一种多相机工业摄影测量系统校准方法技术方案

技术编号:40003017 阅读:21 留言:0更新日期:2024-01-09 04:11
本发明专利技术提供了一种多相机工业摄影测量系统校准方法,涉及摄影测量校准技术领域,其目标是可以实现精度校准,同时简化校准的场地布置需求以扩宽校准方法的应用场景,包括以下步骤:设置校准装置,校准装置包括激光跟踪仪和标准器,标准器为三维结构;在标准器上设置多个按一定方式排列的反光标识点,并对反光标识点的位置进行标定;在标准器上设置固定靶标座或特征形状部件;改变标准器的位置和位姿,对标准器上的位置、反光标识点及特征形状进行测量;通过校准装置计算多相机工业摄影测量系统或相机阵列的测量值与参考值之间的误差;通过反光标识点验证坐标测量精度。本发明专利技术具有准确进行精度校准且应用场景广的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及摄影测量校准,具体而言,涉及一种多相机工业摄影测量系统校准方法


技术介绍

1、多相机工业摄影测量系统或相机阵列由2台及以上的工业测量相机、定向尺、标准尺、测量笔、靶标、解算软件和控制器等单元组成。工业测量相机是系统的核心传感器,其结构稳定,系统畸变已知。

2、在测量开始前,需要采用定向尺、标准尺或控制场对测量场内架设的两台工业测量相机进行定向,从而精确确定两台相机之间相对的位置和姿态。测量过程中,表面布设有靶标的被测物体需要同时在两台工业测量相机上成像,经过图像处理、同名像点匹配和三角形交会原理,实时解算出靶标在物方坐标系下的空间三维坐标,从而达到对动/静态物体实时测量的目的。由于多相机工业摄影测量系统或相机阵列具有非接触测量、瞬时测量、数字化等特点,目前已在国防军工、重大装备等多领域得到了大量应用,因此其校准需求也应运而生。目前,国家还没有计量检定规程或者计量校准规范对多相机工业摄影测量系统或相机阵列的校准方法进行规定。通常情况下,厂家会参考单相机工业摄影测量系统的校准方法,即gb/t34890-2017《产品几何技术规范(g本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,所述标准器的材质为陶瓷或大理石或碳纤维复合材料或铟钢。

3.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,多个所述反光标识点的排列方式为:多个所述反光标识点排列呈二维或三维,且排列呈现为具备几何特征的形状。

4.根据权利要求3所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,所述反光标识点为边缘整齐的圆形,制作材料包括玻璃微珠。

5.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影测量系...

【技术特征摘要】

1.一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,所述标准器的材质为陶瓷或大理石或碳纤维复合材料或铟钢。

3.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,多个所述反光标识点的排列方式为:多个所述反光标识点排列呈二维或三维,且排列呈现为具备几何特征的形状。

4.根据权利要求3所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,所述反光标识点为边缘整齐的圆形,制作材料包括玻璃微珠。

5.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影测量系统校准方法,其特征在于,所述特征形状部件采用半球状部件或圆柱状部件或圆锥状部件或多面体状部件。

6.根据权利要求1所述的一种多相机工业摄影...

【专利技术属性】
技术研发人员:唐琴琼邓育红李建勤汪威肖钞
申请(专利权)人:四川省产业计量测试研究院
类型:发明
国别省市:

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