【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光纤通信，特别涉及一种接收光器件的性能测试方法。
技术介绍
1、光器件在出厂前都要进行性能测试，只有测试合格的产品才能发货。现有测试系统提供的光信号均是在理想条件下，对多通道接收光器件进行性能测试与评估，忽略了理想条件与真实条件之间的差异，无法真正评估在实际应用非理想环境中光器件性能是否满足要求，当客户使用的条件远离理想条件但又在协议标准范围内时，就不可避免出现光器件性能不合格，影响客户使用的情况。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种接收光器件的性能测试方法，使得通过本专利技术方法测试合格的产品，在实际使用中更能满足用户需求。
2、为了实现上述专利技术目的，本专利技术实施例提供了以下技术方案：
3、一种接收光器件的性能测试方法，所述接收光器件为单通道接收光器件，包括以下步骤：
4、s1，设置被测试接收光器件在理想条件、长波极限条件、短波极限条件下的波长分别为λ、λh、λl,其中λh=λ+△λ，λl=λ-△λ，△λ值由被测试接收光器件的标准协议确定，波长温度漂移系数为ɑ；
5、s2，分别在理想条件、长波极限条件和短波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，若任一条件下测试不合格，则结束测试，若所有条件下测试合格，则记录各条件下光源质量合格时对应的tec温度。
6、s2中，在理想条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
7、s2-1，向光源控制系统输入初始tec温度t0和调制电流
8、s2-2，从光源测量反馈系统读取当前光源波长λ0，并与λ比较，若两者之间差值的绝对值小于等于设定值，则表示光源质量合格，进入s2-4，反之则进入s2-3；
9、s2-3，由公式△t=（λ-λ0）/ɑ计算出温度补偿值，重新向光源控制系统写入新的tec温度ti=ti-1+△t,并返回s2-2，i为大于等于1的整数，表示温度补偿次数；
10、s2-4，光开关切换到衰减器端，同时根据测试光功率要求进行光功率衰减，启动接收器件性能测试系统进行性能测试，若测试不合格则结束测试，若测试合格则在长波极限条件或短波极限条件下继续测试。
11、s2中，在长波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
12、s2-5，根据(λh-λ0)/ɑ计算出tec温度补偿值△th，向光源控制系统写入长波极限条件下的tec温度th=t0+△th，调制电流保持imod不变；
13、s2-6，从光源测量反馈系统读取当前光源波长λh′，并与λh比较，若两者之间差值的绝对值小于等于设定值，则表示光源质量合格继而进入s2-8，反之则进入s2-7；
14、s2-7，由公式△th′=（λh-λh′ ）/ɑ计算出温度补偿值，重新向光源控制系统写入新的tec温度 thj′=th（j-1）+△th′,并返回s2-6，j为大于等于1的整数，表示温度补偿次数；
15、s2-8，光开关切换到衰减器端，同时根据测试光功率要求进行光功率衰减，启动接收器件性能测试系统进行性能测试，若测试不合格则结束测试，若测试合格则在短波极限条件下继续测试。
16、s2中，在短波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
17、s2-9，根据(λl-λ0)/ɑ计算出tec温度补偿值△tl，向光源控制系统写入短波极限条件下的tec温度tl=t0+△tl，调制电流保持imod不变；
18、s2-10，从光源测量反馈系统读取当前光源波长λl′，并与λl比较，若两者之间差值的绝对值小于等于设定值，则表示光源质量合格继而进入s2-12，反之则进入s2-11；
19、s2-11，由公式△tl′=（λl-λl′ ）/ɑ计算出温度补偿值，重新向光源控制系统写入新的tec温度 tlk′=tl（k-1）+△tl′,并返回s2-10，k为大于等于1的整数，表示温度补偿次数；
20、s2-12，光开关切换到衰减器端，同时根据测试光功率要求进行光功率衰减，启动接收器件性能测试系统进行性能测试，若测试不合格则结束测试，若测试合格则表示被测试光器件性能合格。
21、一种接收光器件的性能测试方法，所述接收光器件为多通道接收光器件，包括以下步骤：
22、s10，设置被测试接收光器件的各通道在理想条件、长波极限条件、短波极限条件下的波长分别为λn、λhn、λln，其中λhn=λn+△λ，λln=λn-△λ，△λ值由被测试接收光器件的标准协议确定，波长温度漂移系数为ɑ；λn为第n个通道的理想中心波长，n为大于1的整数；
23、s20，针对被测试接收光器件的其中任意一个通道，分别在理想条件、长波极限条件和短波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，若任一条件下测试不合格，则结束测试，若所有条件下测试合格，则记录各条件下光源质量合格时对应的tec温度；
24、s30，按照s20的相同处理方式，依次对被测试光器件的所有通道进行测试，若任一通道测试不合格，则结束测试，若所有通道都测试合格，则进入s40；
25、s40，分别在理想条件、长波极限条件和短波极限条件下，对被测试接收光器件的所有通道同时进行性能测试，若测试不合格则结束测试，若测试合格则表示被测试光器件性能合格。
26、，s20中，在理想条件下，对被测试接收光器件的第n个通道进行性能测试，包括：
27、s20-1，向光源控制系统输入初始tec温度t0和调制电流imod ,打开光模块的通道输出光源；
28、s20-2，从光源测量反馈系统读取当前光源波长λ0，并与λn比较，若两者之间差值的绝对值小于等于设定值，则表示光源质量合格，进入s20-4，反之则进入s20-3；
29、s20-3，由公式△t=（λn-λ0）/ɑ计算出温度补偿值，重新向光源控制系统写入新的tec温度ti=ti-1+△t,并返回s20-2，i为大于等于1的整数，表示温度补偿次数；
30、s20-4，光开关切换到衰减器端，同时根据测试光功率要求进行光功率衰减，启动接收器件性能测试系统进行性能测试，若测试不合格则结束测试，若测试合格则在长波极限条件或短波极限条件下继续测试。
31、s20中，在长波极限条件下，对被测试接收光器件的第n个通道进行性能测试，包括：
32、s20-5，根据(λhn-λ0)/ɑ计算出tec温度补偿值△th，向光源控制系统写入长波极限条件下的tec温度th=t0+△th，调制电流保持imod不变；
33、s20-6，从光源测量反馈系统读取当前光源波长λhn′，并与λhn比较，若两者之间差值的绝对值小于等于设定值，则表示光源质量合格继而进入s20-8，反之则进入s20-7；
34、s20-7，由公式△th′=（λhn-λhn′ ）/ɑ计算出温度补偿值，重新向光源本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种接收光器件的性能测试方法，所述接收光器件为单通道接收光器件，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，S2中，在理想条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
3.根据权利要求2所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，S2中，在长波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
4.根据权利要求3所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，S2中，在短波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
5.一种接收光器件的性能测试方法，所述接收光器件为多通道接收光器件，其特征在于，包括以下步骤：
6.根据权利要求5所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，S20中，在理想条件下，对被测试接收光器件的第n个通道进行性能测试，包括：
7.根据权利要求6所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，S20中，在长波极限条件下，对被测试接收光器件的第n个通道进行性能测试，包括：
8.根据权利要求7所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在
9.根据权利要求8所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，所述S40具体包括：
...【技术特征摘要】
1.一种接收光器件的性能测试方法，所述接收光器件为单通道接收光器件，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，s2中，在理想条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
3.根据权利要求2所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，s2中，在长波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
4.根据权利要求3所述的接收光器件的性能测试方法，其特征在于，s2中，在短波极限条件下，对被测试接收光器件进行性能测试，包括：
5.一种接收光器件的性能测试方法，所述接收光器件为多通道接收光...
【专利技术属性】
技术研发人员：聂岸飞，许远忠，张强，王东，
申请(专利权)人：成都光创联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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