【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片封装，特别涉及一种陶瓷基板表面电路检测设备和视觉检测方法。
技术介绍
1、陶瓷基板以其优良的导热性和气密性，广泛应用于功率电子、电子封装、混合微电子与多芯片模块等领域。现阶段较普遍的陶瓷基板种类共有htcc、ltcc、dbc、dpc四种。
2、目前陶瓷基板表面电路检测常用人工在显微镜下检测，以满足不同客户的定制化需求，但是在陶瓷基板的微型化、高密度化、快速组装化、品种多样化发展特征下，检测信息量大而复杂，无论是在检测反馈实时性方面，还是在分析、诊断的正确性方面，人工检测存在检测效率慢，容易伤害质检员眼睛，检测精确度不高等缺点，无法快速高效的满足客户对检测品质的需求。
3、虽然当前市场上也存在一些陶瓷基板表面电路检测设备能够代替人眼对陶瓷基板表面电路进行检测，但是这些陶瓷基板表面电路检测设备普遍以中低端设备为主，只能进行2d检测，无法满足市场高端3d检测需求，同时检测设备的整体设计多非模块化布局，兼容不了2d和3d检测需求，无法快速高效的满足不同客户的定制化需求，因此陶瓷基板表面电路的高端3d检测仍然依赖人眼。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种陶瓷基板表面电路检测设备和视觉检测方法，旨在解决现有陶瓷基板表面电路检测设备兼容不了2d和3d检测需求，无法快速高效的满足不同客户的定制化需求的问题。
2、为解决上述问题，本专利技术提出了一种陶瓷基板表面电路检测设备，包括安装台和设于安装台上的三轴平移机构、输送线组件，所述三
3、所述检测光机包括3d光电传感器、测距传感器和2d相机。
4、在一实施例中，所述输送线组件包括：
5、一对平行间隔设置的线体，一对线体传动连接调距装置，通过调距装置调节两条线体的间距；
6、定位板，设于一对线体的上方，并与安装台固定相连；
7、定位装置，设于一对线体之间，当陶瓷基板在一对线体上移动至定位装置的正上方后，所述定位装置可顶升挡停陶瓷基板；
8、顶升装置，设于一对线体之间，且位于定位板的正下方，当陶瓷基板被定位装置挡停后，所述顶升装置可顶升陶瓷基板与定位板压接。
9、在一实施例中，所述输送线组件还包括光电传感器，数量至少有三个，其中一个设于一对线体的入口，用于检测陶瓷基板进入线体，另一个设于定位装置旁，用于检测陶瓷基板是否移动至定位装置的正上方，余下一个设于一对线体的出口，用于检测陶瓷基板离开线体。
10、在一实施例中，所述线体为带式输送机，所述带式输送机上设置有张紧组件和电机一，所述电机一用于驱动一对带式输送机工作。
11、在一实施例中，所述调距装置包括丝杆和与丝杆传动连接的电机二，所述丝杆与其中一条线体旋接连接，且该条线体与轨道滑动连接，所述丝杆与轨道平行，且均与线体垂直设置，所述电机二带动丝杆自转可驱动与丝杆旋接的线体在轨道上平移调节两条线体的间距。
12、此外，本专利技术还提出了一种视觉检测方法，包括：
13、控制所述输送线组件往检测位输送陶瓷基板，待陶瓷基板到达检测位后，将陶瓷基板固定；
14、控制三轴平移机构带动所述扫码装置和检测光机前往陶瓷基板，并对陶瓷基板进行扫码和拍摄；
15、扫码和拍摄信息均被传递给处理器，由处理器对扫码和拍摄信息进行分析处理，完成对陶瓷基板上的表面电路的视觉检测分析。
16、在一实施例中，所述视觉检测包括丢失元件、元件极性、贴装精度、元件标示、封装体缺陷、印刷缺陷、管脚缺陷的检测。
17、在一实施例中，所述处理器对拍摄信息进行分析处理的方法包括：
18、模板比较、边缘检查：视觉检测的光源由红、绿、蓝三种led灯组成，利用色彩的三基色原理来组合成不同的色彩，结合光学原理中的镜面反射、漫反射、斜面反射，将dbc上贴片元件及焊接状况以图像的方式显示出来；
19、灰度模型、特征提取、固态建模：将图像栅格化，分析各个像素颜色分布的位置坐标、成像栅格之间色彩过度关系、成像细节，然后列出若干个函数式，通过对相同面积大小的若干幅相似图片进行数据提取并分析计算，将计算结果按设定的权值关系及最初图像像素色彩、坐标进行还原，形成一个虚拟的、权值的数字图像，所述数字图像的数字信息包含了图像的图形轮廓、色彩的分布、允许变化的权值关系，设定需要选取的颜色的范围，计算所述数字图像中落入该颜色范围的图像颜色数占整个图像颜色数的比例，判断比例是否满足设定范围；
20、矢量分析：采用相似性原理，利用图像的明暗关系形成目标物的外形轮廓，比较该外形轮廓与标准轮廓的相像程度；
21、图形配对：将拍摄信息经过图像数字化处理后与标准图像进行运算比对，比对项目包括元件的尺寸、角度、偏移量、亮度、颜色及位置，并将比对结果超过额定误差阈值的图像通过显示器输出，并显示其在dbc上的具体位置；
22、根据二值化原理将目标图像转换为灰度图像，然后选取一定的亮度阈值进行图像处理，低于阈值的直接转换成黑色，高于阈值的直接转换成白色，使字符、i c短路直接从原图像中分离出来。
23、有益效果：本专利技术的陶瓷基板表面电路检测设备在自研视觉检测方法的加持下依靠检测光机对陶瓷基板表面电路进行视觉检测，检测光机具备2d与3d检测功能，兼容了2d和3d检测需求，检测光机在自研视觉检测方法的加持下能够根据不同陶瓷基板的特征在线不停机从2d相机检测模式自动切换成3d检测模式，实现一体化检测，快速高效的满足不同客户的定制化需求，而且2d检测与3d检测相对独立，互不干涉和影响，易于维护，成本低；
24、本专利技术的陶瓷基板表面电路检测设备在自研视觉检测方法的加持下，利用模板比较、边缘检查、灰度模型、特征提取、固态建模、矢量分析、图形配对和二值化原理等图像算法对检测光机采集的图像进行预处理去噪、影像增强、多重逻辑关系判定，从而获得准确的检测结果，有效代替人眼检测，检测效率、检测精准度高；
25、此外，本专利技术的陶瓷基板表面电路检测设备具有扫码装置，在检测光机对陶瓷基板表面电路进行视觉检测前，可通过扫码装置先对陶瓷基板进行扫码，实现表面电路检测信息可追溯至每一块陶瓷基板，有助于人工排查问题产品。
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1.一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，包括安装台和设于安装台上的三轴平移机构、输送线组件，所述三轴平移机构上设置有扫码装置和检测光机，所述输送线组件输送来陶瓷基板后，所述扫码装置和检测光机在三轴平移机构的带动下前往陶瓷基板，并对陶瓷基板进行扫码和拍摄，扫码和拍摄信息被传递给处理器，从而实现对陶瓷基板上的表面电路进行视觉检测分析；
2.如权利要求1所述的一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，所述输送线组件包括：
3.如权利要求2所述的一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，所述输送线组件还包括光电传感器，数量至少有三个，其中一个设于一对线体的入口，用于检测陶瓷基板进入线体，另一个设于定位装置旁，用于检测陶瓷基板是否移动至定位装置的正上方，余下一个设于一对线体的出口，用于检测陶瓷基板离开线体。
4.如权利要求2所述的一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，所述线体为带式输送机，所述带式输送机上设置有张紧组件和电机一，所述电机一用于驱动一对带式输送机工作。
5.如权利要求2所述的一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，所
6.一种视觉检测方法，其特征在于，包括：
7.如权利要求6所述的一种视觉检测方法，其特征在于，所述视觉检测包括丢失元件、元件极性、贴装精度、元件标示、封装体缺陷、印刷缺陷、管脚缺陷的检测。
8.如权利要求6所述的一种视觉检测方法，其特征在于，所述处理器对拍摄信息进行分析处理的方法包括：
...【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，包括安装台和设于安装台上的三轴平移机构、输送线组件，所述三轴平移机构上设置有扫码装置和检测光机，所述输送线组件输送来陶瓷基板后，所述扫码装置和检测光机在三轴平移机构的带动下前往陶瓷基板，并对陶瓷基板进行扫码和拍摄，扫码和拍摄信息被传递给处理器，从而实现对陶瓷基板上的表面电路进行视觉检测分析；
2.如权利要求1所述的一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，所述输送线组件包括：
3.如权利要求2所述的一种陶瓷基板表面电路检测设备，其特征在于，所述输送线组件还包括光电传感器，数量至少有三个，其中一个设于一对线体的入口，用于检测陶瓷基板进入线体，另一个设于定位装置旁，用于检测陶瓷基板是否移动至定位装置的正上方，余下一个设于一对线体的出口，用于检测陶瓷基板离开线体。
4.如权利要求2所...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈远明，叶双双，邓天桥，
申请(专利权)人：上海轩田工业设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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