电子元件检测治具制造技术

一种电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测。各所述电子元件包括元件主体及接脚部件。所述电子元件检测治具包含基座及探针组件。所述基座的顶面向下凹陷形成多个在纵向上排列且彼此连通的插槽。所述插槽的开口大小相异且分别对应尺寸不同的所述电子元件。所述探针组件穿设于所述基座且显露于所述插槽。其中，所述插槽的任一者能够供对应的所述电子元件的元件主体设置，使得所述探针组件能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。通过所述插槽的开口大小相异，能够让所述电子元件检测治具运用于尺寸不同的所述电子元件的任一者的插设，以便于进行电性检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电子元件检测治具，特别是涉及一种运用于电容寿命测试机的电子元件检测治具。

技术介绍

1、现有的电容寿命测试机会透过夹具将电容元件与检测装置电连接，以获取电容元件的运行数据。一般的夹具包括用于容置电容元件的容置空间，以及多个分别设置于所述容置空间的两相反侧的内壁的弹片。当电容元件被放置于所述容置空间，电容元件必须按压住弹片使弹片被推移至与检测装置碰触，才能让电容元件与检测装置导通。然而，一般的夹具的容置空间的尺寸是固定的，因此，一般的夹具通常只能运用于特定规格型号的电容元件，在使用上局限性较大。此外，在进行电容寿命测试时，电容元件会产生高温造成弹片损坏。

技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种便于使用且耐用的电子元件检测治具。

2、本技术电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测。各所述电子元件包括元件主体及接脚部件。所述电子元件检测治具包含基座及探针组件。

3、所述基座的顶面向下凹陷形成多个在纵向上排列且彼此连通的插槽。所述插槽的开口大小相异且分别对应尺寸不同的所述电子元件。

4、所述探针组件穿设于所述基座且显露于所述插槽。

5、其中，所述插槽的任一者能够供对应的所述电子元件的元件主体设置，使得所述探针组件能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。

6、本技术所述的电子元件检测治具，所述电子元件检测治具还包含底座及至少一个弹性件。所述底座间隔地设置于所述基座的下方。所述弹性件的两端分别设置于所述底座与所述基座。所述探针组件的一端穿设于所述底座。所述探针组件的另一端能够位移地穿设于所述基座且显露于所述插槽。其中，所述弹性件能够被压缩，使所述基座朝靠近所述底座的方向移动，进而让所述探针组件突出于所述插槽的长度增加而能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。

7、本技术所述的电子元件检测治具，还包含立壁及顶盖。所述立壁自所述基座向上延伸。所述顶盖枢接于所述立壁的顶部，并能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。

8、本技术所述的电子元件检测治具，所述顶盖包括枢接于所述立壁的顶部且与所述电子元件间隔的盖体，及连接于所述盖体的底面的隔热件。所述隔热件能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。

9、本技术所述的电子元件检测治具，各所述接脚部件具有两个接脚。所述探针组件包括至少两个探针。所述探针彼此间隔且竖立地穿设于所述基座。所述探针显露于所述插槽，并分别能够与相应的所述电子元件的接脚电连接。

10、本技术的有益效果在于：通过所述插槽的开口大小相异，能够让所述电子元件检测治具运用于尺寸不同的所述电子元件的任一者的插设，以便于进行电性检测。此外，通过所述隔热件设置于所述盖体与所述电子元件之间，能够让所述电子元件所产生的热能被所述隔热件阻隔，避免所述电子元件检测治具受热损坏，以达到耐用的效果。另外，通过所述弹性件让所述基座能够相对于所述探针组件移动，能够让所述探针组件突出于所述插槽的长度改变，进而运用于长度不同的所述接脚部件，通用性佳。

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【技术保护点】

1.一种电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测，各所述电子元件包括元件主体及接脚部件，其特征在于：所述电子元件检测治具包含：

2.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述电子元件检测治具还包含底座及至少一个弹性件，所述底座间隔地设置于所述基座的下方，所述弹性件的两端分别设置于所述底座与所述基座，所述探针组件的一端穿设于所述底座，所述探针组件的另一端能够位移地穿设于所述基座且显露于所述插槽，其中，所述弹性件能够被压缩，使所述基座朝靠近所述底座的方向移动，进而让所述探针组件突出于所述插槽的长度增加而能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。

3.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述电子元件检测治具还包含立壁及顶盖，所述立壁自所述基座向上延伸，所述顶盖枢接于所述立壁的顶部，并能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。

4.根据权利要求3所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述顶盖包括枢接于所述立壁的顶部且与所述电子元件间隔的盖体，及连接于所述盖体的底面的隔热件，所述隔热件能够压抵于相应的所述电子元件的元件主体的顶面。

5.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：各所述接脚部件具有两个接脚，所述探针组件包括至少两个探针，所述探针彼此间隔且竖立地穿设于所述基座，所述探针显露于所述插槽，并分别能够与相应的所述电子元件的接脚电连接。

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【技术特征摘要】

1.一种电子元件检测治具，适用于运用于多个尺寸不同的电子元件的任一者进行电性检测，各所述电子元件包括元件主体及接脚部件，其特征在于：所述电子元件检测治具包含：

2.根据权利要求1所述的电子元件检测治具，其特征在于：所述电子元件检测治具还包含底座及至少一个弹性件，所述底座间隔地设置于所述基座的下方，所述弹性件的两端分别设置于所述底座与所述基座，所述探针组件的一端穿设于所述底座，所述探针组件的另一端能够位移地穿设于所述基座且显露于所述插槽，其中，所述弹性件能够被压缩，使所述基座朝靠近所述底座的方向移动，进而让所述探针组件突出于所述插槽的长度增加而能够与相应的所述电子元件的接脚部件电连接。

3.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐德福，
申请(专利权)人：台湾电容器制造厂股份有限公司，
类型：新型
国别省市：