一种基于UVM的芯片验证测试方法、系统及电子设备技术方案

技术编号：40006511 阅读：32 留言：0更新日期：2024-01-09 05:14

本发明专利技术公开了一种基于UVM的芯片验证测试方法、系统及电子设备，属于芯片验证技术领域，包括，步骤S1，在UVM验证环境中添加存储器模型，生成UVM_MEM模型；步骤S2，重载UVM_MEM模型中的uvm_reg_frontdoor和uvm_reg_backdoor类；以及，步骤S3，重写重载的类中的body函数，形成自建body函数。本发明专利技术通过在UVM验证环境中的UVM_MEM模型的基础上封装一层公共的表项配置方式，使得在对不同芯片的存储器进行验证测试时，面对不同规格和类型的表项都能适配，减少模块级验证人员需维护的配置表项代码量，提高了验证测试的效率，提高了复用性及可移植性。

全部详细技术资料下载

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片验证，且特别是有关于一种基于uvm的芯片验证测试方法、系统及电子设备。

技术介绍

1、随着集成电子电路技术的发展，电子设备趋于体积小型化、功能多样化，电子设备上往往集成有多个芯片，电子设备通过集成的这些芯片实现各种功能。为了确保各芯片中寄存器的正常运行，需要对芯片进行验证。例如，在交换机芯片中，经常会涉及到二层数据交互和三层路由等功能，实现这些功能的协议处理都需要借由对相应的表项进行查找匹配来完成，特别的对于某些协议处理十分复杂的交换机芯片，所需要进行查找匹配的表项的数量也是非常庞大的。在对交换机芯片进行验证时，需要配置不同协议表项上的数据，以达到验证交换机芯片功能正确性的目的。验证中，芯片内部表项是通过寄存器间接访问的，配置一张表项的数据就需要配置若干个寄存器，配置寄存器次数会随着表项容量而增加。

2、当面对较多不同规格的表项时，以往的方法中，配置表项的工作一般交由各个模块级（即block test）验证人员来完成，但这样的方式会导致各个模块级验证人员各自维护自己负责的配置表项代码，但由于各个模块级验证人员之间缺少可公共维护的配置表项代码，彼此间的代码无法复用，因而无形中增加了模块级验证人员的工作量，维护性差。另外，常规的配置表项方式的可移植性不高，难以适配不同的验证项目，仅能实现基于一个项目配置一套配置表项代码的逻辑。因此，需要一种方法解决代码复用及可移植性的问题。

技术实现思路

1、本专利技术旨在提供一种基于uvm的芯片验证测试方法、系统及电子设

2、为达到上述目的，本专利技术技术方案是：

3、一种基于uvm的芯片验证测试方法，包括，步骤s1，在uvm验证环境中添加存储器模型，生成uvm_mem模型；步骤s2，重载uvm_mem模型中的uvm_reg_frontdoor和uvm_reg_backdoor类；以及，步骤s3，重写uvm_reg_frontdoor和uvm_reg_backdoor类中的body函数，形成自建body函数。

4、上述基于uvm的芯片验证测试方法中，所述步骤s3中重写后的body函数的具体执行步骤包括，步骤s31，识别表项类型；步骤s32，依据识别出的表项类型，获取表项规格、表项配置方式、以及表项组成结构需要配置数据的次数；步骤s33，依据表项规格、表项配置方式、以及表项组成结构需要配置数据的次数，结合验证对象的设计方案，配置表项激励组成并下发；以及步骤s34，进行错误检查，并上报检测结果。

5、上述基于uvm的芯片验证测试方法中，所述表项类型包括，线性表、tcam、以及hash表。

6、上述基于uvm的芯片验证测试方法中，所述表项规格包括，表深、以及表宽。

7、上述基于uvm的芯片验证测试方法中，所述表项配置方式包括，寄存器间接访问、以及可寻址访问。

8、一种基于uvm的芯片验证测试系统，使用上述的基于uvm的芯片验证测试方法。

9、一种基于uvm的芯片验证测试系统，使用上述的基于uvm的芯片验证测试方法。

10、有益效果，本专利技术提出的一种基于uvm的芯片验证测试方法、系统及电子设备，通过在uvm验证环境中的uvm_mem模型的基础上封装一层公共的表项配置方式，使得在对不同芯片的存储器进行验证测试时，面对不同规格和类型的表项都能适配，减少模块级验证人员需维护的配置表项代码量，提高了验证测试的效率，提高了复用性及可移植性。

11、为让专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于UVM的芯片验证测试方法，其特征在于，包括，

2.如权利要求1所述一种基于UVM的芯片验证测试方法，其特征在于，所述步骤S3中重写后的body函数的具体执行步骤包括，

3.如权利要求2所述一种基于UVM的芯片验证测试方法，其特征在于，所述表项类型包括，线性表、TCAM、以及Hash表。

4.如权利要求2所述一种基于UVM的芯片验证测试方法，其特征在于，所述表项规格包括，表深、以及表宽。

5.如权利要求2所述一种基于UVM的芯片验证测试方法，其特征在于，所述表项配置方式包括，寄存器间接访问、以及可寻址访问。

6.一种基于UVM的芯片验证测试系统，其特征在于，包括如权利要求1-5中任一项所述的基于UVM的芯片验证测试方法。

7.一种基于UVM的芯片验证测试电子设备，其特征在于，包括如权利要求1-5中任一项所述的基于UVM的芯片验证测试方法。

【技术特征摘要】

1.一种基于uvm的芯片验证测试方法，其特征在于，包括，

2.如权利要求1所述一种基于uvm的芯片验证测试方法，其特征在于，所述步骤s3中重写后的body函数的具体执行步骤包括，

3.如权利要求2所述一种基于uvm的芯片验证测试方法，其特征在于，所述表项类型包括，线性表、tcam、以及hash表。

4.如权利要求2所述一种基于uvm的芯片验证测试方法，其特征在于，所述表项规格包...

【专利技术属性】
技术研发人员：李浩强，杨清，刘宁，付佳成，何昌吕，
申请(专利权)人：深圳市楠菲微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载我是这个专利的主人