段材料测试，特别涉及一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统和方法。

技术介绍

1、太赫兹波(thz)是一种介于微波和光波之间的电磁波，其同时具有微波的电子性和光波的光子性，因其具有穿透性强、使用安全性高(能量低)、方向性好和带宽高等优点，而被广泛应用在工业、农业、通讯、医疗、安检、军事等各个领域。

2、由于太赫兹波的产生手段有限，目前有关太赫兹波段材料特性的研究十分有限，当前主要采用thz时域光谱系统测试太赫兹波段材料的介电特性；然而，该系统搭建困难，并且存在设备体积较大和测试精度低的问题。

3、因此，基于上述问题，有必要提供一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统和方法。

技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种赫兹波段材料介电特性的测试系统和方法，能够解决相关技术中的太赫兹波段材料的介电特性的测试系统搭建困难，设备体积大和测试精度低的问题。

2、第一方面，本专利技术提供了一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统，包括激光器、光分束器、发射器、检测台、第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统，其特征在于，包括激光器、光分束器、发射器、检测台、第一反射器、第二反射器、探测器和信号处理器；其中：

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述激光器为红外光激光器，包括第一红外光激光器和第二红外光激光器；其中，所述第一红外光激光器和所述第二红外光激光器中发射激光的频率差为0.1～10THz。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括光混频器和光放大器；其中：

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述发射器为光混频型太赫兹发射器。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种太赫兹波段材料介电特性的测试系统，其特征在于，包括激光器、光分束器、发射器、检测台、第一反射器、第二反射器、探测器和信号处理器；其中：

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述激光器为红外光激光器，包括第一红外光激光器和第二红外光激光器；其中，所述第一红外光激光器和所述第二红外光激光器中发射激光的频率差为0.1～10thz。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括光混频器和光放大器；其中：

4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述发射器为光混频型太赫兹发射器。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦宗，白杨，杨景轩，冀元，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：